专利摘要
本发明公开一种检测装置、检测方法及计算机可读存储介质，所述检测装置包括光源组件、起偏器、分光棱镜、校准组件以及检测单元，所述校准组件包括相位延迟器与反射镜，所述相位延迟器设于所述反射镜靠近所述分光棱镜的一侧；所述光源组件发出的光线依次经所述起偏器以及所述分光棱镜后反射至所述校准组件，所述光线经过所述相位延迟器改变偏振方向，并经过所述反射镜反射后进入所述分光棱镜，并经所述分光棱镜透射后传输至所述检测单元。本发明提出一种检测装置、检测方法及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中对显示组件进行测试时，测试装置结构复杂，测量过程繁琐的问题。
权利要求
1.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置包括光源组件、起偏器、分光棱镜、校准组件以及检测单元，所述校准组件包括相位延迟器与反射镜，所述相位延迟器设于所述反射镜靠近所述分光棱镜的一侧；所述光源组件发出的光线依次经所述起偏器以及所述分光棱镜后反射至所述校准组件，所述光线经过所述相位延迟器改变偏振方向，并经过所述反射镜反射后进入所述分光棱镜，并经所述分光棱镜透射后传输至所述检测单元。
2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括匀光元件，所述匀光元件设于所述光源组件与所述起偏器之间。
3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括检偏器，所述检偏器设于所述起偏器与所述分光棱镜之间。
4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括中性滤光片，所述中性滤光片设于所述分光棱镜与所述检测单元之间。
5.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述光源组件包括第一光源、第二光源、第三光源、第一二向色镜以及第二二向色镜，所述第一光源发出的光线依次经过所述第一二向色镜以及所述第二二向色镜后传输至所述起偏器，所述第二光源发出的光线经过所述第一二向色镜反射，并经过所述第二二向色镜透射后传输至所述起偏器，所述第三光源发出的光线经过所述第二二向色镜反射后传输至所述起偏器。
6.如权利要求5所述的检测装置，其特征在于，所述光源组件还包括第一准直镜组、第二准直镜组以及第三准直镜组，所述第一准直镜组设于所述第一光源与所述第一二向色镜之间，所述第二准直镜组设于所述第二光源与所述第一二向色镜之间，所述第三准直镜组设于所述第三光源与所述第二二向色镜之间。
7.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括补偿片，所述补偿片设于所述分光棱镜与所述校准组件之间，所述补偿片的快轴方向与所述分光棱镜的透射偏振光的偏振方向相同或垂直。
8.一种检测方法，其特征在于，应用于如权利要求1-7任一项所述的检测装置，所述检测方法包括：
获取所述校准组件位于检测位置时，所述检测单元检测的第一亮度信息；
获取待测显示组件位于所述检测位置时，所述检测单元检测的第二亮度信息；
根据所述第一亮度信息与所述第二亮度信息，确定显示组件的显示参数，所述显示参数包括反射率、对比度、色温、色差、色彩均匀性以及亮度均匀性中的至少一个。
9.如权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述显示参数为亮度均匀性，所述检测单元的检测区域包括中心区域及至少一个边缘区域，第一亮度信息包括中心区域的第一子亮度信息以及至少一个边缘区域的第二子亮度信息，所述第二亮度信息包括中心区域的第三子亮度信息以及至少一个边缘区域的第四子亮度信息，所述根据所述第一亮度信息与所述第二亮度信息，确定显示组件的显示参数的步骤包括：
确定所述第二子亮度信息与所述第一子亮度信息的第一比值；
获取第四子亮度信息与所述第一比值的第二比值；
