专利摘要

本实用新型提供一种自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置，包括依次相连的输出探针光的振荡器、输出待测光的放大器、三倍频器和测量光路，测量光路包括依次排布的三个高反镜、合束镜、可切换的β‑BBO和频/倍频晶体、色散棱镜、带通滤波片、光电倍增管；合束镜位于待测光与探针光的光路交点，探针光的波长为800nm，待测光的波长为266nm，和频晶体的厚度至多为0.1mm，切割角为44.3°，倍频晶体的厚度至少为0.5mm，切割角为29.2°。本实用新型的激光脉冲宽度测量装置时间分辨率高，测量的准确性高；通过共线结构设计，节省了光学平台的空间，可作为紫外飞秒激光脉宽的在线诊断装置，进行实时监测。

权利要求

1.一种自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置，其安装于一光学平台(100)上，其特征在于，包括依次相连的振荡器(1)、放大器(2)、三倍频器(3)和测量光路(4)，振荡器(1)设置为输出探针光和放大器的输入光，放大器(2)设置为振荡器(1)的输入光进行能量放大，所述三倍频器(3)设置为将放大器输出的光转换输出为待测光，所述测量光路(4)包括沿待测光的光路的走向依次排布的第一、第二和第三紫外平面高反镜(M1、M2、M3)、合束镜(M4)、可切换的β-BBO和频晶体(C1)和β-BBO倍频晶体(C2)、色散棱镜(P1)、带通滤波片(T6)以及光电倍增管(D6)，该光电倍增管(D6)与一示波器连接；所述合束镜(M4)位于所述待测光的光路与所述探针光的光路的交点，且与所述待测光的光路夹角为45°、与所述探针光的光路的夹角为0°，所述探针光的中心波长为800nm，带宽为10nm，所述待测光的中心波长为266nm，带宽为1.6nm，所述β-BBO和频晶体(C1)的厚度至多为0.1mm，切割角为θ＝44.3°，且所述β-BBO倍频晶体(C2)的厚度至少为0.5mm，切割角为θ＝29.2°。

2.根据权利要求1所述的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置，其特征在于，第一、第二紫外平面高反镜(M1、M2)均安装于同一个高精度的电动位移台(5)上。

3.根据权利要求2所述的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置，其特征在于，所述电动位移台(5)的行程大于200mm，重复精度为±0.05μm，精度为±1.7μm，双向重复精度为±0.25μm，扫描的最小位移增量为20nm。

4.根据权利要求2所述的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置，其特征在于，所述电动位移台(5)包括安装于所述光学平台(100)上的导轨、通过一丝杠螺母副安装于所述导轨上的平台和用于驱动所述丝杠螺母副的伺服电机，所述第一、第二紫外平面高反镜(M1、M2)安装于所述平台上。

5.根据权利要求1所述的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置，其特征在于，所述带通滤波片(T6)的中心波长为400nm，带宽为20nm。

6.根据权利要求1所述的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置，其特征在于，所述探针光的偏振状态设置为与待测光的偏振态垂直，所述探针光为e光，所述待测光为o光。

7.根据权利要求1所述的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置，其特征在于，所述振荡器(1)为钛宝石激光振荡器，所述探针光的带宽为30nm，脉宽为50fs±10fs，其平均功率为0.7W，频率为79.33MHz，单脉冲能量为8.8nJ。

8.根据权利要求1所述的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置，其特征在于，所述三倍频器(3)和所述第一紫外平面高反镜(M1)之间设有第一光阑(I1)和第二光阑(I2)，所述第二紫外平面高反镜(M2)和第三紫外平面高反镜(M3)之间设有第三光阑(I3)和第四光阑(I4)，所述色散棱镜(P1)和带通滤波片(T6)之间设有第五光阑(I5)。

9.根据权利要求1所述的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置，其特征在于，所述振荡器(1)与所述合束镜之间还设有两个或任意多个紫外平面高反镜。

说明书

技术领域

本实用新型涉及自由电子激光装置中的紫外飞秒种子激光脉冲宽度的测量装置。

背景技术

飞秒激光在科研、生物、医疗、加工、通信、国防等各个领域的应用获得了深入的发展。其中一个重要的应用是使用紫外飞秒激光作为自由电子激光装置的外种子，与电子束同时注入波荡器中，当满足共振关系时，种子激光将与电子束相互作用并被不断放大直至饱和输出，使得FEL的辐射继承种子激光的特性，即具有很好的相干性和稳定性、极高功率(GW)、窄光谱、窄宽度(几十至几百飞秒)等特点。飞秒激光的脉冲宽度和脉冲形状是激光脉冲重要的光学参量，是外种子型自由电子激光装置(FEL)的源头；对于特定模式的自由电子激光装置(FEL)，由种子激光的脉冲宽度可以直接计算出FEL的脉冲宽度，因此对紫外飞秒激光的实时诊断在FEL的实验中是非常必要的。

