专利摘要
一种时间同步设备IRIG-B码容错功能智能测试系统与方法，系统包括运行测试分析管理程序的管理机、通过通讯链路连接管理机实现程控的IRIG-B码测试设备，其特征在于：设有智能时间频率信号切换器，管理机的程控通过运行于管理机中的测试分析管理程序实现，由智能时间频率信号切换器进行程控切换，用于测试IRIG-B码的精度识别功能、IRIG-B码的闰秒处理功能，以及IRIG-B码的闰年处理功能。可以在无须人工干预的情况下，简便而有效地对时间同步设备IRIG-B码容错功能和性能进行有效的智能化测试，切实提高时间同步设备复杂业务功能和性能测试的智能化水平。测试性能更加准确，测试效率更高，测试时间大大缩短。
说明书
技术领域
本发明涉及时间同步与时间频率测试，特别是涉及一种时间同步设备IRIG-B码容错功能的智能测试系统与方法。
背景技术
现有时间频率测试设备只能对某种单一的时间频率信号进行性能测试，不能对时间同步设备复杂业务性能和功能的进行包括信号冗余测试在内的综合测试。国际靶场仪器组(Inter Range Instrumentation Group，缩略词为IRIG)-B时间码(以下简称IRIG-B码)容错测试是用户通过由通讯链路建立通讯连接的测试分析管理软件向IRIG-B码测试设备下达IRIG-B码容错测试测试任务，控制IRIG-B码测试设备输出不同精度的IRIG-B码、带有闰秒标志的IRIG-B码以及闰年IRIG-B码，由智能时间频率信号切换器转接后，作为被测试的时间同步设备的输入信号，再受控测试被测试的时间同步设备对不同精度的IRIG-B码的识别功能，以及对IRIG-B码的闰秒处理功能和闰年处理功能，包括测试数据采集与存储，以及测试过程记录，以便对测试数据进行管理和分析。但是，至今尚未见有对时间同步设备的IRIG-B码上述容错功能进行智能化测试的系统与方法。
发明内容
本发明所要解决的一个技术问题是弥补上述现有技术的缺陷，提供一种时间同步设备时间IRIG-B码容错功能智能测试系统。
本发明所要解决的另一个技术问题是弥补上述现有技术的缺陷，提供一种时间同步设备IRIG-B码容错功能智能测试方法，包括时间同步设备IRIG-B码精度识别功能智能测试方法、时间同步设备IRIG-B码闰秒处理功能智能测试方法，以及时间同步设备IRIG-B码闰年处理功能智能测试方法。
本发明的时间同步设备IRIG-B码容错功能智能测试系统技术问题通过以下技术方案予以解决。
这种时间同步设备IRIG-B码容错功能智能测试系统，包括运行测试分析管理程序的管理机，以及通过通讯链路连接管理机实现程控的IRIG-B码测试设备。
这种时间同步设备IRIG-B码容错功能智能测试系统的特点是：
设有智能时间频率信号切换器，所述智能时间频率信号切换器通过通讯链路与所述管理机连接，还分别与所述IRIG-B码测试设备，以及被测试的时间同步设备连接。
所述管理机的程控通过运行于管理机中的测试分析管理程序实现。
由所述智能时间频率信号切换器分别进行如下的程控切换：
将所述被测试的时间同步设备输出的被测试IRIG-B码程控切换至所述IRIG-B码测试设备，用于测试IRIG-B码的精度识别功能、IRIG-B码的闰秒处理功能，以及IRIG-B码的闰年处理功能。
本发明的时间同步设备IRIG-B码容错功能智能化测试系统技术问题通过以下进一步的技术方案予以解决。
所述管理机是PC机。
所述IRIG-B码测试设备是型号为GCT2000的双星型高精度时间频率测试仪。
所述智能时间频率信号切换器，包括微处理器模块、程序控制端与微处理器模块的输出端通过程序控制总线连接的IRIG-B码模块、通过通讯链路与管理机实现通讯连接的通讯控制模块，以及与上述模块分别连接提供工作电源的电源模块，所述IRIG-B码模块的输入端与所述IRIG-B码测试设备的标准IRIG-B码输出端连接，所述IRIG-B码模块的输出端与所述智能时间频率信号切换器的被测试信号输出端连接，用于IRIG-B码信号扩展、接口兼容和程序控制切换。
所述被测试的时间同步设备设有接收外部IRIG-B码的输入接口，以及输出IRIG-B码的输出接口。
本发明的时间同步设备IRIG-B码容错功能智能化测试系统技术问题通过以下再进一步的技术方案予以解决。
所述智能时间频率信号切换器的微处理器模块通过置位MCU的GPIO口电平，控制相关的程序控制继电器切换以及程序控制射频开关通断，实现IRIG-B码的控制管理功能。
所述智能时间频率信号切换器的IRIG-B码模块包括：
有四路输出的第一扩展模块，所述第一扩展模块的输入端与所述IRIG-B码测试设备的标准IRIG-B码输出电路连接；
