专利摘要

本实用新型提供一种集成全静态偏振分析器，涉及偏振分析器领域。该集成全静态偏振分析器，包括圆筒，所述圆筒的内部通过螺纹固定安装有第一高阶延迟器，所述圆筒的内部通过螺纹连接有第二高阶延迟器。该集成全静态偏振分析器，通过将第一高阶延迟器和第二高阶延迟器和一片偏振片，按特定方向集成安装在圆筒中，利用光谱仪测量记录偏振分析器输出的功率谱，实现待测光偏振光谱信息的完整获取，只需对给出的圆筒的直径作相应变动，选取对应波长的偏振片，即可实现偏振分析器与不同光谱仪的连接，并实现不同光谱范围的偏振光谱仪设计，能有效避免传统测量方法因分时多次测量引入虚假偏振而导致偏振测量精度低的问题。

权利要求

1.一种集成全静态偏振分析器，包括圆筒(1)，所述圆筒(1)的内部通过螺纹固定安装有第一高阶延迟器(2)，其特征在于：所述圆筒(1)的内部通过螺纹连接有第二高阶延迟器(3)，所述圆筒(1)的内壁安装有偏振片(4)，所述圆筒(1)的内壁设置有封装器(5)，所述圆筒(1)的表面卡接有卡板(6)，所述卡板(6)的侧面设置有上卡扣(7)，所述卡板(6)的另一侧固定连接有上卡带(8)，所述卡板(6)的侧面设置有下卡扣(9)，所述下卡扣(9)的内部贯穿连接有下卡带(10)，所述卡板(6)的底部固定安装有移动座(11)，所述移动座(11)的内部通过螺纹连接有丝杆(12)，所述丝杆(12)的一端固定连接有手把(13)，所述丝杆(12)的另一端连接有底座(14)，所述底座(14)的表面开设有滑槽(15)。

2.根据权利要求1所述的一种集成全静态偏振分析器，其特征在于：所述第一高阶延迟器(2)、第二高阶延迟器(3)和偏振片(4)的外表面均包含一个有螺纹的适配器，且圆筒(1)通过适配器的螺纹分别与第一高阶延迟器(2)、第二高阶延迟器(3)和偏振片(4)连接。

3.根据权利要求1所述的一种集成全静态偏振分析器，其特征在于：所述第二高阶延迟器(3)的厚度是第一高阶延迟器(2)厚度的两倍，且第一高阶延迟器(2)的快轴与第二高阶延迟器(3)快轴所成夹角为四十五度。

4.根据权利要求1所述的一种集成全静态偏振分析器，其特征在于：所述偏振片(4)的透光轴方向与第一高阶延迟器(2)的快轴方向一致，偏振片(4)与第一高阶延迟器(2)和第二高阶延迟器(3)之间有无空隙均可。

5.根据权利要求1所述的一种集成全静态偏振分析器，其特征在于：所述卡板(6)为曲面设置，且卡板(6)的横截面为四分之三圆周的圆环。

6.根据权利要求1所述的一种集成全静态偏振分析器，其特征在于：所述上卡带(8)和下卡带(10)的一端均与卡板(6)的截断面固定连接，且上卡带(8)和下卡带(10)的另一端分别与上卡扣(7)和下卡扣(9)扣接。

7.根据权利要求1所述的一种集成全静态偏振分析器，其特征在于：所述丝杆(12)贯穿于底座(14)的一个侧面，且丝杆(12)依次贯穿于底座(14)的侧面、移动座(11)的表面和滑槽(15)的内部。

说明书

技术领域

本实用新型涉及偏振分析器技术领域，具体为一种集成全静态偏振分析器。

背景技术

偏振分析器可实现待测光信号偏振光谱信息调制功能，是偏振光谱仪的重要组成部分。现有的偏振光谱仪产品中，偏振分析器多采用波片和偏振片级联，通过旋转偏振片或波片，利用后续连接的光谱仪，多次测量不同方向的偏振调制信号，再经过解调处理，实现待测光偏振光谱信息测量。基于这种偏振分析器搭建的偏振光谱仪，需要通过分时多次测量记录偏振分析器输出的光信号，方可解析得到待测光完整或部分偏振光谱信息。

然而，在室外遥感测量应用时，多次测量过程中很难保证待测目标是静止的，而偏振信息的测量原理又限定了多次测量得到的不同方向的偏振辐射，必须来自完全相同的视场，方可正确解析出目标的偏振信息。因此，传统偏振测量技术在野外遥感测量过程中，难免会引入虚假偏振，影响偏振光谱仪的偏振测量精度。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种集成全静态偏振分析器，解决了上述背景技术中提出的偏振测量技术在野外遥感测量过程中会引入虚假偏振而导致测量精度不高的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种集成全静态偏振分析器，包括圆筒，所述圆筒的内部通过螺纹固定安装有第一高阶延迟器，所述圆筒的内部通过螺纹连接有第二高阶延迟器，所述圆筒的内壁安装有偏振片，所述圆筒的内壁设置有封装器，所述圆筒的表面卡接有卡板，所述卡板的侧面设置有上卡扣，所述卡板的另一侧固定连接有上卡带，所述卡板的侧面设置有下卡扣，所述下卡扣的内部贯穿连接有下卡带，所述卡板的底部固定安装有移动座，所述移动座的内部通过螺纹连接有丝杆，所述丝杆的一端固定连接有手把，所述丝杆的另一端连接有底座，所述底座的表面开设有滑槽。