获取所述第二比值与所述第三子亮度信息的第三比值，所述第三比值为所述待测显示组件的亮度均匀性。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有检测程序，所述检测程序被处理器执行时实现如权利要求8-9任一项所述的检测方法的步骤。
说明书
技术领域
本发明涉及光学检测技术领域，尤其涉及一种检测装置、检测方法及计算机可读存储介质。
背景技术
显示组件是投影设备中重要的零件之一，其中，成像芯片又是显示组件中重要的组成部分，成像芯片的质量好坏直接影响显示组件的成像质量，现有的成像芯片包括液晶附硅（Liquid Crystal on Silicon，LCOS）、有机发光二极管（Organic Light-EmittingDiode，OLED）、液晶芯片（Liquid Crystal Display ，LCD）、数字光处理芯片（DigitalLight Procession ，DLP）等多种类型，其中LCOS芯片具有高分辨率、高光效和低成本的优点。
投影设备在完成显示组件的组装时，需要对投影设备的成像芯片的成像性能进行测试，由于LCOS芯片的投影设备内部结构复杂，在对成像芯片进行测试时，需要配备多种配件以及对应的光路，从而造成检测装置结构复杂，检测过程繁琐的问题。
上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
发明内容
本发明提出一种检测装置、检测方法及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中对显示组件进行测试时，测试装置结构复杂，测量过程繁琐的问题。
为实现上述目的，本发明提出了一种检测装置，所述检测装置包括光源组件、起偏器、分光棱镜、校准组件以及检测单元，所述校准组件包括相位延迟器与反射镜，所述相位延迟器设于所述反射镜靠近所述分光棱镜的一侧；所述光源组件发出的光线依次经所述起偏器以及所述分光棱镜后反射至所述校准组件，所述光线经过所述相位延迟器改变偏振方向，并经过所述反射镜反射后进入所述分光棱镜，并经所述分光棱镜透射后传输至所述检测单元。
可选的，所述检测装置还包括匀光元件，所述匀光元件设于所述光源组件与所述起偏器之间。
可选的，所述检测装置还包括检偏器，所述检偏器设于所述起偏器与所述分光棱镜之间。
可选的，所述检测装置还包括中性滤光片，所述中性滤光片设于所述分光棱镜与所述检测单元之间。
可选的，所述光源组件包括第一光源、第二光源、第三光源、第一二向色镜以及第二二向色镜，所述第一光源发出的光线依次经过所述第一二向色镜以及所述第二二向色镜后传输至所述起偏器，所述第二光源发出的光线经过所述第一二向色镜反射，并经过所述第二二向色镜透射后传输至所述起偏器，所述第三光源发出的光线经过所述第二二向色镜反射后传输至所述起偏器。
可选的，所述光源组件还包括第一准直镜组、第二准直镜组以及第三准直镜组，所述第一准直镜组设于所述第一光源与所述第一二向色镜之间，所述第二准直镜组设于所述第二光源与所述第一二向色镜之间，所述第三准直镜组设于所述第三光源与所述第二二向色镜之间。
可选的，所述检测装置还包括补偿片，所述补偿片设于所述分光棱镜与所述校准组件之间，所述补偿片的快轴方向与所述分光棱镜的透射偏振光的偏振方向相同或垂直。
为实现上述目的，本申请提出一种检测方法，应用于如上述任一项实施方式所述的检测装置，所述检测方法包括：
获取所述校准组件位于检测位置时，所述检测单元检测的第一亮度信息；
获取待测显示组件位于所述检测位置时，所述检测单元检测的第二亮度信息；
根据所述第一亮度信息与所述第二亮度信息，确定显示组件的显示参数，所述显示参数包括反射率、对比度、色温、色差、色彩均匀性以及亮度均匀性中的至少一个。
可选的，所述显示参数为亮度均匀性，所述检测单元的检测区域包括中心区域及至少一个边缘区域，第一亮度信息包括中心区域的第一子亮度信息以及至少一个边缘区域的第二子亮度信息，所述第二亮度信息包括中心区域的第三子亮度信息以及至少一个边缘区域的第四子亮度信息，所述根据所述第一亮度信息与所述第二亮度信息，确定显示组件的显示参数的步骤包括：