依次连接的第一两路程序控制继电器、TTL/485信号转化模块，所述第一两路程序控制继电器的两路输入端分别与所述第一扩展模块的两路输出端连接，所述TTL/485信号转化模块的两路输出端分别为由所述微处理器模块程序控制的两路电信号接口TTL/485可配B码标准源的输出端，B码可设置为TTL或RS-485电气类型；
依次连接的第二两路程序控制继电器、电光转换模块，所述第二两路程序控制继电器的两路输入端分别与所述第一扩展模块的两路输出端连接，所述电光转换模块的两路输出端分别为由所述微处理器模块程序控制的两路光信号接口B码标准源的输出端；
依次连接的第一光电转换模块、第三两路程序控制继电器，所述第一光电转换模块的输入端与被测试IRIG-B码的光信号接口输出电路连接，所述第一光电转换模块的输出端与所述第三两路程序控制继电器的一路输入端连接，所述第三两路程序控制继电器的另一路输入端直接与被测试的时间同步设备的被测试IRIG-B码的电信号接口输出电路连接，所述第三两路程序控制继电器的输出端为由所述微处理器模块程序控制的一路被测试信号输出端即B码电信号接口的输出端。
本发明的时间同步设备IRIG-B码容错功能智能化测试方法技术问题通过以下三种技术方案予以解决。
一种采用上述时间同步设备IRIG-B码容错功能智能化测试系统的时间同步设备IRIG-B码精度识别功能智能测试方法，所述智能化测试系统中的管理机运行测试分析管理程序，分别通过通讯链路程控智能时间频率信号切换器和IRIG-B码测试设备。
一种采用上述时间同步设备IRIG-B码容错功能智能化测试系统的时间同步设备IRIG-B码精度识别功能智能测试方法的特点是：
依次有以下子步骤：
1)由测试分析管理程序对IRIG-B码测试设备进行自动配置，由IRIG-B码测试设备输出符合测试要求的最高精确度为0x00的IRIG-B码至智能时间频率信号切换器，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至被测试的时间同步设备作为其测试参考信号；
2)被测试的时间同步设备对所述测试参考信号进行解析处理，调整内部时钟，同步输出相应的IRIG-B码，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至IRIG-B码测试设备作为被测试信号；
3)IRIG-B码测试设备持续对所述被测试的时间同步设备每秒钟输出的所述被测试信号进行接收和解读测试，测试数据由管理机运行测试分析管理程序同步实时自动采集与存储，历时至少2分钟；
4)由测试分析管理程序对IRIG-B码测试设备进行自动配置，由IRIG-B码测试设备输出符合测试要求的最劣精确度为0x0F的IRIG-B码至智能时间频率信号切换器，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至被测试的时间同步设备作为其测试参考信号；
5)被测试的时间同步设备对所述测试参考信号进行解析处理，不再调整内部时钟，进入到自身守时状态，输出相应的IRIG-B码，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至IRIG-B码测试设备作为被测试信号，同时由管理机自动调整IRIG-B码测试设备的IRIG-B码输出时间超前其当前时间至少4分钟，用于识别被测试的时间同步设备是否进入自身守时状态；
6)IRIG-B码测试设备持续对所述被测试的时间同步设备每秒钟输出的所述被测试信号进行接收和解读测试，测试数据由管理机运行测试分析管理程序同步实时自动采集与存储，历时至少2分钟；
7)由测试分析管理程序对IRIG-B码测试设备进行自动配置，由IRIG-B测试设备输出符合测试要求的最高精确度为0x00的IRIG-B码至智能时间频率信号切换器，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至被测试的时间同步设备作为其测试参考信号；
8)被测试的时间同步设备对所述测试参考信号进行解析处理，输出相应的IRIG-B码，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至IRIG-B码测试设备作为被测试信号，同时由管理机自动调整IRIG-B码测试设备的IRIG-B码输出时间滞后其当前时间至少4分钟，用于对步骤5)中对IRIG-B码测试设备的调整超前的时间进行恢复，保持正常走时；
