放射线图像读取装置

IPC分类号 : H04N1/04,A61B6/00,G02B5/26,G02B5/28,G03B42/02,G21K4/00

申请号

CN201780062934.X

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专利摘要

本发明的放射线图像读取装置包括：对于记录了放射线图像的记录介质的表面沿扫描线扫描激励光的光扫描部；在包含扫描线且与记录介质的表面交叉的检测面内，检测通过激励光的扫描从记录介质的表面放出的信号光的光检测部；和配置在记录介质的表面与光检测部之间的滤光器。在记录介质的表面反射的激励光透射滤光器的透射率、和在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度大的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率，分别比在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度小的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率小。

权利要求

1.一种放射线图像读取装置，其特征在于，包括：

对于记录了放射线图像的记录介质的表面沿扫描线扫描激励光的光扫描部；

在包含所述扫描线且与所述记录介质的所述表面交叉的检测面内，检测通过所述激励光的扫描从所述记录介质的所述表面放出的信号光的光检测部；

配置在所述记录介质的所述表面与所述光检测部之间的滤光器；和

配置在所述记录介质的所述表面与所述滤光器之间的光学元件，

在所述记录介质的所述表面反射的所述激励光透射所述滤光器的透射率、和在所述检测面内相对于与所述扫描线垂直的方向成比规定角度大的角度而从所述记录介质的所述表面放出的所述信号光透射所述滤光器的透射率，分别比在所述检测面内相对于与所述扫描线垂直的方向成比所述规定角度小的角度而从所述记录介质的所述表面放出的所述信号光透射所述滤光器的透射率小，

所述光学元件，在所述检测面内，使入射到所述光学元件的所述激励光和所述信号光不聚光而入射到所述光检测部。

2.如权利要求1所述的放射线图像读取装置，其特征在于：

在所述检测面内所述激励光的扫描区域和所述信号光的检测区域处于中央对齐的位置关系的情况下，设所述扫描区域的宽度为W1，所述检测区域的宽度为W2，所述扫描区域与所述检测区域的距离为D，所述规定角度为θ时，其中，W2＞W1，

θ＝tan-1{(W2-W1)/2D}成立。

3.如权利要求1所述的放射线图像读取装置，其特征在于：

所述滤光器具有：

玻璃板；

形成于所述玻璃板的一个表面的第1电介质多层膜；和

形成于所述玻璃板的另一个表面的第2电介质多层膜，

在所述记录介质的所述表面反射的所述激励光透射所述第1电介质多层膜和所述第2电介质多层膜的透射率、以及在所述检测面内相对于与所述扫描线垂直的方向成比所述规定角度大的角度而从所述记录介质的所述表面放出的所述信号光透射所述第1电介质多层膜和所述第2电介质多层膜的透射率，分别比在所述检测面内相对于与所述扫描线垂直的方向成比所述规定角度小的角度而从所述记录介质的所述表面放出的所述信号光透射所述第1电介质多层膜和所述第2电介质多层膜的透射率小。

4.如权利要求2所述的放射线图像读取装置，其特征在于：

所述滤光器具有：

玻璃板；

形成于所述玻璃板的一个表面的第1电介质多层膜；和

形成于所述玻璃板的另一个表面的第2电介质多层膜，

5.如权利要求1～4中任一项所述的放射线图像读取装置，其特征在于：

所述光学元件具有仅在与所述检测面垂直的面内，使在所述记录介质的所述表面反射的所述激励光和从所述记录介质的所述表面放出的所述信号光聚光的功能。

6.如权利要求1～4中任一项所述的放射线图像读取装置，其特征在于：

所述光检测部包括沿与所述扫描线平行的方向排列的多个光检测元件，

多个所述光检测元件作为一个信道被控制。

7.如权利要求5所述的放射线图像读取装置，其特征在于：

所述光检测部包括沿与所述扫描线平行的方向排列的多个光检测元件，

多个所述光检测元件作为一个信道被控制。

说明书

技术领域

本发明的一个方面涉及放射线图像读取装置。

背景技术

已知一种放射线图像读取装置，其包括：对记录了放射线图像的记录介质的表面扫描激励光的光扫描部；和通过激励光的扫描检测从记录介质的表面放出的信号光的光检测部(例如参照专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2002-77548号公报