在自由电子激光领域，经过调研发现还没有文献或专利论述怎样准确测量紫外飞秒种子激光的脉宽。

在光学领域，目前实用新型专利CN203824652 U中论述的飞秒激光脉冲宽度测量仪采用适用于中心波长为800nm的红外飞秒脉冲宽度测量。实用新型专利CN 101699233 A所公开的单次皮秒激光脉冲宽度测量装置也是通过光学自相关的方法测量皮秒量级的脉冲宽度，采用KDP倍频晶体产生信号光，因此只适用于800nm左右的红外波段。

2010年，华东师范大学戴小民阐述了一种紫外脉冲的互相关测量方法(参见【戴小民；紫外飞秒激光脉冲宽度测量的研究[D]，华东师范大学，2010年】)，其可以用于测量266nm的脉冲宽度。然而，其所采用的BBO晶体的厚度为0.2mm，由于群速度失配效应的影响，这个厚度的晶体会显著降低测量结果的准确性，使得测量获得的互相关曲线有明显的畸变，并且关于怎样通过互相关曲线分布获得准确的测量结果没有论述；此外，由于采用非共线的测量方法，在2束入射光的入射角很小的情况下(小于1°)，需要使出射光传播较远的距离(大于X米)才可以将信号光分离出来，因此占用的光学平台空间较大；再者，对于单脉冲能量为10nJ左右的探针光，该结构不便于寻找互相关信号光的位置。

1988年D.C.Edelstein等人在研究通过BBO晶体产生紫外飞秒脉冲的方法时，阐述了一种测量波长为约210nm，脉宽小于100fs的脉冲宽度的互相关测量方法(参见【D.C.Edelstein,E.S.Wachman,L.K.cheng etal.,“Femtosecond ultraviolet pulsegeneration inβ-BBO”,Appl.Phys.Lett 52(26),1988】)，其采用和频BBO晶体，该BBO晶体的切割角为69°，受制造条件的限制，BBO晶体的最小厚度为0.085mm，通过采用紫外单色器分离出210nm的互相关信号光，但是其只给出了待测光为双曲正割分布情况下的脉宽计算方法。

2013年Jing Yang等人(参见【Jing Yang,Feng Yang,Jing yuan Zhang et al.,“Pulse broadening of deep ultraviolet femtosecond laser from second harmonicgeneration in KBe2BO3 crystal”,optics communications 288,2013】)设计了一种非共线的紫外飞秒脉宽测量装置，待测光的波长为210nm，与探针光的夹角为2°，采用BBO差频晶体的厚度为0.1mm，切割为76°。对于夹角对测量结果准确性的影响没有研究；测量过程中探针光的脉宽为249fs，限制了测量系统的时间分辨率；探针光的脉冲能量为400μJ，待测光脉冲的能量为9μJ，对于探针光的能量在nJ条件下，怎样高效寻找互相关信号光的位置没有讨论。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种自由电子激光装置的紫外种子激光脉冲宽度测量装置，以实现紫外飞秒种子激光的在线实时脉宽诊断，提高测量结果的时间分辨率和准确性。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置，其安装于一光学平台上，包括依次相连的振荡器、放大器、三倍频器和测量光路，振荡器设置为输出探针光和放大器的输入光，放大器设置为振荡器的输入光进行能量放大，所述三倍频器设置为将放大器输出的光转换输出为待测光，所述测量光路包括沿待测光的光路的走向依次排布的第一、第二和第三紫外平面高反镜、合束镜、可切换的β-BBO和频晶体和β-BBO倍频晶体、色散棱镜、带通滤波片以及光电倍增管，该光电倍增管与一示波器连接；所述合束镜位于所述待测光的光路与所述探针光的光路的交点，且与所述待测光的光路夹角为45°、与所述探针光的光路的夹角为0°，所述探针光的中心波长为800nm，带宽为10nm，所述待测光的中心波长为266nm，带宽为1.6nm，所述β-BBO和频晶体的厚度至多为0.1mm，切割角为θ＝44.3°，且所述β-BBO倍频晶体的厚度至少为0.5mm，切割角为θ＝29.2°。