确定所述第二子亮度信息与所述第一子亮度信息的第一比值；
获取第四子亮度信息与所述第一比值的第二比值；
获取所述第二比值与所述第三子亮度信息的第三比值，所述第三比值为所述待测显示组件的亮度均匀性。
为实现上述目的，本申请提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有检测程序，所述检测程序被处理器执行时实现如上述任一项实施方式所述的检测方法的步骤。
在本申请提出的技术方案中，所述检测装置包括光源组件、起偏器、分光棱镜、校准组件以及检测单元，所述校准组件包括相位延迟器与反射镜，所述相位延迟器设于所述反射镜靠近所述分光棱镜的一侧；在通过所述检测装置进行对待测显示组件进行测试时，所述光源组件发出的光线经过所述起偏器后转变为第一线偏振光，所述第一线偏振光在传输至所述分光棱镜时，被所述分光棱镜反射，所述第一线偏振光在传输至所述校准组件时，由于所述校准组件包括相位延迟器以及所述反射镜，所述第一线偏振光经过所述相位延迟器后转变为第一圆偏振光，所述第一圆偏振光经过所述反射镜反射后转变为第二圆偏振光，所述第二圆偏振光的旋性与所述第一圆偏振光的旋性相反，所述第二圆偏振光再次经过所述相位延迟器后转变为第二线偏振光，所述第二线偏振光的偏振方向与所述第一线偏振光的偏振方向相垂直，从而保证所述第二线偏振光在传输至所述分光棱镜后，透射经过所述分光棱镜，并传输至所述检测单元。在使用校准组件完成检测后，再将所述校准组件替换为待测显示组件，测量所述待测显示组件的第二亮度信息，并根据所述第一亮度信息与所述第二亮度信息，对所述待测显示组件的显示参数进行确定，从而解决了现有技术中对显示组件进行测试时，测试装置结构复杂，测量过程繁琐的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1是本发明检测装置的结构示意图；
图2是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图；
图3是本发明检测方法一实施例的流程示意图；
图4是本发明检测方法另一实施例的流程示意图。
附图标号说明：
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明，本发明实施例中所有方向性指示（诸如上、下、左、右、前、后……）仅用于解释在某一特定姿态（如附图所示）下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
另外，本发明各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本申请提供一种检测装置、检测方法及计算机可读存储介质。
请参照图1，所述检测装置包括光源组件10、起偏器40、分光棱镜60、校准组件80以及检测单元100，所述校准组件80包括相位延迟器81与反射镜82，所述相位延迟器81设于所述反射镜82靠近所述分光棱镜60的一侧；所述光源组件10发出的光线依次经所述起偏器40以及所述分光棱镜60后反射至所述校准组件80，所述光线经过所述相位延迟器81改变偏振方向，并经过所述反射镜82反射后进入所述分光棱镜60，并经所述分光棱镜60透射后传输至所述检测单元100。
在本申请提出的技术方案中，所述检测装置包括光源组件10、起偏器40、分光棱镜60、校准组件80以及检测单元100，所述校准组件80包括相位延迟器81与反射镜82，所述相位延迟器81设于所述反射镜82靠近所述分光棱镜60的一侧；在通过所述检测装置进行对待测显示组件进行测试时，所述光源组件10发出的光线经过所述起偏器40后转变为第一线偏振光，所述第一线偏振光在传输至所述分光棱镜60时，被所述分光棱镜60反射，所述第一线偏振光在传输至所述校准组件80时，由于所述校准组件80包括相位延迟器81以及所述反射镜82，所述第一线偏振光经过所述相位延迟器81后转变为第一圆偏振光，所述第一圆偏振光经过所述反射镜82反射后转变为第二圆偏振光，所述第二圆偏振光的旋性与所述第一圆偏振光的旋性相反，所述第二圆偏振光再次经过所述相位延迟器81后转变为第二线偏振光，所述第二线偏振光的偏振方向与所述第一线偏振光的偏振方向相垂直，从而保证所述第二线偏振光在传输至所述分光棱镜60后，透射经过所述分光棱镜60，并传输至所述检测单元100。在使用校准组件80完成检测后，再将所述校准组件80替换为待测显示组件，测量所述待测显示组件的第二亮度信息，并根据所述第一亮度信息与所述第二亮度信息，对所述待测显示组件的显示参数进行确定，从而解决了现有技术中对显示组件进行测试时，测试装置结构复杂，测量过程繁琐的问题。