优选的，所述第一高阶延迟器、第二高阶延迟器和偏振片的外表面均包含一个有螺纹的适配器，且圆筒通过适配器的螺纹分别与第一高阶延迟器、第二高阶延迟器和偏振片连接。

优选的，所述第二高阶延迟器的厚度是第一高阶延迟器厚度的两倍，且第一高阶延迟器的快轴与第二高阶延迟器快轴所成夹角为四十五度。

优选的，所述偏振片的透光轴方向与第一高阶延迟器的快轴方向一致，所述偏振片与第一高阶延迟器和第二高阶延迟器之间有无空隙均可。

优选的，所述卡板为曲面设置，且卡板的横截面为四分之三圆周的圆环。

优选的，所述上卡带和下卡带的一端均与卡板的截断面固定连接，且上卡带和下卡带的另一端分别与上卡扣和下卡扣扣接。

优选的，所述丝杆贯穿于底座的一个侧面，且丝杆依次贯穿于底座的侧面、移动座的表面和滑槽的内部。

(三)有益效果

本实用新型提供了一种集成全静态偏振分析器。具备有益效果如下：

1.该集成全静态偏振分析器，通过将第一高阶延迟器和第二高阶延迟器和一片偏振片，按特定方向，即两片延迟器的快轴方向成四十五度夹角，偏振片的透光轴方向与第一高阶延迟器的快轴方向一致，集成安装在圆筒中，构成一体化全静态偏振分析器，将该偏振分析器连接至光谱仪的入射光路中，利用光谱仪测量记录偏振分析器输出的功率谱，即可通过后续数据处理过程解析出待测光的矢量元素谱，实现待测光偏振光谱信息的完整获取，根据后续连接光谱仪入射光路的结构尺寸和光谱范围，只需对给出的圆筒的直径作相应变动，选取对应波长的偏振片，即可实现偏振分析器与不同光谱仪的连接，并实现不同光谱范围的偏振光谱仪设计，能有效避免引入虚假偏振而导致测量精度不高的问题。

2.该集成全静态偏振分析器，通过与现有技术相比，本偏振分析器可以实现待测目标偏振光谱信息的全静态调制。可避免引入多次测量过程中引入的虚假偏振，提高偏振光谱仪的偏振测量精度，没有转动件，可提高偏振光谱仪系统的可靠性，降低系统的体积重量，同时，该偏振分析器结构具有很好的通用性，可适配于各种设计目标的偏振光谱仪中。

附图说明

图1为本实用新型整体结构图；

图2为本实用新型右侧视角结构图；

图3为本实用新型圆筒结构图；

图4为本实用新型内部偏振部件结构图。

图中：1圆筒、2第一高阶延迟器、3第二高阶延迟器、4偏振片、5封装器、6卡板、7上卡扣、8上卡带、9下卡扣、10下卡带、11移动座、12丝杆、13手把、14底座、15滑槽。

具体实施方式

下面通过附图和实施例对本实用新型作进一步详细阐述。

请参阅图1-4，本实用新型实施例提供以下技术方案：一种集成全静态偏振分析器，包括圆筒1，圆筒1的内部通过螺纹固定安装有第一高阶延迟器2，圆筒1的内部通过螺纹连接有第二高阶延迟器3，圆筒1的内壁安装有偏振片4，圆筒1的内壁设置有封装器5，圆筒1的表面卡接有卡板6，卡板6的侧面设置有上卡扣7，卡板6的另一侧固定连接有上卡带8，卡板6的侧面设置有下卡扣9，下卡扣9的内部贯穿连接有下卡带10，卡板6的底部固定安装有移动座11，移动座11的内部通过螺纹连接有丝杆12，丝杆12的一端固定连接有手把13，丝杆12的另一端连接有底座14，底座14的表面开设有滑槽15。

本实施方案中：还包括通过将第一高阶延迟器2、第二高阶延迟器3和一片偏振片4，按特定方向，即两片延迟器的快轴方向成四十五度夹角，偏振片4的透光轴方向与第一高阶延迟器2的快轴方向一致，集成安装在圆筒1中，构成一体化全静态偏振分析器，将该偏振分析器连接至光谱仪的入射光路中，利用光谱仪测量记录偏振分析器输出的功率谱，即可通过后续数据处理过程解析出待测光的矢量元素谱，实现待测光偏振光谱信息的完整获取，根据后续连接光谱仪入射光路的结构尺寸和光谱范围，只需对给出的圆筒1的直径作相应变动，选取对应波长的偏振片4，即可实现偏振分析器与不同光谱仪的连接，并实现不同光谱范围的偏振光谱仪设计，能有效避免引入虚假偏振而导致测量精度不高。