第一、第二紫外平面高反镜均安装于同一个高精度的电动位移台上。

所述电动位移台的行程大于200mm，重复精度为±0.05μm，精度为±1.7μm，双向重复精度为±0.25μm，扫描的最小位移增量为20nm。

所述电动位移台包括安装于所述光学平台上的导轨、通过一丝杠螺母副安装于所述导轨上的平台和用于驱动所述丝杠螺母副的伺服电机，所述第一、第二紫外平面高反镜安装于所述平台上。

所述带通滤波片的中心波长为400nm，带宽为20nm。

所述探针光的偏振状态设置为与待测光的偏振态垂直，所述探针光为e光，所述待测光为o光。

所述振荡器为钛宝石激光振荡器，所述探针光的带宽为30nm，脉宽为50fs±10fs，其平均功率为0.7W，频率为79.33MHz，单脉冲能量为8.8nJ。

所述三倍频器和所述第一紫外平面高反镜之间设有第一光阑和第二光阑，所述第一紫外平面高反镜和第二紫外平面高反镜之间设有第三光阑和第四光阑，所述色散棱镜和带通滤波片之间设有第五光阑。

所述振荡器与所述合束镜之间还可以设有两个或任意多个紫外平面高反镜。

本实用新型的自由电子激光的紫外种子激光脉冲宽度测量装置采用可切换的BBO和频晶体与倍频晶体，和频晶体的厚度1为0.05mm，晶体切割角为44.3°，以使得800nm的探针光与266nm的紫外光在合束镜上合束之后共线通过和频晶体进而产生约400nm差频信号，提高测量系统的时间分辨率和准确性，且通过这种共线设置，节省了空间位置，便于测量系统小型化；将探针光倍频的倍频晶体的厚度至少为0.5mm的倍频晶体，产生的400nm倍频光在通过棱镜之后可以高效直接地观察到400nm光的位置，在实际测量过程中方便高效地探测信号光，并能够通过根据该信号光的位置调节光电倍增管的位置。此外，本实用新型的自由电子激光的紫外种子激光脉冲宽度测量装置的探针光的脉宽为约50fs，并在探针光低能量，条件下，采用高灵敏度的光电倍增管作为探测器，以提高测量系统的灵敏度。

附图说明

图1是本实用新型的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置的结构示意图。

图2(a)-2(b)是本实用新型的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置中探针光与待测光的粗同步调节过程检测图，其中，图2(a)示出了266nm待测光超前800nm探针光4.72ns，图2(b)示出了266nm待测光与800nm探针光实现粗同步，同步的误差在±200ps范围左右。

图3是本实用新型的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置的差频信号光的强度随延迟时间的分布的3次重复测量结果图。

图4是本实用新型的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置的所测量的典型互相关信号的分布图。

图5是本实用新型的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置在测量过程中光电倍增管增益指数过大的测量结果示意图。

具体实施方式

以下结合具体实施例，对本实用新型做进一步说明。应理解，以下实施例仅用于说明本实用新型而非用于限制本实用新型的范围。

如图1所示为根据本实用新型的一个实施例一种自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置，其安装于一光学平台100上，包括依次相连的振荡器1、放大器2、三倍频器3和测量光路4。

其中，振荡器1为钛宝石激光振荡器，其有2个作用，其设置为输出探针光和放大器的输入光，该探针光的中心波长为800nm，带宽为30nm，脉宽为50fs±10fs，其平均功率约为0.7W，频率为79.33MHz，单脉冲能量为8.8nJ；放大器2设置为振荡器1的输入光进行能量放大，并以1-1000Hz的频率输出波长约为800nm的光，其单脉冲功率为30GW，单脉冲能量为3mJ，带宽为10nm，脉宽为100fs；三倍频器3设置为将放大器输出的光转换输出为待测光，该待测光的中心波长为266nm，且为待测脉宽的紫外飞秒种子激光，该待测光的单脉冲功率大于2GW，频率为1Hz-1000Hz，单脉冲能量为300uJ，带宽为1.6nm，脉宽为百飞秒量级。一般情况下，不去调整振荡器1的参数，会通过调整放大器2的参数来改变三倍频器3输出的待测光的参数。