在可选的实施方式中，所述检测装置还包括匀光元件20。所述匀光元件20设于所述光源组件10与所述起偏器40之间。具体的，为了保证所述光源组件10发出的光线能够均匀的传输至所述分光棱镜60，避免不同区域的光线的光强度不均匀导致检测单元100对光线进行采集时出现的误差问题，在所述光源组件10的出光测设置所述匀光元件20，所述匀光元件20用于对所述光学组件发出的光线进行匀光，从而保证经过所述匀光元件20后出射的光线在不同的区域的光亮度相同，减小光线由于不同区域的光亮度不同引起的检测单元100测试出现误差的问题。优选实施方式中，所述匀光元件20可以为磨砂玻璃或匀光板或匀光棒或其他能够对光线进行匀光的光学元件。
在可选的实施方式中，所述检测装置还包括中继镜组30，所述中继镜组30设于所述光源组件10与所述起偏器40之间。具体的，在对所述光源组件10的出射光线进行匀光后，为了提高光线的传输效率，减小所述光线在所述检测装置中的传输损耗以及调整所述检测装置的光斑尺寸。
在可选的实施方式中，所述检测装置还包括检偏器50，所述检偏器50设于所述起偏器40与所述分光棱镜60之间。具体的，所述光源组件10发出的光线在经过起偏器40后，可能会存在与起偏器40的方向不相同的杂散光，为了提高光线的偏振纯度，在所述起偏器40与所述分光棱镜60之间设置检偏器50，所述检偏器50用于调整偏振光的偏振方向，确保入射偏振分光棱镜60的光为S偏振态光。
在可选的实施方法中，所述检测装置还包括中性滤光片90，所述中性滤光片90设于所述分光棱镜60与所述检测单元100之间，具体的，在对所述待测显示组件进行测试时，为了保证对对所述校准组件80测试与对所述待测显示组件进行测试的像差的比例较大，提高对所述待测显示组件的测量精度，在所述检测装置中设置所述中性滤光片90，用于对所述检测装置中的光线亮度进行降低，在光源组件10发出光线时会出现闪烁问题，从而影响所述检测单元100对所述光线的采集，当所述光线组件的出光面方向设置有所述中性滤光片90时，所述中性滤光片90能够降低所述光源组件10的闪烁程度，从而降低所述检测单元100的测量误差。
在可选的实施方式中，所述光源组件10包括第一光源11、第二光源13、第三光源15第一二向色镜17以及第二二向色镜18，所述第一光源11发出的光线经过所述第一二向色镜17以及所述第二二向色镜18后传输至所述起偏器40，所述第二光源13发出的光线经过所述第一二向色镜17反射，并经过所述第二二向色镜18透射后传输至所述起偏器40，所述第三光源15发出的光线经过所述第二二向色镜18反射后传输至所述起偏器40。具体的，所述第一光源11为绿光光源，所述第二光源13为红光光源，所述第三光源15为蓝光光源，二向色镜是一种能够对一定波长的光几乎完全透过，而对另一些波长的光几乎完全反射的光学元件，所述第一二向色镜17能够对绿光透过，并对所述红光进行反射，所述第二二向色镜18能够对绿光以及红光进行透过，并对蓝光进行反射。
优选实施方式中，所述第一二向色镜17与所述第二二向色镜18相平行，并且所述第二光源13发出的光线在所述第一二向色镜17的入射角为45°，所述第三光源15发出的光线在所述第二二向色镜18的入射角为45%。所述第一光源11、所述第二光源13以及所述第三光源15发出的光线在经过所述第二二向色镜18的光线后形成复色光线，并传输至所述检测装置中后续的光学元件中。