9)IRIG-B码测试设备持续对所述被测试的时间同步设备每秒钟输出的所述被测试信号进行接收和解读测试，测试数据由管理机运行测试分析管理程序同步实时自动采集与存储，历时至少2分钟后，数据采集与存储过程结束；
10)数据浏览与分析
所述数据浏览与分析由测试人员通过测试分析管理程序对存储在管理机中的采集数据进行浏览和分析，分析内容包括分析被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码在测试开始的第5分钟是否有超前5分钟的跨度，如果发现被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码时间在测试开始的第5分钟有超前5分钟的跨度，则说明被测试的时间同步设备对输入的IRIG-B精度识别功能有误，如果发现被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码时间在测试开始的第5分钟未有超前5分钟的跨度，则说明被测试的时间同步设备对输入的IRIG-B精度识别功能正常，达到相应的测试目的，最终完成整个测试过程。
一种采用上述时间同步设备IRIG-B码容错功能智能化测试系统的时间同步设备IRIG-B码闰秒处理功能智能测试方法，所述智能化测试系统中的管理机运行测试分析管理程序，分别通过通讯链路程控智能时间频率信号切换器和IRIG-B码测试设备。
一种采用上述时间同步设备IRIG-B码容错功能智能化测试系统的时间同步设备IRIG-B码闰秒处理功能智能测试方法的特点是：
依次有以下子步骤：
1)由测试分析管理程序对IRIG-B码测试设备进行自动配置，由IRIG-B码测试设备在下一分钟第10秒输出带有正闰秒预告的IRIG-B码至智能时间频率信号切换器，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至被测试的时间同步设备作为其测试参考信号；
2)被测试的时间同步设备对所述测试参考信号进行解析处理，同步输出相应的IRIG-B码，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至IRIG-B码测试设备作为被测试信号；
3)IRIG-B码测试设备持续对所述被测试的时间同步设备每秒钟输出的所述被测试信号进行接收和解读测试，测试数据由管理机运行测试分析管理程序同步实时自动采集与存储，历时至少3分钟，用于分析被测试的时间同步设备是否对闰秒预告进行了识别，是否正确输出了被测试信号，是否进行了正确的闰秒处理，以及在闰秒处理结束后是否正常输出了被测试信号；
4)由测试分析管理程序对IRIG-B码测试设备进行自动配置，由IRIG-B码测试设备在下一分钟第10秒输出带有负闰秒预告的IRIG-B码至智能时间频率信号切换器，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至被测试的时间同步设备作为其测试参考信号；
5)被测试的时间同步设备对所述测试参考信号进行解析处理，同步输出相应的IRIG-B码，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至IRIG-B码测试设备作为被测试信号；
6)IRIG-B码测试设备持续对所述被测试的时间同步设备每秒钟输出的所述被测试信号进行接收和解读测试，测试数据由管理机运行测试分析管理程序同步实时自动采集与存储，历时至少3分钟，用于分析被测试的时间同步设备是否对闰秒预告进行了识别，是否正确输出了被测试信号，是否进行了正确的闰秒处理，以及在闰秒处理结束后是否正常输出了被测试信号；
7)数据浏览与分析
所述数据浏览与分析由测试人员通过测试分析管理程序对存储在管理机中的采集数据进行浏览和分析，分析内容包括分析被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码是否具有正、负闰秒预告，且输出时间是否符合正、负闰秒的处理规则，如果发现被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码不具有正、负闰秒预告，且输出时间不符合正、负闰秒的处理规则，则说明被测试的时间同步设备对输入的IRIG-B码的闰秒处理功能有误，如果发现被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码具有正、负闰秒预告，且输出时间符合正、负闰秒的处理规则，则说明被测试的时间同步设备对输入的IRIG-B码的闰秒处理功能正常，达到相应的测试目的，最终完成整个测试过程。
