专利摘要

本发明涉及一种3C产品外壳检测筛分设备，包括机架，所述的机架上设置输送槽，所述的输送槽中部开设有检测凹口，所述的检测凹口内设置有与外壳配合的平整检测装置，所述的输送槽的尾部开设有能够使外壳穿过的筛分口，并设置有与筛分口配合的筛分挡料块，所述的筛分口的下方配合有筛分装置；本发明的目的是提供一种3C产品外壳检测筛分设备，在输送槽内设置平整检测装置，并通过筛分口配合筛分装置能够将平整检测装置检测后的产品按照检测结构进行筛分出料，极大的提高了整体加工的效率。

权利要求

1.一种3C产品外壳检测筛分设备，包括机架（1），其特征在于，所述的机架（1）上设置输送槽（2），所述的输送槽（2）中部开设有检测凹口（21），所述的检测凹口（21）内设置有与外壳（3）配合的平整检测装置（7），所述的输送槽（2）的尾部开设有能够使外壳（3）穿过的筛分口（4），并设置有与筛分口（4）配合的筛分挡料块（5），所述的筛分口（4）的下方配合有筛分装置（8），所述的筛分装置（8）包括设置在机架（1）上且位于筛分口（4）下方的筛分筒（11），所述的筛分筒（11）内设置有三层筛分出料块（14），且每层筛分出料块（14）上均开设有与筛分口（4）位置及大小均对应的筛分落料口（15），所述的筛分筒（11）内设置有竖直走向的筛分接料气缸（12），所述的筛分接料气缸（12）上连接有可穿入到筛分口（4）的筛分接料块（13），所述的筛分筒（11）的侧部设置有出料推动座（16），所述的出料推动座（16）上设置有三个出料推动气缸（17），每个出料推动气缸（17）连接有可穿入到筛分筒（11）内的出料推动块（18），且三个出料推动块（18）分别与三层筛分接料块（13）的高度一致。

2.根据权利要求1所述的一种3C产品外壳检测筛分设备，其特征在于，所述的平整检测装置（7）包括设置在检测凹口（21）内的检测安装块（23），所述的检测安装块（23）配合有可反应升降幅度的检测升降装置，所述的检测安装块（23）的上部阵列开设有检测孔，所述的检测孔内通过检测弹簧（24）连接有检测柱（25），所述的检测柱（25）的上端为弧形，且弧形最高点设置有第一接触感应器，所述的输送槽（2）上部设置有上框架（28），所述的上框架（28）上设置有检测拦截气缸（31）和检测压料气缸（29），所述的检测拦截气缸（31）下方连接有使外壳（3）与平整检测装置（7）位置对接的检测拦截块（32），所述的检测压料气缸（29）连接有与外壳配合的检测压料块（30）。

3.根据权利要求2所述的一种3C产品外壳检测筛分设备，其特征在于，所述的检测升降装置包括设置在检测凹口（21）内且与检测安装块（23）连接的检测升降气缸（22），所述的检测安装块（23）的下方设置有磁栅尺（26），所述的检测凹口（21）内设置有与磁栅尺（26）配合的磁栅读头（27），所述的磁栅尺（26）不少于两组，且关于检测安装块（23）的中心对称设置。

4.根据权利要求2所述的一种3C产品外壳检测筛分设备，其特征在于，所述的检测压料块（30）的下方设置有与外壳（3）侧板配合的第二接触感应器（33），且第二接触感应器（33）的数量和位置与外壳（3）的侧板一一对应。

5.根据权利要求4所述的一种3C产品外壳检测筛分设备，其特征在于，所述的检测压料块（30）远离检测拦截块（32）的一端还设置有竖直板，竖直板内开设在有上大下小阶梯状的高度检测活动孔（34），所述的高度检测活动孔（34）内配合有高度检测活动柱（35），高度检测活动柱（35）的上端为与高度检测活动孔（34）上部大口径的部位配合的块体，所述的高度检测活动柱（35）的下部设置有高度检测活动块（36），所述的高度检测活动块（36）的下方设置有第三接触感应器（37）。

6.根据权利要求2所述的一种3C产品外壳检测筛分设备，其特征在于，所述的输送槽（2）位于平整检测装置（7）的进料侧还设置有视觉检测装置（6），所述的视觉检测装置（6）包括设置在上框架（28）下方的CCD检测器（41）和设置在输送槽（2）下方的视觉检测顶料气缸（42），所述的视觉检测顶料气缸（42）有四组，分别与外壳（3）的前后左右四个部分配合，且视觉检测顶料气缸（42）的气缸头可穿过输送槽（2）。