发明内容

发明要解决的课题

上述那样的放射线图像读取装置，有时要求装置大小的小型化。但是，如果为了装置大小的小型化，例如以距离记录介质的表面的距离变小的方式配置光检测部，则有时放射线图像的读取精度会降低。

于是，本发明的一个方面的目的在于提供一种能够兼顾装置大小的小型化和放射线图像的读取精度的维持的放射线图像读取装置。

用于解决课题的方法

本发明的一个方面的放射线图像读取装置包括：对于记录了放射线图像的记录介质的表面沿扫描线扫描激励光的光扫描部；在包含扫描线且与记录介质的表面交叉的检测面内，检测通过激励光的扫描从记录介质的表面放出的信号光的光检测部；和配置在记录介质的表面与光检测部之间的滤光器，在记录介质的表面反射的激励光透射滤光器的透射率、和在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度大的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率，分别比在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度小的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率小。

在该放射线图像读取装置中，在记录介质的表面反射的激励光透射滤光器的透射率、和成比规定角度大的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率，分别比在相对于与的成比规定角度小的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射滤光器的透射率小。由此，能够抑制因激励光入射到光检测部而导致放射线图像的读取精度降低的情况。另外，即使为了装置大小的小型化而以距离记录介质的表面的距离变小的方式配置光检测部且限制了与扫描线平行的方向上的光检测部的长度，也能够抑制因信号光具有发散角而导致放射线图像的读取精度降低的情况。因信号光具有发散角而导致放射线图像的读取精度降低的理由如下。即，由于从记录介质的表面放出的信号光具有发散角，所以当为了装置大小的小型化而以距离记录介质的表面的距离变小的方式配置光检测部且限制与扫描线平行的方向上的光检测部的长度时，例如在扫描线的中央部信号光全部入射到光检测部，而在扫描线的两个端部的的信号光没有全部入射到光检测部。即，在该放射线图像读取装置中，即使实现了装置大小的小型化，也能够抑制在扫描线的中央部和两个端部从记录介质的表面放出的信号光的检测范围产生差异的情况。如上所述，根据该放射线图像读取装置，能够兼顾装置大小的小型化和放射线图像的读取精度的维持。

在本发明的一个方面的放射线图像读取装置中，在检测面内激励光的扫描区域和信号光的检测区域处于中央对齐的位置关系的情况下，设扫描区域的宽度为W1，检测区域的宽度为W2(＞W1)，扫描区域与检测区域的距离为D，规定角度为θ时，可以成立θ＝tan-1{(W2-W1)/2D}。根据该结构，在扫描线的中央部和两个端部，从记录介质的表面放出的信号光的检测范围变得同等，所以能够进一步可靠抑制放射线图像的读取精度的下降。

在本发明的一个方面的放射线图像读取装置中，滤光器具有：玻璃板；形成于玻璃板的一个表面的第1电介质多层膜；和形成于玻璃板的另一表面的第2电介质多层膜，在记录介质的表面反射的激励光透射第1电介质多层膜和第2电介质多层膜的透射率、以及在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度大的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射第1电介质多层膜和第2电介质多层膜的透射率，分别比在检测面内相对于与扫描线垂直的方向成比规定角度小的角度而从记录介质的表面放出的信号光透射第1电介质多层膜和第2电介质多层膜的透射率小。根据该结构，能够容易且可靠地获得具有上述功能的滤光器。

本发明的一个方面的放射线图像读取装置可以还包括光学元件，其配置在记录介质的表面与滤光器之间，具有仅在与检测面垂直的面内，使在记录介质的表面反射的激励光和从记录介质的表面放出的信号光聚光的功能。根据该结构，作为光检测部，能够使用包括沿与扫描线平行的方向排列的多个光检测元件的光检测部。

在本发明的一个方面的放射线图像读取装置中，光检测部可以包括沿与扫描线平行的方向排列的多个光检测元件，多个光检测元件作为一个信道被控制。根据该结构，能够以更加简单的结构读取放射线图像。