测量光路4包括沿待测光的光路的走向依次排布的第一、第二和第三紫外平面高反镜M1、M2、M3、合束镜M4、可切换的β-BBO和频晶体C1和β-BBO倍频晶体C2、色散棱镜P1、带通滤波片T6以及光电倍增管D6，该光电倍增管D6与一示波器(图未示)连接。触发示波器采样的触发信号与激光振荡器输出的探针光具有固定的时间差值，通过定时系统来保证两者之间的时间差值。

所述带测光在所述第一、第二和第三紫外平面高反镜M1、M2、M3上的入射角均为45°，所述合束镜M4位于所述待测光的光路与所述探针光的光路的交点，且与所述待测光的光路的夹角为45°，与所述探针光的光路的夹角为0°，其设置为反射待测光的和透过振荡器输出的探针光。

此外，在其他实施例中，可以根据光学平台100可用的空间，以及调节光程、准直光路的需要也可以再增加几个紫外平面高反镜，例如，所述振荡器1与所述合束镜之间还可以设有两个或任意多个紫外平面高反镜，以确保所述合束镜M4位于所述待测光的光路与所述探针光的光路的交点。

由此，三倍频器3输出待测光，经过紫外高反镜M1、M2、M3及合束镜M4后照射在和频晶体C1的中心；在切换为β-BBO倍频晶体C2时，振荡器1输出的探针光经β-BBO倍频晶体C2后产生波长为400nm的倍频信号光，经过色散棱镜P1之后，将800nm，400nm，266nm，3种波长的光在空间上的位置分开，该差频信号通过带通滤波片T6之后，可以根据倍频信号光的位置调节光电倍增管D6的位置；在切换为β-BBO和频晶体C1时，振荡器1输出的探针光经过合束镜M4透射之后与待测光在时间上和横向位置上均重合，并一起照射在和频晶体C1上，同时通过和频晶体C1之后会产生波长约为400nm的差频信号光，经过色散棱镜P1之后，将800nm，400nm，266nm，3种波长的光在空间上的位置分开，该差频信号光通过带通滤波片T6之后，滤除其它波段的噪声光，只让400nm的光通过，降低了探针光，待测光以及环境光对测量准确度的影响，照射到光电倍增管D6上，光电倍增管D6将探测的光强度转换为对应的电压信号，并使用示波器采集该差频信号光的强度。

其中，为了提高测量系统的时间分辨率和准确性，β-BBO和频晶体C1的厚度至多为0.1mm，切割角为θ＝44.3°，在这个角度的条件下，波长约为800nm的探针光与266nm的待测光通过这个晶体时，可以产生400nm的差频信号光，并且厚度≤0.1mm的β-BBO和频晶体减小群速度失配对互相关信号展宽的影响，提高了测量装置的时间分辨率，使得测量的时间分辨率约小于30fs；β-BBO倍频晶体C2的厚度至少为0.5mm，切割角为θ＝29.2°，使得在这个角度下800nm的探针光通过β-BBO倍频晶体C2时，可以产生400nm的倍频信号光。可切换的β-BBO和频晶体C1和β-BBO倍频晶体C2均安装在一4维方向可微调的光学调整架上，可调节的方向为水平，垂直，竖直面内的旋转以及水平面内的旋转方向。测量过程中，通过光学调整架上的旋钮，微调β-BBO和频晶体C1或β-BBO倍频晶体C2的相位匹配角，获得强度最强的差频信号光或倍频信号光。所述带通滤波片T6的中心波长为400nm，带宽为20nm，以降低探针光，待测光以及环境光对测量准确度的影响。

此外，探针光(o光)的偏振状态需要与待测光(e光)的偏振态垂直，只有满足垂直的条件，它们通过BBO晶体时，才会产生400nm的差频信号光，测量之前先检查2种光的偏振状态，确保一个为水平偏振，另一个为垂直偏振。在本实施例中，探针光为o光，待测光为e光。所产生的400nm的差频信号光的偏振态与800nm探针光的偏振态相同。

第一、第二紫外平面高反镜M1、M2均安装于同一个高精度的电动位移台5上，通过控制电动位移台5朝着靠近或远离所述三倍频器3的方向运动来实现待测光与探针光在时间上的重合，进而使得两者在通过和频晶体C1之后会产生差频信号光，而且，通过高精度的电动位移台5的扫描可以获得差频信号光的强度与高精度延迟线的位置之间分布曲线，计算出该曲线的半高全宽之后，经过简单的换算即可获得待测紫外种子激光的脉宽。其中，所述电动位移台5的行程大于200mm，重复精度为±0.05μm，精度为±1.7μm，双向重复精度为±0.25μm，因此，测量分辨率优于30fs，差频信号寻找方便，可以实现远程自动化扫描，扫描的最小位移增量为1μm，可以测量波长为266nm，脉宽100fs至几十ps的待测光。