一种采用上述时间同步设备IRIG-B码容错功能智能化测试系统的时间同步设备IRIG-B码闰年处理功能智能测试方法，所述智能化测试系统中的管理机运行测试分析管理程序，分别通过通讯链路程控智能时间频率信号切换器和IRIG-B码测试设备。
一种采用上述时间同步设备IRIG-B码容错功能智能化测试系统的时间同步设备IRIG-B码闰年处理功能智能测试方法的特点是：
依次有以下子步骤：
1)由测试分析管理程序对IRIG-B码测试设备进行自动配置，由IRIG-B码测试设备输出其当前时间为某一闰年的2月28日11时58分30秒的IRIG-B码至智能时间频率信号切换器，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至被测试的时间同步设备作为其测试参考信号；
2)被测试的时间同步设备对所述测试参考信号进行解析处理，同步输出相应的IRIG-B码，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至IRIG-B码测试设备作为被测试信号，30秒后，由管理机自动控制智能时间频率信号切换器断开输入到被测试的时间同步设备的IRIG-B码；
3)IRIG-B码测试设备持续对所述被测试的时间同步设备每秒钟输出的所述被测试信号进行接收和解读测试，完整记录和分析被测试的时间同步设备从2月28日11时59分59秒向2月29日0时0分0秒的过渡过程是否正确，在闰年处理结束后是否正常输出了被测试信号，测试数据由管理机运行测试分析管理程序同步实时自动采集与存储，历时至少3分钟后，数据采集与存储过程结束；
4)数据浏览与分析
所述数据浏览与分析由测试人员通过测试分析管理程序对存储在管理机中的采集数据进行浏览和分析，分析内容包括分析被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码是否是由某闰年的2月28日11时59分59秒进入到某闰年的2月29日0时0分0秒，如果发现被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码不是由某闰年的2月28日11时59分59秒进入到某闰年的2月29日0时0分0秒，则说明被测试的时间同步设备对输入的IRIG-B码的闰年处理功能有误，如果发现被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码是由某闰年的2月28日11时59分59秒进入到某闰年的2月29日0时0分0秒，则说明被测试的时间同步设备对输入的IRIG-B码的闰年处理功能正常，达到相应的测试目的，最终完成整个测试过程。
本发明与现有技术相比的有益效果是：
通过运行于管理机中的测试分析管理程序对IRIG-B码测试设备、智能时间频率信号切换器进行程控，使各受控设备之间有机协作，可以在无须人工干预的情况下，简便而有效地对时间同步设备IRIG-B码容错功能和性能进行有效的智能化测试，切实提高时间同步设备复杂业务功能和性能测试的智能化水平，测试性能更加准确，测试效率更高，测试时间大大缩短，实现了测试过程智能化、标准化，信号切换、数据采集、解析、计算、统计、存储自动化，采用数据库技术进行系统信息及测试数据的综合管理，数据管理专业化，数据检索和分析极为方便。可大大节约测试的人力成本，最大化的减小了手动测试引起的误差。测试完成后，可根据测试数据生成测试报告，方便对被测试设备的时间频率业务性能和功能进行客观评估，可以广泛应用于电力、电信等领域的时间同步设备IRIG-B码容错功能和性能测试与分析。
附图说明
图1是本发明具体实施方式的测试系统组成方框图；
图2是图1中的智能时间频率信号切换器的组成方框图；
图3是图2中的IRIG-B码模块的组成方框图。
具体实施方式
下面结合具体实施方式并对照附图对本发明进行说明。
一种如图1～3所示的时间同步设备IRIG-B码容错功能智能化测试系统，包括运行测试分析管理程序2的管理机1、通过通讯链路6连接管理机1实现程控的IRIG-B码测试设备4。
设有智能时间频率信号切换器3，其通过通讯链路6与管理机1连接，还分别与IRIG-B码测试设备4，以及被测试的时间同步设备5连接，管理机1的程控通过运行于管理机1中的测试分析管理程序2实现，由智能时间频率信号切换器3分别进行如下的程控切换：
将被测试的时间同步设备5输出的被测试IRIG-B码程控切换至IRIG-B码测试设备4，用于测试IRIG-B码的精度识别功能、IRIG-B码的闰秒处理功能，以及IRIG-B码的闰年处理功能。