发明效果

根据本发明的一个方面，能够提供一种能够兼顾装置大小的小型化和放射线图像的读取精度的维持的放射线图像读取装置。

附图说明

图1是一个实施方式的放射线图像读取装置的结构图，是放射线图像读取时的图。

图2是图1的放射线图像读取装置的一部分的立体图。

图3是图1的放射线图像读取装置的光检测部的结构图。

图4是图1的放射线图像读取装置的滤光器的结构图。

图5是表示图4的滤光器的一个实施例的透射率特性的图。

图6是图1的放射线图像读取装置的一部分的放大图。

图7是图1的放射线图像读取装置的结构图，是放射线图像消去时的图。

图8是沿图6的VIII-VIII线的截面图。

图9是表示光对于激励光的扫描位置的强度分布的图。

图10(a)是第1变形例的滤光器的结构图。图10(b)是第2变形例的滤光器的结构图。图10(c)是第3变形例的滤光器的结构图。

具体实施方式

下面，参照附图对本发明的实施方式进行详细的说明。其中，在各图中，对相同或对应部分标注相同附图标记，省略重复说明。

如图1所示，放射线图像读取装置1包括：壳体2；多个输送辊对3、搬入检测传感器4、光扫描部5、光学元件6、滤光器10、光检测部7、和放射线图像消去部8。放射线图像读取装置1是读取记录在成像板(记录介质)IP中的放射线图像的装置。

壳体2收纳多个输送辊对3、搬入检测传感器4、光扫描部5、光学元件6、滤光器10、光检测部7和放射线图像消去部8等。壳体2保护收纳于壳体2中的各部件不受外部影响，并且遮挡来自外部的光。在壳体2设置有搬入成像板IP的搬入口2a和搬出成像板IP的搬出口2b。搬入口2a设置于X轴方向的壳体2的一个壁部。搬出口2b设置于X轴方向的壳体2的另一个壁部。

多个输送辊对3以彼此隔开间隔的状态沿X轴方向并排设置。构成各输送辊对3的一对辊31，沿Y轴方向延伸，以彼此隔开间隔的状态在Z轴方向上彼此相对。一对辊31之间的间隙，与成像板IP的厚度大致相同。多个输送辊对3配置成，在Z轴方向上以一对辊31之间的间隙的位置与搬入口2a和搬出口2b的位置大致相同。在放射线图像读取装置1中，成像板IP从搬入口2a被搬入，由多个输送辊对3沿X轴方向输送，从搬出口2b被搬出。

搬入检测传感器4配置于壳体2的搬入口2a附近。搬入检测传感器4在从搬入口2a搬入成像板IP时，检测成像板IP被搬入了的情况。作为搬入检测传感器4，可以使用例如机械开关(例如，欧姆龙制的D2F-01FL-D3)，或者也可以使用光电遮断器等光检测型传感器。其中，考虑到通过照射从光检测型传感器发出的光，有可能导致记录于成像板IP的放射线图像劣化，优选机械开关。

如图1和图2所示，光扫描部5具有激励光源单元51和位置调节反射镜52。激励光源单元51包括激励光源(未图示)和MEMS(Micro Electro Mechanical System)镜(未图示)。激励光源单元51以与Z轴方向平行的轴线为中心线使激励光EL摆动，同时沿X轴方向出射激励光EL。位置调节反射镜52构成为能够以与Y轴方向平行的轴线为中心线调节反射面的朝向。位置调节反射镜52将从激励光源单元51出射的激励光EL在扫描线L上反射。扫描线L是位于由多个输送辊对3输送的成像板IP的表面IPa(记录了放射线图像的表面)上的假想线，例如是与Y轴方向平行的线。在放射线图像读取装置1中，光扫描部5对记录了放射线图像的成像板IP的表面IPa沿扫描线L扫描激励光EL(即，沿扫描线L使激励光EL的照射区域(聚光区域)往复运动)。

光检测部7配置成在Z轴方向上与扫描线L相对。光检测部7在检测面S内检测通过激励光EL的扫描从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL。检测面S是包含扫描线L且与成像板IP的表面IPa交叉的假想面，例如是与YZ平面平行的面。

如图3所示，光检测部7具有：多个光电二极管(光检测元件)71、开关72、放大器73和A/D转换器74。光检测部7具体来说是MPPC(Multi-Pixel Photon Counter)。MPPC是由多个光电二极管71的像素构成的光子计数器件。多个光电二极管71沿Y轴方向(即，与扫描线L平行的方向)排列。多个光电二极管71经由配线75与一个开关72的一端并联连接。开关72的另一端与放大器73连接。放大器73与A/D转换器74连接。其中，对光电二极管71施加相对极性不同的电位。可以将其中一方的电位V2设为接地电位。