优选实施方式中，所述光源组件10还包括第一准直镜组12、第二准直镜组14以及第三准直镜组16，所述第一准直镜组12设于所述第一光源11与所述第一二向色镜17之间，所述第二准直镜组14设于所述第二光源13与所述第一二向色镜17之间，所述第三准直镜组16设于所述第三光源15与所述第二二向色镜18之间。具体的，所述第一光源11发出的光线在经过所述第一准直镜组12后转变为平行光线，所述第二光源13发出的光线在经过所述第二准直镜组14后转变为平行光线，所述第三光源15发出的光线在经过所述第三准直镜组16后转变为平行光线。通过所述三个准直镜组，使所述光源组件10中的所述第一光源11、所述第二光源13以及所述第三光源15发出的光线能够平行的透射或反射经过所述二向色镜，从而避免由于光线的发散角导致的所述检测装置中光线的传输效率降低的问题。
可以理解的是，所述光源组件还可以为一个波长可调光源与准直镜组的组合，具体的，所述波长可调光源的出射光线的波长能够进行调节，具体的，为了方便所述光源组件能够出射不同波长的光线，所述波长可调光源可以根据预设时序出射不同波长的光线，光线经过所述准直镜组后传输至所述起偏器。优选的，所述波长可调光源可以为激光光源，发光二极管或卤钨灯或其他能够为所述检测装置提供出射光线的光源。
在可选的实施方式中，所述检测装置还包括补偿片70，所述补偿片70设于所述分光棱镜60与所述校准组件80之间，所述补偿片70的快轴方向与所述分光棱镜60的透射偏振光的偏振方向相同或垂直。具体的，所述补偿片70用于对经过所述分光棱镜60的光线进行滤光，经过所述分光棱镜60透射或反射的光线会存在部分与所述分光棱镜60的反射方向不相同的杂散光，为了提高射出所述分光棱镜60的光线的偏振纯度，在所述分光棱镜60与所述校准组件80之间设置所述补偿片70，通过所述补偿片70对射出所述分光棱镜60的杂散光进行阻挡。
如图2所示，图2是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的装置结构示意图。
如图2所示，该装置可以包括：控制器1001，例如CPU，网络接口1004，用户接口1003，存储器1005，通信总线1002。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏（Display）、输入单元比如键盘（Keyboard），可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口（如WI-FI接口）。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器（non-volatile memory），例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述控制器1001的存储装置。
本领域技术人员可以理解，图2中示出的装置结构并不构成对装置的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
如图2所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及应用程序。
在图2所示的服务器中，网络接口1004主要用于连接后台服务器，与后台服务器进行数据通信；用户接口1003主要用于连接客户端（用户端），与客户端进行数据通信；而控制器1001可以用于调用存储器1005中存储的应用程序，并执行以下操作：
获取所述校准组件位于检测位置时，所述检测单元检测的第一亮度信息；
获取待测显示组件位于所述检测位置时，所述检测单元检测的第二亮度信息；
根据所述第一亮度信息与所述第二亮度信息，确定显示组件的显示参数，所述显示参数包括反射率、对比度、色温、色差、色彩均匀性以及亮度均匀性中的至少一个。
进一步地，控制器1001可以调用存储器1005中存储的应用程序，还执行以下操作：
确定所述第二子亮度信息与所述第一子亮度信息的第一比值；
获取第四子亮度信息与所述第一比值的第二比值；
获取所述第二比值与所述第三子亮度信息的第三比值，所述第三比值为所述待测显示组件的亮度均匀性。
为实现上述目的，本申请提出一种检测方法，所述检测方法应用于如上述任一项实施方式所述的检测装置，所述检测方法包括：