管理机1是PC机。
IRIG-B码测试设备4是型号为GCT2000的双星型高精度时间频率测试仪。
智能时间频率信号切换器3包括型号为LM3S6911的微处理器模块12、程序控制端与微处理器模块12的输出端通过程序控制总线11连接的IRIG-B码模块15、通过通讯链路6与管理机1实现通讯连接的采用型号为LM3S6911的微控制器芯片和型号为HR911105A的RJ45的通讯控制模块16，以及与上述模块分别连接提供工作电源的采用型号为LM1117MPX-2.5和LT1085CM3.3的电源芯片的电源模块13，IRIG-B码模块15的输入端与IRIG-B码测试设备4的标准IRIG-B码输出端连接，IRIG-B码模块15的输出端与智能时间频率信号切换器3的被测试信号输出端连接。智能时间频率信号切换器3还包括GPS/北斗天线信号模块14、1PPS时标脉冲模块17和10MHz频率信号模块10。
被测试的时间同步设备5设有接收外部IRIG-B码的时间输入接口，以及输出IRIG-B码的输出接口。
智能时间频率信号切换器3的IRIG-B码模块15用于IRIG-B码信号扩展、接口兼容和程序控制切换，其包括：
有四路输出的型号为74ACT04的第一扩展模块18，第一扩展模块18的输入端与标准IRIG-B码输出电路连接；
依次连接的型号为TQ2SA-5V的第一两路程序控制继电器22、采用型号为75LBC176的TTL/485信号转化模块19，第一两路程序控制继电器22的两路输入端分别与第一扩展模块18的两路输出端连接，TTL/485信号转化模块19的两路输出端分别为由微处理器模块12程序控制的两路电信号接口TTL/485可配B码标准源的输出端，B码可设置为TTL或RS-485电气类型；
依次连接的型号为TQ2SA-5V的第二两路程序控制继电器23、采用型号为HFBR-1414TZ的光纤收发器和型号为74ACTQ00的逻辑门芯片的电光转换模块20，第二两路程序控制继电器23的两路输入端分别与第一扩展模块18的两路输出端连接，电光转换模块20的两路输出端分别为由微处理器模块12程序控制的两路光信号接口B码标准源的输出端；
依次连接的采用型号为HFBR2416TZ的光纤收发器和型号为LT1016CSB的逻辑门芯片的第一光电转换模块21、型号为TQ2SA-5V的第三两路程序控制继电器24，第一光电转换模块21的输入端与被测试IRIG-B码的光信号接口输出电路连接，第一光电转换模块21的输出端与第三两路程序控制继电器24的一路输入端连接，第三两路程序控制继电器24的另一路输入端直接与被测试IRIG-B码的电信号接口输出电路连接，第三两路程序控制继电器24的输出端为由微处理器模块12程序控制的一路被测试信号输出端即B码电信号接口的输出端。
采用本具体实施方式的智能化测试系统测试时间同步设备IRIG-B码精度识别功能，依次有以下子步骤：
1)由测试分析管理程序对IRIG-B码测试设备进行自动配置，由IRIG-B码测试设备输出符合测试要求的最高精确度为0x00的IRIG-B码至智能时间频率信号切换器，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至被测试的时间同步设备作为其测试参考信号；
2)被测试的时间同步设备对所述测试参考信号进行解析处理，调整内部时钟，同步输出相应的IRIG-B码，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至IRIG-B码测试设备作为被测试信号；
3)IRIG-B码测试设备持续对所述被测试的时间同步设备每秒钟输出的所述被测试信号进行接收和解读测试，测试数据由管理机运行测试分析管理程序同步实时自动采集与存储，历时2分钟；
4)由测试分析管理程序对IRIG-B码测试设备进行自动配置，由IRIG-B码测试设备输出符合测试要求的最劣精确度为0x0F的IRIG-B码至智能时间频率信号切换器，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至被测试的时间同步设备作为其测试参考信号；
5)被测试的时间同步设备对所述测试参考信号进行解析处理，不再调整内部时钟，进入到自身守时状态，输出相应的IRIG-B码，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至IRIG-B码测试设备作为被测试信号，同时由管理机自动调整IRIG-B码测试设备的IRIG-B码输出时间超前其当前时间5分钟；