说明书

技术领域

本发明涉及3C产品加工领域，尤其涉及一种3C产品外壳检测筛分设备。

背景技术

所谓3C产品，就是计算机(Computer)、通信(Communication)和消费类电子产品(ConsumerElectronics)三者结合，也称信息家电，手机是一种常见的3C产品，其外壳大多为金属材料，通过铸造成型而成，对于初步成型的产品，需要对其进行一定的检测，其中外壳外侧的平整度检测是一项重要的检测，通过平整度检测将其分为合格产品，可以通过打磨成合格产品和不合格产品，因此需要对检测后的产品进行筛分处理，现有的筛分大多都是采用人工进行，无法与平整检测装置实现一体化加工，进而效率不高。

发明内容

本发明的目的是提供一种3C产品外壳检测筛分设备，在输送槽内设置平整检测装置，并通过筛分口配合筛分装置能够将平整检测装置检测后的产品按照检测结构进行筛分出料，极大的提高了整体加工的效率。

为了实现以上目的，本发明采用的技术方案为：一种3C产品外壳检测筛分设备，包括机架，所述的机架上设置输送槽，所述的输送槽中部开设有检测凹口，所述的检测凹口内设置有与外壳配合的平整检测装置，所述的输送槽的尾部开设有能够使外壳穿过的筛分口，并设置有与筛分口配合的筛分挡料块，所述的筛分口的下方配合有筛分装置。

优选的，所述的筛分装置包括设置在机架上且位于筛分口下方的筛分筒，所述的筛分筒内设置有三层筛分出料块，且每层筛分出料块上均开设有与筛分口位置及大小均对应的筛分落料口，所述的筛分筒内设置有竖直走向的筛分接料气缸，所述的筛分接料气缸上连接有可穿入到筛分口的筛分接料块，所述的筛分筒的侧部设置有出料推动座，所述的出料推动座上设置有三个出料推动气缸，每个出料推动气缸连接有可穿入到筛分筒内的出料推动块，且三个出料推动块分别与三层筛分接料块的高度一致。

优选的，所述的平整检测装置包括设置在检测凹口内的检测安装块，所述的检测安装块配合有可反应升降幅度的检测升降装置，所述的检测安装块的上部阵列开设有检测孔，所述的检测孔内通过检测弹簧连接有检测柱，所述的检测柱的上端为弧形，且弧形最高点设置有第一接触感应器，所述的输送槽上部设置有上框架，所述的上框架上设置有检测拦截气缸和检测压料气缸，所述的检测拦截气缸下方连接有使外壳与平整检测装置位置对接的检测拦截块，所述的检测压料气缸连接有与外壳配合的检测压料块。

优选的，所述的检测升降装置包括设置在检测凹口内且与检测安装块连接的检测升降气缸，所述的检测安装块的下方设置有磁栅尺，所述的检测凹口内设置有与磁栅尺配合的磁栅读头，所述的磁栅尺不少于两组，且关于检测安装块的中心对称设置。

优选的，所述的检测压料块的下方设置有与外壳侧板配合的第二接触感应器，且第二接触感应器的数量和位置与外壳的侧板一一对应。

优选的，所述的检测压料块远离检测拦截块的一端还设置有竖直板，竖直板内开设在有上大下小阶梯状的高度检测活动孔，所述的高度检测活动孔内配合有高度检测活动柱，高度检测活动柱的上端为与高度检测活动孔上部大口径的部位配合的块体，所述的高度检测活动柱的下部设置有高度检测活动块，所述的高度检测活动块的下方设置有第三接触感应器。

优选的，所述的输送槽位于平整检测装置的进料侧还设置有视觉检测装置，所述的世界件装置包括设置在上框架下方的CCD检测器和设置在输送槽下方的视觉检测顶料气缸，所述的视觉检测顶料气缸有四组，分别与外壳的前后左右四个部分配合，且视觉检测顶料气缸的气缸头可穿过输送槽。