当信号光FL入射到光检测部7时，各光电二极管71根据入射的信号光FL的光量输出电信号。从各光电二极管71输出的电信号，被相加，经由放大器73和A/D转换器74，被输入到例如控制部(未图示)。即，多个光电二极管71作为一个信道被控制。

如图1和图2所示，滤光器10配置在扫描线L与光检测部7之间。即，滤光器10配置在由多个输送辊对3输送的成像板IP的表面IPa与光检测部7之间。滤光器10使在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL衰减。另外，滤光器10使在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度大的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL衰减，使在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度小的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL透射。另外，滤光器10使在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成规定角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL透射。

在此，“使在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL衰减”，是指该激励光EL透射滤光器10的透射率平均小于50％的情况。在此，“使在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度大的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL衰减”，是指该信号光FL透射滤光器10的透射率平均小于50％的情况。在此，“使在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度小的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL透射”，是指该信号光FL透射滤光器10的透射率平均为50％以上的情况。

如图4所示，滤光器10具有玻璃板11、第1电介质多层膜12和第2电介质多层膜13。玻璃板11具有在Z轴方向上彼此相对的第1表面(一个表面)11a和第2表面(另一个表面)11b。第1表面11a是玻璃板11上的扫描线L一侧的面。第2表面11b是玻璃板11上的光检测部7一侧的面。玻璃板11是使信号光FL透射的部件。玻璃板11由对激励光EL具有吸收性的有色玻璃形成。第1电介质多层膜12形成于第1表面11a。第2电介质多层膜13形成于第2表面11b。第1电介质多层膜12和第2电介质多层膜13分别是例如SiO2和Ta2O5交替层叠而成的层叠体。第1电介质多层膜12和第2电介质多层膜13例如通过溅射或蒸镀分别形成于玻璃板11的第1表面11a和第2表面11b。

另外，滤光器10中，第1电介质多层膜12和第2电介质多层膜13使由多个输送辊对3输送的在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL、和在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度大的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL衰减，使在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度小的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL透射。

图5是表示滤光器10的一个实施例的透射率特性的图。发明人在滤光器10的一个实施例中，对具有各种波长的光以各种角度(在检测面S内，相对于与扫描线L垂直的方向所成角度(此处，称为“入射角度”))入射到滤光器10时的光的透射率进行了调查。如图5所示，相当于激励光EL的波长的波长650nm，与入射角度无关地，透射率都为大致0。另外，相当于信号光FL的波长的波长400nm，在入射角度0度、20度、40度时透射率不超过95％，与之相对地，在入射角度60度时，透射率低于20％。即，根据该滤光器10的一个实施例可知，当信号光FL的波长为400nm时，可将大于40度小于60度的角度设为上述的规定角度。

如图1和图2所示，光学元件6配置在扫描线L与滤光器10之间。即，光学元件6配置在由多个输送辊对3输送的成像板IP的表面IPa与滤光器10之间。

如图6所示，光学元件6是例如呈以与Y轴方向平行的轴线为中心线的圆柱状的棒状透镜。由此，光学元件6在与ZX平面平行的面内使入射到光学元件6的激励光EL和信号光FL在排列了多个光电二极管71的线上聚光。另一方面，光学元件6在与检测面S内使入射到光学元件6的激励光EL和信号光FL实质上不聚光地入射到多个光电二极管71。即，光学元件6仅在与检测面S垂直的面(即，与ZX平面平行面)内，具有使在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL和从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL聚光的功能。

如图1和图2所示，放射线图像消去部8配置在成像板IP的输送方向上的扫描线L的下游侧。放射线图像消去部8例如通过对成像板IP的表面IPa照射白色光，从成像板IP的表面IPa消去放射线图像。作为放射线图像消去部8，可使用例如白色LED(Light EmittingDiode)等白色灯、荧光灯等。