6)IRIG-B码测试设备持续对所述被测试的时间同步设备每秒钟输出的所述被测试信号进行接收和解读测试，测试数据由管理机运行测试分析管理程序同步实时自动采集与存储，历时2分钟；
7)由测试分析管理程序对IRIG-B码测试设备进行自动配置，由IRIG-B码测试设备输出符合测试要求的最高精确度为0x00的IRIG-B码至智能时间频率信号切换器，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至被测试的时间同步设备作为其测试参考信号；
8)被测试的时间同步设备对所述测试参考信号进行解析处理，输出相应的IRIG-B码，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至IRIG-B码测试设备作为被测试信号，同时由管理机自动调整IRIG-B码测试设备的IRIG-B码输出时间滞后其当前时间5分钟，用于对步骤5)中对IRIG-B码测试设备的调整超前的时间进行恢复，保持正常走时；
9)IRIG-B码测试设备持续对所述被测试的时间同步设备每秒钟输出的所述被测试信号进行接收和解读测试，测试数据由管理机运行测试分析管理程序同步实时自动采集与存储，历时2分钟后，数据采集与存储过程结束；
10)数据浏览与分析
所述数据浏览与分析由测试人员通过测试分析管理程序对存储在管理机中的采集数据进行浏览和分析，分析内容包括分析被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码在测试开始的第5分钟是否有超前5分钟的跨度，如果发现被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码时间在测试开始的第5分钟有超前5分钟的跨度，则说明被测试的时间同步设备对输入的IRIG-B精度识别功能有误，如果发现被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码时间在测试开始的第5分钟未有超前5分钟的跨度，则说明被测试的时间同步设备对输入的IRIG-B精度识别功能正常，达到相应的测试目的，最终完成整个测试过程。
采用本具体实施方式的智能化测试系统测试时间同步设备IRIG-B码闰秒处理别功能，依次有以下子步骤：
1)由测试分析管理程序对IRIG-B码测试设备进行自动配置，由IRIG-B码测试设备在下一分钟第10秒输出带有正闰秒预告的IRIG-B码至智能时间频率信号切换器，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至被测试的时间同步设备作为其测试参考信号；
2)被测试的时间同步设备对所述测试参考信号进行解析处理，同步输出相应的IRIG-B码，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至IRIG-B码测试设备作为被测试信号；
3)IRIG-B码测试设备持续对所述被测试的时间同步设备每秒钟输出的所述被测试信号进行接收和解读测试，测试数据由管理机运行测试分析管理程序同步实时自动采集与存储，历时3分钟，其中第1分钟用于分析被测试的时间同步设备是否对闰秒预告进行了识别，是否正确输出了被测试信号，第2分钟用于分析和辨别被测试的时间同步设备是否进行了正确的闰秒处理，第3分钟用于分析和辨别被测试的时间同步设备在闰秒处理结束后是否正常输出了被测试信号；
4)由测试分析管理程序对IRIG-B码测试设备进行自动配置，由IRIG-B码测试设备在下一分钟第10秒输出带有负闰秒预告的IRIG-B码至智能时间频率信号切换器，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至被测试的时间同步设备作为其测试参考信号；
5)被测试的时间同步设备对所述测试参考信号进行解析处理，同步输出相应的IRIG-B码，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至IRIG-B码测试设备作为被测试信号；
6)IRIG-B码测试设备持续对所述被测试的时间同步设备每秒钟输出的所述被测试信号进行接收和解读测试，测试数据由管理机运行测试分析管理程序同步实时自动采集与存储，历时3分钟后，数据采集与存储过程结束，其中第1分钟用于分析被测试的时间同步设备是否对闰秒预告进行了识别，是否正确输出了被测试信号，第2分钟用于分析和辨别被测试的时间同步设备是否进行了正确的闰秒处理，第3分钟用于分析和辨别被测试的时间同步设备在闰秒处理结束后是否正常输出了被测试信号；