附图说明

图1为一种3C产品外壳检测筛分设备的结构示意图；

图2为筛分装置的结构示意图；

图3为平整检测装置的结构示意图；

图4为检测安装块与检测柱的配合示意图；

图5为高度检测部分的结构示意图；

图6为视觉检测装置的结构示意图。

图中所示文字标注表示为：1、机架；2、输送槽；3、外壳；4、筛分口；5、筛分挡料块；6、视觉检测装置；7、平整检测装置；8、筛分装置；11、筛分筒；12、筛分接料气缸；13、筛分接料块；14、筛分出料块；15、筛分落料口；16、出料推动座；17、出料推动气缸；18、出料推动块；21、检测凹口；22、检测升降气缸；23、检测安装块；24、检测弹簧；25、检测柱；26、磁栅尺；27、磁栅读头；28、上框架；29、检测压料气缸；30、检测压料块；31、检测拦截气缸；32、检测拦截块；33、第二接触感应器；34、高度检测活动孔；35、高度检测活动柱；36、高度检测活动块；37、第三接触感应器；41、CCD检测器；42、视觉检测顶料气缸。

具体实施方式

为了使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明进行详细描述，本部分的描述仅是示范性和解释性，不应对本发明的保护范围有任何的限制作用。

如图1所示，本发明的具体结构为：一种3C产品外壳检测筛分设备，包括机架1，所述的机架1上设置输送槽2，所述的输送槽2中部开设有检测凹口21，所述的检测凹口21内设置有与外壳3配合的平整检测装置7，所述的输送槽2的尾部开设有能够使外壳3穿过的筛分口4，并设置有与筛分口4配合的筛分挡料块5，所述的筛分口4的下方配合有筛分装置8。

先将待检测的外壳3放入到输送槽（输送槽配合有可使其内的外壳给进的结构）2内，通过输送槽2将外壳3输送到平整检测装置处，通过平整检测装置对其进行检测，进而会得出检测结果，一般情况下，检测结构有三种，一种是合格，一种是可以通过打磨后达到合格，另外一种是不合格，无论是哪种结果都会随着输送槽继续输送，进而会被筛分挡料块5拦截，并从筛分口落入到筛分装置8中，经过筛分装置8将不同检测结果的外壳从不同的出料口送出，如此实现了连续的平整检测和筛分一体化操作，提高了加工效率。

如图2所示，所述的筛分装置8包括设置在机架1上且位于筛分口4下方的筛分筒11，所述的筛分筒11内设置有三层筛分出料块14，且每层筛分出料块14上均开设有与筛分口4位置及大小均对应的筛分落料口15，所述的筛分筒11内设置有竖直走向的筛分接料气缸12，所述的筛分接料气缸12上连接有可穿入到筛分口4的筛分接料块13，所述的筛分筒11的侧部设置有出料推动座16，所述的出料推动座16上设置有三个出料推动气缸17，每个出料推动气缸17连接有可穿入到筛分筒11内的出料推动块18，且三个出料推动块18分别与三层筛分接料块13的高度一致。

从筛分口4落下的外壳会被筛分接料块13接住，根据检测结构，反馈到控制系统，控制系统会控制筛分接料气缸12的下降幅度，使外壳根据检测结果与对应的筛分出料块14对接，之后再通过对应的出料推动气缸17带动出料推动块18将外壳3从筛分落料口15推入到筛分出料块14没有开口的部位，进而完成外壳的筛分，在具体使用及操作的过程中，可以设置一定的位置检测结构，即检测筛分接料块13的位置，避免出现升降幅度误差过大导致分料结果不准确的情况，具体可以在出料推动块18的内侧设置CCD检测器结构，或者是在筛分接料块13下方设置竖直走向的测距器等。

如图3-4所示，所述的平整检测装置6包括设置在检测凹口21内的检测安装块23，所述的检测安装块23配合有可反应升降幅度的检测升降装置，所述的检测安装块23的上部阵列开设有检测孔，所述的检测孔内通过检测弹簧24连接有检测柱25，所述的检测柱25的上端为弧形，且弧形最高点设置有第一接触感应器，所述的输送槽2上部设置有上框架28，所述的上框架28上设置有检测拦截气缸31和检测压料气缸29，所述的检测拦截气缸31下方连接有使外壳3与平整检测装置7位置对接的检测拦截块32，所述的检测压料气缸29连接有与外壳配合的检测压料块30。

平整检测装置6的具体运作如下，再外壳3的输送过程中，检测拦截气缸31会使检测拦截块32处于最低位置，即与输送槽2的底面接触，外壳3在输送的过程中会被检测拦截块32拦截，在初始状态时，所有的检测柱25的高度且均与输送槽2的内底面平齐，当外壳3被拦截后，通过检测压料气缸29带动检测压料块30将外壳3压住，然后通过检测柱25上的第一接触感应器来检测产品的平整度，即通过检测升降装置带动检测安装块23进行升降，并使所有的第一接触感应器均产生感应信号，此节点对应的检测升降装置的升降幅度即为外壳3平整度的差值，根据此数值判断外壳是否为合格产品、通过打磨能够达到合格的产品或者就是不合格产品，检测操作简单，能够配合输送槽实现连续的外壳平整度检测。