本实施方案中：通过与现有技术相比，本偏振分析器可以实现待测目标偏振光谱信息的全静态调制。可避免引入多次测量过程中引入的虚假偏振，提高偏振光谱仪的偏振测量精度，没有转动件，可提高偏振光谱仪系统的可靠性，降低系统的体积重量，同时，该偏振分析器结构具有很好的通用性，可适配于各种设计目标的偏振光谱仪中。

具体地：第一高阶延迟器2、第二高阶延迟器3和偏振片4的外表面均包含一个有螺纹的适配器，且圆筒1通过适配器的螺纹分别与第一高阶延迟器2、第二高阶延迟器3和偏振片4连接；因此，通过设置中空圆柱状的圆筒1，从而可在圆筒1的内部集成安装偏振部件，便于使偏振部件成为集成整体，进一步地，方便全静态偏振分析器的使用。

具体地：第二高阶延迟器3的厚度是第一高阶延迟器2厚度的两倍，且第一高阶延迟器2的快轴与第二高阶延迟器3快轴所成夹角为四十五度；因此，通过将第一高阶延迟器2与第二高阶延迟器3和一片偏振片4，按两片延迟器的快轴方向成四十五度夹角的方向集成安装，使两片高阶延迟器集成安装在圆筒1中，从而可构成一体化全静态偏振分析器。

具体地：偏振片4的透光轴方向与第一高阶延迟器2的快轴方向一致，偏振片4与第一高阶延迟器2和第二高阶延迟器3之间有无空隙均可；因此，圆筒1通过螺纹与第一高阶延迟器2、第二高阶延迟器3和偏振片4连接的装配方式，方便了安装过程，从而使偏振片4的透光轴方向与第一高阶延迟器2的快轴方向一致，并配合两片延迟器的快轴所成四十五度角，方便偏振片4与第一高阶延迟器2和第二高阶延迟器3的集成安装。

具体地：卡板6为曲面设置，且卡板6的横截面为四分之三圆周的圆环；因此，铜鼓设置曲面的卡板6，且卡板6为四分之三圆周，从而可通过卡板6对圆筒1卡接，方便了圆筒1的安装和拆卸。

具体地：上卡带8和下卡带10的一端均与卡板6的截断面固定连接，且上卡带8和下卡带10的另一端分别与上卡扣7和下卡扣9扣接；因此，通过设置上卡带8和下卡带10以及上卡扣7和下卡扣9，并使上卡带8和下卡带10通过扣接的方式和卡扣连接，从而可有效对圆筒1的表面进行辅助加固，方便圆筒1的安装和使用。

具体地：丝杆12贯穿于底座14的一个侧面，且丝杆12依次贯穿于底座14的侧面、移动座11的表面和滑槽15的内部；因此，通过设置贯穿于底座14、移动座11和滑槽15的丝杆12，从而可通过丝杆12表面的螺纹与移动座11的内部接触，从而当丝杆12发生转动时，移动座11可沿丝杆方向移动，便于对圆筒1进行调节。

工作原理：使用时，通过将第一高阶延迟器2、第二高阶延迟器3和一片偏振片4，按特定方向，即两片延迟器的快轴方向成四十五度夹角，偏振片4的透光轴方向与第一高阶延迟器2的快轴方向一致，集成安装在圆筒1中，且整个圆筒1内壁都是有螺纹的，把三个光学件旋装进去后，空的那端再旋转安装到光谱仪的光学头部，构成一体化全静态偏振分析器，圆筒1中最靠近光谱仪光学头部的器件是偏振片4，将该偏振分析器连接至光谱仪的入射光路中，利用光谱仪测量记录偏振分析器输出的功率谱，即可通过后续数据处理过程解析出待测光的矢量元素谱，实现待测光偏振光谱信息的完整获取，根据后续连接光谱仪入射光路的结构尺寸和光谱范围，只需对给出的圆筒1的直径作相应变动，选取对应波长的偏振片4，即可实现偏振分析器与不同光谱仪的连接，并实现不同光谱范围的偏振光谱仪设计，能有效避免引入虚假偏振而导致测量精度不高的问题。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

一种集成全静态偏振分析器专利购买费用说明

Q：办理专利转让的流程及所需资料

A：专利权人变更需要办理著录项目变更手续，有代理机构的，变更手续应当由代理机构办理。

1：专利变更应当使用专利局统一制作的“著录项目变更申报书”提出。

2：按规定缴纳著录项目变更手续费。

3：同时提交相关证明文件原件。

4：专利权转移的，变更后的专利权人委托新专利代理机构的，应当提交变更后的全体专利申请人签字或者盖章的委托书。

Q:专利著录项目变更费用如何缴交

A：（1）直接到国家知识产权局受理大厅收费窗口缴纳,（2）通过代办处缴纳，（3）通过邮局或者银行汇款,更多缴纳方式

Q：专利转让变更，多久能出结果

A：著录项目变更请求书递交后，一般1-2个月左右就会收到通知，国家知识产权局会下达《转让手续合格通知书》。