以如上方式构成的放射线图像读取装置1，以如下方式读取记录于成像板IP的放射线图像。

如图1所示，成像板IP以成像板IP的表面IPa朝向光检测部7一侧的状态从搬入口2a被搬入到壳体2的内部。此时，由搬入检测传感器4检测出成像板IP被搬入了的情况，开始输送辊对3和光扫描部5的动作。搬入于壳体2的内部的成像板IP，由输送辊对3沿X轴方向输送。当成像板IP被输送到与光检测部7相对的位置时，光扫描部5对成像板IP的表面IPa沿扫描线L扫描激励光EL。在成像板IP的表面IPa扫描的激励光EL，在成像板IP的表面IPa被反射。与此同时，从被激励光EL扫描的成像板IP的表面IPa放出信号光FL。光检测部7检测透射了光学元件6和滤光器10的信号光FL。然后，如图7所示，成像板IP利用放射线图像消去部8将记录于成像板IP的表面IPa的放射线图像消去之后，从搬出口2b被搬出。根据放射线图像读取装置1，对成像板IP的表面IPa中的记录了放射线图像的区域的整体照射激励光EL，能够通过对该区域的整体检测信号光FL来形成放射线图像。

接着，对激励光EL的扫描区域和信号光FL的检测区域的关系进行说明。

如图8所示，在检测面S内，激励光EL的扫描区域R1的宽度(Y轴方向上的宽度)为W1。激励光EL的扫描区域R1是指在检测面S内，在成像板IP的表面IPa扫描激励光EL的范围。即，在检测面S内，激励光EL的扫描区域R1的宽度W1，与扫描线L的长度相同。在检测面S内，信号光FL的检测区域R2的宽度(Y轴方向上的宽度)为W2。信号光FL的检测区域R2是指在检测面S内，光检测部7检测光的范围。即，与沿Y轴方向排列的多个光电二极管71的检测区域的长度相同。在检测面S内，信号光FL的检测区域R2的宽度W2，比激励光EL的扫描区域R1的宽度W1长。在检测面S内，激励光EL的扫描区域R1和信号光FL的检测区域R2处于中央对齐的位置关系。所谓中央对齐的位置关系，是指在检测面S内，激励光EL的扫描区域R1的中央的位置(Y轴方向的中央的位置)与信号光FL的检测区域R2的中央的位置(Y轴方向的中央的位置)在Y轴方向上一致。在Z轴方向上，激励光EL的扫描区域R1与信号光FL的检测区域R2的距离为D。此时，设上述滤光器10的规定角度为θ，则成立θ＝tan-1{(W2-W1)/2D}。

如以上说明的那样，在放射线图像读取装置1中，在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL被滤光器10衰减。即，在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度θ小的角度而在成像板IP的表面IPa反射的的激励光EL、在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度θ大的角度而从成像板IP的表面IPa反射的激励光EL、以及在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成规定角度θ而在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL，被滤光器10衰减。由此，能够抑制因激励光EL入射到光检测部7而导致放射线图像的读取精度降低的情况。另外，在放射线图像读取装置1中，成比规定角度θ大的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL被滤光器10衰减，成比规定角度θ小的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL透射滤光器10。由此，即使为了装置大小的小型化而以距离成像板IP的表面IPa的距离变小的方式配置光检测部7且限制了与扫描线L平行的方向上的光检测部7的长度，也能够抑制因信号光FL具有发散角而导致放射线图像的读取精度降低的情况。如上所述，根据放射线图像读取装置1，能够兼顾装置大小的小型化和放射线图像的读取精度的维持。

因信号光FL具有发散角而导致放射线图像的读取精度降低的理由如下。即，由于从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL具有发散角，所以当为了装置大小的小型化而以距离成像板IP的表面IPa的距离变小的方式配置光检测部7且限制与扫描线L平行的方向上的光检测部7的长度时，例如在扫描线L的中央部信号光全部入射到光检测部7，而在扫描线L的两个端部(激励光EL的扫描区域R1的两个端部)信号光FL没有全部入射到光检测部7。

具体来说，如图8所示，在检测面S内，例如在扫描线L的一端部，相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度θ小的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL2(FL)、和相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度θ大的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL1(FL)中的在与扫描线L垂直的方向上行进到扫描线L的另一端部侧的信号光FL1，入射到光检测部7。另一方面，相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度θ大的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL1(FL)中的在与扫描线L垂直的方向上行进到与扫描线L的另一端部相反侧的信号光FL1，不入射到光检测部7。如上所述，在扫描线L的中央部和两个端部，从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL的检测范围产生差异。