如图4所示，所述的检测升降装置包括设置在检测凹口21内且与检测安装块23连接的检测升降气缸22，所述的检测安装块23的下方设置有磁栅尺26，所述的检测凹口21内设置有与磁栅尺26配合的磁栅读头27，所述的磁栅尺26不少于两组，且关于检测安装块23的中心对称设置。

检测升降装置的升降通过检测升降气缸22进行，而升降幅度通过磁栅读头27的初始和节点的数值变化得到，通过不少于两组磁栅尺和磁栅读头的设计，可以用于检测检测安装块23的升降是否发生偏移。

如图5所示，所述的检测压料块30的下方设置有与外壳3侧板配合的第二接触感应器33，且第二接触感应器33的数量和位置与外壳3的侧板一一对应。

第二接触检测器33的设计，可以用于检测外壳3的侧板间距是否合格，即如果有第二接触感应器33不能够产生感应信号，则证明外壳3的侧板间距不合格，也就是外壳3的尺寸不合格。

如图5所示，所述的检测压料块30远离检测拦截块32的一端还设置有竖直板，竖直板内开设在有上大下小阶梯状的高度检测活动孔34，所述的高度检测活动孔34内配合有高度检测活动柱35，高度检测活动柱35的上端为与高度检测活动孔34上部大口径的部位配合的块体，所述的高度检测活动柱35的下部设置有高度检测活动块36，所述的高度检测活动块36的下方设置有第三接触感应器37。

在检测压料气缸带动检测压料块30下降的时候，在下降的过程中，如果第二接触感应器33产生感应信号，第三接触感应器37也能够产生感应信号，则证明外壳的高度合格，其中高度检测活动柱35的活动范围也就是外壳高度的合格尺寸最大值和最小值的差值，如果第二接触感应器33产生感应信号，第三接触感应器37不能产生感应信号，则证明外壳3的高度过高，需要进行调整，如果第二接触感应器不能产生感应信号，第三接触感应器37产生感应信号，则证明外壳的高度不够，直接判定为不合格产品，无需进行平整检测。

如图6所示，所述的输送槽2位于平整检测装置7的进料侧还设置有视觉检测装置6，所述的世界件装置6包括设置在上框架28下方的CCD检测器41和设置在输送槽2下方的视觉检测顶料气缸42，所述的视觉检测顶料气缸42有四组，分别与外壳3的前后左右四个部分配合，且视觉检测顶料气缸42的气缸头可穿过输送槽2。

视觉检测装置6的设计，可以对外壳3的内侧进行视觉检测，但是，由于产品的侧面设计，如果外壳3处于平放时，CCD检测器41可能无法检测到外壳3侧板内侧与底板内侧交接处，导致检测效果不佳，通过视觉检测顶料气缸42的设计，可以一次只使一组视觉检测顶料气缸42伸长，进而可以使外壳3产生倾斜，进而可以使CCD检测器41检测到对应的交接部位，如此通过四组世界检测顶料气缸42的依次伸长，即可完成全方位的视觉检测。

在具体使用本专利时，可以配备控制系统，用于控制各个动力部件的协同工作，也可以通过各个动力部件的控制按钮实现整体操作。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想，以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，由于文字表达的有限性，而客观上存在无限的具体结构，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进、润饰或变化，也可以将上述技术特征以适当的方式进行组合；这些改进润饰、变化或组合，或未经改进将发明的构思和技术方案直接应用于其它场合的，均应视为本发明的保护范围。

一种3C产品外壳检测筛分设备专利购买费用说明

Q：办理专利转让的流程及所需资料

A：专利权人变更需要办理著录项目变更手续，有代理机构的，变更手续应当由代理机构办理。

1：专利变更应当使用专利局统一制作的“著录项目变更申报书”提出。

2：按规定缴纳著录项目变更手续费。

3：同时提交相关证明文件原件。

4：专利权转移的，变更后的专利权人委托新专利代理机构的，应当提交变更后的全体专利申请人签字或者盖章的委托书。

Q:专利著录项目变更费用如何缴交

A：（1）直接到国家知识产权局受理大厅收费窗口缴纳,（2）通过代办处缴纳，（3）通过邮局或者银行汇款,更多缴纳方式

Q：专利转让变更，多久能出结果

A：著录项目变更请求书递交后，一般1-2个月左右就会收到通知，国家知识产权局会下达《转让手续合格通知书》。