所述电动位移台5包括安装于所述光学平台100上的导轨、通过一丝杠螺母副安装于所述导轨上的平台和用于驱动所述丝杠螺母副的伺服电机，所述第一、第二紫外平面高反镜M1、M2安装于所述平台上，由此，通过伺服电机驱动丝杠螺母副，丝杠螺母副中的丝杠转动之后，会使得与其相配合的螺母做作直线运动，进而带动所述平台上的第一、第二紫外平面高反镜M1、M2朝着靠近或远离所述三倍频器3的方向运动。

所述三倍频器3和所述第一紫外平面高反镜M1之间设有第一光阑I1和第二光阑I2，用于定位入射的待测光的横向位置。所述第二紫外平面高反镜M2和第三紫外平面高反镜M3之间设有第三光阑I3和第四光阑I4，用于定位出射的待测光的横向位置。所述色散棱镜P1和带通滤波片T6之间设有第五光阑I5，用于滤除杂光。

基于上文所述的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置，所实现的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量方法，包括以下步骤：

步骤S1：安装依次相连的振荡器1、放大器2、三倍频器3，采用振荡器1输出探针光和放大器的输入光，采用三倍频器3输出待测光，沿待测光的光路的走向依次安装第一、第二和第三紫外平面高反镜M1、M2、M3，在所述待测光与所述探针光的交点处设置一光强度探测器，以对探针光和待测光的光程进行初步测量，并根据测量结果调节第一、第二紫外平面高反镜M1、M2的位置实现所述待测光与所述探针光的粗同步；

其中，探针光的波长为800nm，待测光的波长为266nm，所述初步测量通过将所述光强度探测器的输入信号接入示波器，以探针光与待测光之间的光程差来实现，初步测量的探针光与待测光之间的光程差如图2(a)所示，图2(a)中266nm待测光比800nm探针光超前4.72ns，即两者的光程差为1.416m。

其中，第一、第二紫外平面高反镜M1、M2均安装于同一个高精度的电动位移台5上，通过调节电动位移台5来调节所述调节第一、第二紫外平面高反镜M1、M2的位置，将2种光的光程差调节到200ps左右如图2(b)所示。在图2(b)中只有2个峰了，第一个大峰266nm，大峰里面包含和第二个一样的小峰800nm，因为和大峰和小峰重合了，也就是粗同步了，所以看起来只有一个大峰，因此估计此时的光程差调节到200ps左右。

步骤S2：搭建上文所述的自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置，即沿待测光的光路走向依次安装合束镜M4、厚度至少为0.5mm的β-BBO倍频晶体C2、色散棱镜P1、带通滤波片T6以及光电倍增管D6，并将光电倍增管D6与示波器连接，此时产生波长为400nm的倍频信号光，直接观察倍频信号光的光斑所在位置并将光电倍增管D6调节到该位置。其中，为了提高差频光的搜索效率，需要将和频晶体切换为β-BBO倍频晶体C2，所产生的倍频信号光的重复频率很高(79.33MHz)，便于直接观察其位置，由此，在正式测量之前，实现了400nm光的定位。β-BBO倍频晶体C2的厚度至少为0.5mm，厚度越大，效率越高，产生的信号就越强。

步骤S3：将β-BBO倍频晶体C2切换为β-BBO和频晶体C1，采用高精度的电动位移台5在±30mm扫描范围找到差频信号光，随后采用电动位移台5扫描并采用示波器采集差频信号光的强度，进而获得差频信号光的强度随延迟时间的分布图(即差频信号光的强度分布曲线)；

其中，延迟时间可以通过所述电动位移台5扫描时的位移(即延迟距离)除以光速得到。所述色散棱镜P1和带通滤波片T6之间设有第五光阑I5，800nm探针光和266nm待测光同时经过β-BBO和频晶体之后，会产生波长为400nm的互相关信号，3种波长的光以一定的角度入射到棱镜，经过棱镜分光之后，第五光阑I5滤除800nm和266nm的杂光，使得波长为400nm的差频信号光经过光阑5之后入射到高灵敏度的光电倍增管D6上，光电倍增管D6将探测到的信号光强度转为电压信号，因此，可以通过示波器采集到差频信号光的强度。