如上所述，在放射线图像读取装置1中，滤光器10使相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度θ大的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL1(FL)衰减。即，在放射线图像读取装置1中，即使实现了装置大小的小型化，也能够抑制在扫描线L的中央部和两个端部从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL的检测范围产生差异的情况。

在现有的放射线图像读取装置中，有时将在检测面S内沿与扫描线L垂直的方向使在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL衰减的电介质多层膜用作激励光截止滤光器。在这种情况下，有时在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成规定角度而在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL没有充分衰减。图9是表示采用了这种激励光截止滤光器的情况下，由配置于Y轴方向的光检测部7的中央的光电二极管71检测出的光的强度分布的图。其中，图9表示激励光EL沿扫描线L多次扫描了时的光的强度分布，虚线相当于与配置于中央的光电二极管71相对的位置(激励光EL的扫描位置)。在这种情况下，在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成规定角度而在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL，入射到光检测部7。因此，如图9所示，由配置于Y轴方向的光检测部7的中央的光电二极管71检测出的强度分布，在激励光EL的扫描位置远离虚线的两侧被增强。与之相对地，在放射线图像读取装置1中，滤光器10不仅使在检测面S内沿与扫描线L垂直的方向在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL衰减，而且也使检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成规定角度而在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL衰减。由此，由配置于Y轴方向的光检测部7的中央的光电二极管71检测出的强度分布，在激励光EL的扫描位置远离虚线的两侧被增强的情况受到抑制。

另外，在放射线图像读取装置1中，在检测面S内激励光EL的扫描区域R1和信号光FL的检测区域R2处于中央对齐的位置关系的情况下，设扫描区域R1的宽度为W1，检测区域R2的宽度为W2(＞W1)，扫描区域R1与检测区域R2的距离为D，规定角度为θ时，成立θ＝tan-1{(W2-W1)/2D}。根据该结构，在扫描线L的中央部和两个端部，从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL的检测范围变得同等，所以能够进一步可靠抑制放射线图像的读取精度的下降。

另外，在放射线图像读取装置1中，滤光器10具有：玻璃板11、形成于玻璃板11的第1表面11a的第1电介质多层膜12、和形成于玻璃板11的第2表面11b的第2电介质多层膜13。根据该结构，能够容易且可靠地获得具有上述功能的滤光器10。例如，只要第1电介质多层膜12和第2电介质多层膜13符合下述特征，则滤光器10具有上述的功能。即，只要第1电介质多层膜12使在检测面S内相对于扫描线L以比规定角度θ大的角度从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL1(FL)、和在检测面S内相对于扫描线L以比规定角度θ小的角度在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL衰减，第2电介质多层膜13使在检测面S内相对于扫描线L以比规定角度θ大的角度在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL衰减即可。像这样，在用一种电介质多层膜难以获得具有上述功能的滤光器10的情况下，通过组合两种以上的电介质多层膜，能够获得具有上述功能的滤光器10。另外，第1电介质多层膜12和第2电介质多层膜13的功能并不限定于上述，只要能够获得上述功能的滤光器10，第1电介质多层膜12和第2电介质多层膜13各自使之衰减的光的种类能够任意设定。另外，玻璃板11由对于激励光EL具有吸收性的有色玻璃形成，所以在滤光器10的内部在第1电介质多层膜12和第2电介质多层膜13反射的激励光EL被玻璃板11吸收，能够更可靠地抑制激励光EL入射到光检测部7的情况。另外，能够分别使第1电介质多层膜12和第2电介质多层膜13在玻璃板11的第1表面11a和第2表面11b稳定地形成。

另外，在放射线图像读取装置1中，具有仅在与检测面S垂直的面内，使在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL和从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL聚光的功能的光学元件6，配置在成像板IP的表面IPa与滤光器10之间。根据该结构，作为光检测部7，能够使用包括沿与扫描线L平行的方向排列的多个光电二极管71的光检测部。

另外，在放射线图像读取装置1中，在光检测部7中，沿与扫描线L平行的方向排列的多个光电二极管71作为一个信道被控制。根据该结构，能够以更加简单的结构读取放射线图像。

以上，对本发明的一个实施方式的进行了说明，但本发明的一个方面并不限定于上述实施方式。

在上述实施方式中，在光检测部7中多个光电二极管71作为一个信道被控制，但也可以多个光电二极管71作为多个信道被控制。通过将多个光电二极管71作为多个信道控制，与将多个光电二极管71作为一个信道控制的情况相比，能够减少噪声。另外，在将多个光电二极管71作为多个信道控制的情况下，即使使激励光EL不沿扫描线L扫描而将激励光EL对扫描区域R1的整体照射，也能够读取记录于成像板IP的表面IPa的放射线图像。