7)数据浏览与分析
所述数据浏览与分析由测试人员通过测试分析管理程序对存储在管理机中的采集数据进行浏览和分析，分析内容包括分析被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码是否具有正、负闰秒预告，且输出时间是否符合正、负闰秒的处理规则，如果发现被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码不具有正、负闰秒预告，且输出时间不符合正、负闰秒的处理规则，则说明被测试的时间同步设备对输入的IRIG-B码的闰秒处理功能有误，如果发现被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码具有正、负闰秒预告，且输出时间符合正、负闰秒的处理规则，则说明被测试的时间同步设备对输入的IRIG-B码的闰秒处理功能正常，达到相应的测试目的，最终完成整个测试过程。
采用本具体实施方式的智能化测试系统测试时间同步设备IRIG-B码闰年处理别功能，依次有以下子步骤：
1)由测试分析管理程序对IRIG-B码测试设备进行自动配置，由IRIG-B码测试设备输出其当前时间为某一闰年的2月28日11时58分30秒的IRIG-B码至智能时间频率信号切换器，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至被测试的时间同步设备作为其测试参考信号；
2)被测试的时间同步设备对所述测试参考信号进行解析处理，同步输出相应的IRIG-B码，由智能时间频率信号切换器转接后，输出至IRIG-B码测试设备作为被测试信号，30秒后，由管理机自动控制智能时间频率信号切换器断开输入到被测试的时间同步设备的IRIG-B码；
3)IRIG-B码测试设备持续对所述被测试的时间同步设备每秒钟输出的所述被测试信号进行接收和解读测试，完整记录和分析被测试的时间同步设备从2月28日11时59分59秒向2月29日0时0分0秒的过渡过程是否正确，在闰年处理结束后是否正常输出了被测试信号，测试数据由管理机运行测试分析管理程序同步实时自动采集与存储，历时3分钟后，数据采集与存储过程结束；
4)数据浏览与分析
所述数据浏览与分析由测试人员通过测试分析管理程序对存储在管理机中的采集数据进行浏览和分析，分析内容包括分析被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码是否是由某闰年的2月28日11时59分59秒进入到某闰年的2月29日0时0分0秒，
如果发现被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码不是由某闰年的2月28日11时59分59秒进入到某闰年的2月29日0时0分0秒，则说明被测试的时间同步设备对输入的IRIG-B码的闰年处理功能有误，如果发现被测试的时间同步设备输出的IRIG-B码是由某闰年的2月28日11时59分59秒进入到某闰年的2月29日0时0分0秒，则说明被测试的时间同步设备对输入的IRIG-B码的闰年处理功能正常，达到相应的测试目的，最终完成整个测试过程。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下做出若干等同替代或明显变型，而且性能或用途相同，都应当视为属于本发明由所提交的权利要求书确定的专利保护范围。
时间同步设备IRIG-B码容错功能智能测试系统与方法专利购买费用说明
Q：办理专利转让的流程及所需资料
A：专利权人变更需要办理著录项目变更手续，有代理机构的，变更手续应当由代理机构办理。
1：专利变更应当使用专利局统一制作的“著录项目变更申报书”提出。
2：按规定缴纳著录项目变更手续费。
3：同时提交相关证明文件原件。
4：专利权转移的，变更后的专利权人委托新专利代理机构的，应当提交变更后的全体专利申请人签字或者盖章的委托书。
Q:专利著录项目变更费用如何缴交
A：（1）直接到国家知识产权局受理大厅收费窗口缴纳,（2）通过代办处缴纳，（3）通过邮局或者银行汇款,更多缴纳方式
Q：专利转让变更，多久能出结果
A：著录项目变更请求书递交后，一般1-2个月左右就会收到通知，国家知识产权局会下达《转让手续合格通知书》。
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