其中，为了验证脉宽测量系统重复性，在正式测量之前进行3次重复的扫描，扫描结果得到的差频信号光的强度随延迟时间的分布图如图3所示，表明系统具有很高可重复性。本实用新型的所得到的差频信号光的强度随延迟时间的典型的分布图如图4所示。

其中，所述差频信号光Ics的强度为：

其中，I1(t)为波长为800nm的探针光的强度，I2(t-τ)为266nm的待测光的强度。

此外，光电倍增管D6增益过大时，互相关信号会出现平顶分布的情况，当增益过大时差频信号光的强度随延迟时间的分布图如图5所示。此外，示波器上的信号超出显示范围时会出现信号值为0的情况。

步骤S4：典型的差频信号光的强度分布曲线如图4所示，获得该分布曲线后可以由所述分布曲线得到的差频信号光的半高全宽σCs值，进而获得待测光的脉宽σ2。

待测光的脉宽σ2的计算公式为:

其中，σcs为差频信号光的强度分布曲线的半高全宽，σ1为探针光的脉宽，其为已知量，σ2为待测光的脉宽。

其中，由于差频信号光的强度分布曲线的半高全宽σcs包含了群速度失配引起的展宽量；β-BBO和频晶体C1的厚度对该群速度失配有显著影响，为了消除该影响，需要对差频信号光的强度分布曲线的半高全宽σcs进行拟合以提高测量的准确性，具体拟合方法如下：

对于待测光的时域分布为高斯分布，考虑β-BBO和频晶体C1的厚度引起的展宽量影响，根据以下公式拟合可以获得准确的待测光脉宽值σUV：

若待测光的时域分布为双曲正割分布，考虑β-BBO和频晶体C1的厚度引起的展宽量影响，根据以下公式拟合可以获得准确的待测光脉宽值σUV：

其中，

为待测光和探针光在β-BBO和频晶体C1中的群速度失配值，τUV为待测光的脉冲的宽度，这里是指波长约为266nm的待测光，τred为探针光的脉宽，这里是指波长约为800nm的脉宽，lc为β-BBO和频晶体C1的晶体厚度， 表示卷积，Icc(τ)为考虑β-BBO和频晶体C1的厚度引起的展宽量影响条件下，差频信号光的理论强度分布。

所述群速度失配值 的具体计算方法如下：

其中vog为o光的群速度，veg为e光的群速度，nog为o光的群折射率，neg为e光的群折射率，c为光速,c＝3×108m/s。

o光与e光的群折射率nog，neg的计算方法如下：

其中，其中λ为光的波长，单位为μm，no(λ)是波长为λ的o光的折射系数，ne(λ)是波长为λ的e光的折射系数。

步骤S5：根据待测光的脉宽σ2获得自由电子激光光脉冲的脉宽。

对于特定模式的自由电子激光脉冲，基于测量的待测光(即紫外飞秒种子激光)的脉宽，自由电子激光光脉冲的脉宽TFEL为：

其中，n为谐波级数，Tseed为待测光(即紫外种子飞秒激光)的脉宽。

以上所述的，仅为本实用新型的较佳实施例，并非用以限定本实用新型的范围，本实用新型的上述实施例还可以做出各种变化。凡是依据本实用新型申请的权利要求书及说明书内容所作的简单、等效变化与修饰，皆落入本实用新型专利的权利要求保护范围。本实用新型未详尽描述的均为常规技术内容。

一种自由电子激光的紫外飞秒种子激光脉冲宽度测量装置专利购买费用说明

Q：办理专利转让的流程及所需资料

A：专利权人变更需要办理著录项目变更手续，有代理机构的，变更手续应当由代理机构办理。

1：专利变更应当使用专利局统一制作的“著录项目变更申报书”提出。

2：按规定缴纳著录项目变更手续费。

3：同时提交相关证明文件原件。

4：专利权转移的，变更后的专利权人委托新专利代理机构的，应当提交变更后的全体专利申请人签字或者盖章的委托书。

Q:专利著录项目变更费用如何缴交

A：（1）直接到国家知识产权局受理大厅收费窗口缴纳,（2）通过代办处缴纳，（3）通过邮局或者银行汇款,更多缴纳方式

Q：专利转让变更，多久能出结果

A：著录项目变更请求书递交后，一般1-2个月左右就会收到通知，国家知识产权局会下达《转让手续合格通知书》。