另外，上述实施方式中，“在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL”透射滤光器10的透射率为平均小于50％，“在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度大的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL”透射滤光器10的透射率为平均小于50％，“在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度小的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL”透射滤光器10的透射率为平均50％以上，但各透射率的值并不限定于此。只要“在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL”透射滤光器10的透射率(例如平均的透射率)、和“在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度大的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL”透射滤光器10的透射率(例如平均的透射率)分别比“在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度小的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL”透射滤光器10的透射率(例如平均的透射率)小，就能够兼顾装置大小的小型化和放射线图像的读取精度的维持。但是，由于激励光EL一般比信号光FL强度强，所以激励光EL透射滤光器10的透射率优选平均小于1％。

另外，在上述实施方式中，光学元件6呈圆柱状，但光学元件6只要具有仅在与检测面S垂直的面内使从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL聚光的功能，其形状就不作限定。另外，光学元件6、滤光器10和光检测部7可以彼此接触(参照图6)，也可以彼此隔开间隔。

另外，如图10(a)所示，也可以第1电介质多层膜12和第2电介质多层膜13两者形成于玻璃板11的第2表面11b。具体来说，可以第1电介质多层膜12形成于玻璃板11的第2表面11b，第2电介质多层膜13形成于第1电介质多层膜12。另外，也可以第2电介质多层膜13形成于玻璃板11第2表面11b，第1电介质多层膜12形成于第2电介质多层膜13。

另外，如图10(b)所示，也可以滤光器10具有多个玻璃板11。在这种情况下，在一个玻璃板11的表面11a形成第1电介质多层膜12，在另一个玻璃板11的表面11b形成第2电介质多层膜13。而且，多个玻璃板11以被第1电介质多层膜12和第2电介质多层膜13夹着的方式彼此连接。另外，如图10(c)所示，也可以第1电介质多层膜12和第2电介质多层膜13以夹着玻璃板11的方式彼此连接。

另外，在上述实施方式中，滤光器10使在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成规定角度θ而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL透射，但是滤光器10也可以使在检测面S内相对于与扫描线L垂直的方向成规定角度θ而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL衰减。

另外，在上述实施方式中，滤光器10成立θ＝tan-1{(W2-W1)/2D}，但滤光器10只要能够在检测面S内使在成像板IP的表面IPa反射的激励光EL、和相对于与扫描线L垂直的方向成比规定角度θ大的角度而从成像板IP的表面IPa放出的信号光FL1(FL)衰减即可，规定角度θ的大小能够根据需要设定。其中，规定角度θ越小，越能够抑制放射线图像的读取精度降低。

另外，在检测面S内，不论激励光EL的扫描区域R1和信号光FL的检测区域R2是否处于中央对齐的位置关系，规定角度θ都能够以如下方式取值。参照图8，规定角度θ能够取在检测面S内连结扫描区域R1的一端(Y轴方向上的一侧的端)与检测区域R2的一端(Y轴方向上的一侧的端)的假想线相对于与扫描线L垂直的方向所成的角度。或者，规定角度θ能够取在检测面S内连结扫描区域R1的另一端(Y轴方向上的另一侧的端)与检测区域R2的另一端(Y轴方向上的另一侧的端)的假想线相对于与扫描线L垂直的方向所成的角度。另外，在激励光EL的扫描区域R1和信号光FL的检测区域R2不处于中央对齐的位置关系的情况下，在一侧与另一侧规定角度θ不同，但在这种情况下，出于维持放射线图像的读取精度的观点，优选采用一侧的规定角度θ和另一侧的规定角度θ中较小的规定角度θ。

另外，在上述实施方式中，在光检测部7中，多个光电二极管71沿Y轴方向一维排列，但多个光电二极管71也可以在与XY平面平行的面内二维排列。

附图标记说明

1…放射线图像读取装置

5…光扫描部

10…滤光器

11…玻璃板

11a…第1表面

11b…第2表面

12…第1电介质多层膜

13…第2电介质多层膜

6…光学元件

7…光检测部