S100，获取所述校准组件80位于检测位置时，所述检测单元100检测的第一亮度信息；
其中，所述检测装置上设有检测位置，通过在所述检测位置上分别设置所述校准组件80与所述待测显示组件，通过分别测量所述校准组件80反射的所述第一亮度信息与所述待测显示组件反射的所述第二亮度信息，通过对所述第一亮度信息与所述第二亮度信息计算所述待测显示组件的显示参数，具体的，所述显示参数为包括反射率，对比度，亮度均匀性中的至少一个。
具体的，所述第一亮度信息是指当所述校准组件80设置在检测位置时，所述光源组件10发出的光线在经过所述校准组件80反射后，传输至所述检测单元100后，所述检测单元100检测到的光亮度。在一具体实施方式中，所述光源组件10发出的光线依次经过匀光元件20，中继镜组30，起偏器40与检偏器50后，在分光棱镜60发生反射后传输至所述校准组件80，所述光线在所述校准组件80再次反射后，依次透射经过所述分光棱镜60以及中性滤光片90后传输至所述检测单元100，从而通过所述检测单元100测量所述第一亮度信息。
优选实施方式中，所述检测单元100为亮度计，可以理解的是，所述检测单元100可以根据实际检测的显示参数进行调整，于其他实施方式中，所述检测单元100还可以为工业相机。
S200，获取待测显示组件位于所述检测位置时，所述检测单元100检测的第二亮度信息；
具体的，所述第二亮度信息是指当所述校准组件80设置在检测位置时，所述光源组件10发出的光线在经过所述待测显示组件反射后，传输至所述检测单元100后，所述检测单元100检测到的光亮度。在一具体实施方式中，所述光源组件10发出的光线依次经过匀光元件20，中继镜组30，起偏器40与检偏器50后，在分光棱镜60发生反射后传输至所述待测显示组件，所述光线在所述待测显示组件再次反射后，依次透射经过所述分光棱镜60以及中性滤光片90后传输至所述检测单元100，从而通过所述检测单元100测量所述第一亮度信息。
S300，根据所述第一亮度信息与所述第二亮度信息，确定显示组件的显示参数，所述显示参数包括反射率、对比度、色温、色差、色彩均匀性以及亮度均匀性中的至少一个。
在一具体实施方式中，所述检测装置用于测量所述待测显示组件的反射率，首先在所述检测位置设置所述校准组件80，当所述校准组件80处于开启状态时，所述校准组件80的所述相位延迟器81与所述分光棱镜60的偏振方向呈45度夹角，在通过所述检测单元100测量所述校准组件80在开启状态时的所述第一亮度信息L1，并根据所述第一亮度信息L1计算出考虑检测装置的入射光亮度信息L2，由于所述检测装置中存在光传输损耗，因此L2>L1。将所述检测位置上的所述校准组件80替换为所述待测显示组件后，测量所述待测显示组件的所述第二亮度信息L3。在确定所述第二亮度信息L3后，确定所述待测光源组件10的反射率，所述待测显示组件的反射率为L3/L2。
在另一具体实施方式中，所述检测装置用于测量所述待测显示组件的对比度，首先在所述检测位置设置所述校准组件80，当所述校准组件80处于关闭状态时，所述校准组件80的所述相位延迟器81与所述分光棱镜60的偏振方向呈90度夹角，测量所述校准组件80在关闭状态的亮度信息S3，然后测量所述待测显示组件在开启状态的亮度信息S1与在关闭状态的亮度信息S2，在确定S1，S2与S3后，确定所述待测显示组件的对比度为（S1-S3）/（S2-S3）。
可以理解的是，所述检测装置用于检测的所述显示参数不限于此，还可用于检测所述显示组件的色温、色差、色彩均匀性以及亮度均匀性中的至少一个。
在另一具体实施方式中，所述显示参数为亮度均匀性，所述显示参数为亮度均匀性，所述检测单元100的检测区域包括中心区域及至少一个边缘区域，第一亮度信息包括校准组件80中心区域的第一子亮度信息以及至少一个边缘区域的第二子亮度信息”所述第二亮度信息包括待测显示组件中心区域的第三子亮度信息以及至少一个边缘区域的第四子亮度信息，所述步骤S300包括：
S310，确定所述第二子亮度信息与所述第一子亮度信息的第一比值；
S320，获取第四子亮度信息与所述第一比值的第二比值；
S330，获取所述第二比值与所述第三子亮度信息的第三比值，所述第三比值为所述待测显示组件的亮度均匀性。
具体的，首先确定所述校准组件80在多个区域的亮度信息，其中，所述校准组件80不同区域反射的光线在传输至所述检测单元100的位置与所述校准组件80上的位置相对应。优选的，所述校准组件80上设有至少5个区域，1个区域设于所述校准组件80的中心位置，另外4个区域设于所述校准组件80的边缘，分别测量所述检测单元100检测的多个所述测试区域的亮度信息S1、S2、S3、S4、S5，在对所述校准组件80测量完成后，将所述检测位置上的所述校准组件80更换为所述待测显示组件，并在所述显示组件对应的所述测量区域进行测试，获取多个所述待测显示组件上多个所述测试区域的亮度信息S1’、 S2’、 S3’、S4’、 S5’。在完成亮度信息测试后，
设置a1=S1/S5，a2=S2/S5，a3=S3/S5，a4=S4/S5；
b1= S1’/a1，b2= S2’/a2，b1= S3’/a3，b4= S4’/a4；
那么所述待测显示组件的亮度均匀性为：
Uniformity=[（b1+b2+b3+b4）/4]/S5’。
在可选的实施方式中，在通过所述检测装置对所述待测显示组件进行检测时，还需要完成对所述检测装置继续调试，具体的，将所述检测单元100设置在检测位置，并且将中性滤光片90设置在分光棱镜60与检测单元100之间，通过所述检测单元100的检测数据对准直镜组的位置、起偏器40的偏振方向、检偏器50的偏振方向、分光棱镜60的设置角度、补偿版的设置角度进行调节，从而保证检测装置的检测数据的准确性及精确性。
为实现上述目的，本申请还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有显示程序，所述显示程序被处理器执行时实现如上述任一项实施方式所述的显示方法的步骤。
在一些可选的实施方式中，所述处理器可以是中央处理单元(CentralProcessing Unit，CPU)，还可以是其它通用处理器、数字信号处理器(Digital SignalProcessor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其它可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器可以是设备的内部存储单元，例如设备的硬盘或内存。所述存储器也可以是设备的外部存储设备，例如设备上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart MediaCard,SMC)，安全数字(Secure Digital,SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，所述存储器还可以既包括设备的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器用于存储所述计算机程序以及设备所需的其它程序和数据。所述存储器还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。
检测装置、检测方法及计算机可读存储介质专利购买费用说明
Q：办理专利转让的流程及所需资料
A：专利权人变更需要办理著录项目变更手续，有代理机构的，变更手续应当由代理机构办理。
1：专利变更应当使用专利局统一制作的“著录项目变更申报书”提出。
2：按规定缴纳著录项目变更手续费。
3：同时提交相关证明文件原件。
4：专利权转移的，变更后的专利权人委托新专利代理机构的，应当提交变更后的全体专利申请人签字或者盖章的委托书。
Q:专利著录项目变更费用如何缴交
A：（1）直接到国家知识产权局受理大厅收费窗口缴纳,（2）通过代办处缴纳，（3）通过邮局或者银行汇款,更多缴纳方式
Q：专利转让变更，多久能出结果
A：著录项目变更请求书递交后，一般1-2个月左右就会收到通知，国家知识产权局会下达《转让手续合格通知书》。
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