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调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法及系统

调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法及系统

IPC分类号 : H01J49/00

申请号
CN202010060711.3
可选规格
  • 专利类型: 发明专利
  • 法律状态: 有权
  • 申请日: 2020-01-19
  • 公开号: 111223740B
  • 公开日: 2020-06-02
  • 主分类号: H01J49/00
  • 专利权人: 清华大学 ; 北京清谱科技有限公司

专利摘要

本发明公开了一种调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法及系统,其中,该方法包括:预设非连续进样接口的开启时长,将待测样品离子引入离子阱;对待测样品离子进行初始质谱分析,保存并分析各项初始参数,输出初始质谱图信息;分析进入离子阱内并被存储的离子数量,并改变各项初始参数调控离子数量;通过预实验建立各项初始参数与离子数量的关系模型,并对调控后得到的谱峰强度进行增益补偿,确定各项最优初始参数;使用最优初始参数进行质谱分析,输出谱峰强度与样品浓度相对应的质谱图。该方法可使便携式质谱仪可检测的样品浓度的动态范围有较大提升,同时灵敏度、分辨率、质量准确性等性能也有显著提升,也增强了其处理复杂样品的能力。

权利要求

1.一种调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法,其特征在于,包括以下步骤:

预设非连续进样接口的开启时长,将待测样品离子引入离子阱;

对所述待测样品离子进行初始质谱分析,保存并分析各项初始参数,输出初始质谱图信息;

分析进入所述离子阱内并被存储的离子数量,并改变所述各项初始参数调控所述离子数量;

通过预实验确定所述各项初始参数与所述离子数量的关系模型,并基于所述关系模型对调控后得到的谱峰强度进行增益补偿,确定各项最优初始参数;

根据所述各项最优初始参数进行质谱分析,输出谱峰强度与样品浓度相对应的质谱图。

2.根据权利要求1所述的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法,其特征在于,所述离子阱为采用非连续进样接口的离子阱质谱仪中的质量分析器,进样时采取固定非连续进样口开启时间的方式,控制每次进样的变化。

3.根据权利要求1所述的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法,其特征在于,所述对所述待测样品离子进行初始质谱分析,保存并分析各项初始参数,输出初始质谱图信息,进一步包括:

获取质谱仪的各项参数特征;

根据所述各项参数特征预设相应的初始值,根据所述初始值对所述待测样品离子进行初始质谱分析;

记录初始质谱分析的所述各项初始参数和所述初始质谱图信息,并分析所述各项初始参数的调节方向。

4.根据权利要求1所述的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法,其特征在于,所述改变所述各项初始参数调控所述离子数量包括两种调节方式,其中,

基于所述离子数量,通过改变离子阱上的射频电压的开启时间,完成对所述离子数量的调控;

基于所述离子数量,通过改变门电极上的直流电压的幅值,完成对所述离子数量的调控。

5.根据权利要求4所述的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法,其特征在于,独立或结合使用所述两种调节方式,且执行次数至少一次。

6.根据权利要求1所述的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法,其特征在于,在进行增益补偿前,需使用多个标准溶液建立并验证所述关系模型的有效性,若有效,则执行增益补偿处理,若无效,则重新设计预实验确定新的关系模型,其中,所述标准溶液为多个浓度梯度的溶液。

7.一种调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的系统,其特征在于,包括:

引入模块,用于预设非连续进样接口的开启时长,将待测样品离子引入离子阱;

初始质谱分析模块,用于对所述待测样品离子进行初始质谱分析,保存并分析各项初始参数,输出初始质谱图信息;

调控模块,用于分析进入所述离子阱内并被存储的离子数量,并改变所述各项初始参数调控所述离子数量;

增益补偿模块,用于通过预实验确定所述各项初始参数与所述离子数量的关系模型,并基于所述关系模型对调控后得到的谱峰强度进行增益补偿,确定各项最优初始参数;

输出模块,用于根据所述各项最优初始参数进行质谱分析,输出谱峰强度与样品浓度相对应的质谱图。

8.根据权利要求7所述的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的系统,其特征在于,所述初始质谱分析模块包括:

获取单元,用于获取质谱仪的各项参数特征;

初始质谱分析单元,用于根据所述各项参数特征预设相应的初始值,根据所述初始值对所述待测样品离子进行初始质谱分析;

记录分析单元,用于记录初始质谱分析的所述各项初始参数和所述初始质谱图信息,并分析所述各项初始参数的调节方向。

9.根据权利要求7所述的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的系统,其特征在于,所述调控模块中改变所述各项初始参数调控所述离子数量包括两种调节方式,其中,

基于所述离子数量,通过改变离子阱上的射频电压的开启时间,完成对所述离子数量的调控;

基于所述离子数量,通过改变门电极上的直流电压的幅值,完成对所述离子数量的调控。

10.根据权利要求9所述的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的系统,其特征在于,独立或结合使用所述两种调节方式,且执行次数至少一次。

说明书

技术领域

本发明涉及质谱学技术领域,特别涉及一种调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法及系统。

背景技术

离子阱质量分析器是一种利用电场将离子捕获和囚禁在一定范围内的装置,因为其体积较小,且对真空度要求较低,所以被广泛应用于小型质谱仪中。但如果离子阱内囚禁的离子数量过多,会出现空间电荷效应,即离子之间的库仑斥力会导致离子发生“质量偏移”现象,使质谱图中的谱峰强度不能反应离子的真实浓度,且使得仪器的分辨率降低,质量准确性下降。为避免该现象,人们采用各种方式来控制进入离子阱质量分析器中的离子数量。

而当前质谱仪的进样方式多为连续进样,采用该方式能够保证仪器内气压稳定,便于对离子进行筛选、碎裂、扫出等相应的操作。但采用连续进样的方式时维持真空度对使用的泵的抽速有较高需求,同时只要在仪器的开机状态下,多级泵均处于消耗较大功率的工作状态。而非连续进样的质谱仪在使用过程中仅有5%左右的时间是进样状态,维持其腔内的真空度相对较易,泵的功耗和仪器的体积会随之降低,所以采用非连续进样利于质谱仪器的小型化设计。但非连续进样的方式会使得仪器内的气压不稳定,尤其是在进样时气压会急剧升高,对离子的操作方式会随气压变化发生较大改变,在连续进样的质谱仪上常用的通过控制门电极电压的开闭以及添加补偿射频信号等方法控制离子存储数量的操作方式,在非连续进样时的较高气压条件下无法正常实现。

而采用便携式质谱仪器的应用场景多为测试环境较为复杂的条件,待测样品的种类及含量具有很强的未知性,且与便携式质谱仪结合的电离方式种类繁多,这些因素会使得进入离子阱等质量分析器中的离子量具有很强的不确定性,给实际的分析过程带来较大困扰。进入离子阱质量分析器中的离子量过低会导致仪器的灵敏度下降,使得仪器无法检测到目标离子;进入离子阱质量分析器中的离子量过高会导致离子阱质量分析器中出现空间电荷效应,使得仪器的分辨率以及质量准确性受到很大的影响。所以需要一种能够维持离子阱质量分析器内离子量稳定的方式,来保证质谱分析的可靠性。同时,也需要对其进行相应的增益调控,使得最终呈现的质谱图中的谱峰强度与样品浓度相对应。

另外,易于操作是便携式质谱仪的重要特性,但其目标人群是不具备专业操作技能以及相应分析化学知识背景的现场工作人员,过于复杂的调节方式会使得便携式质谱仪的应用受到极大的影响。

因此,在能够完成基本的质谱分析基础上,为进一步提升仪器的分析性能,需要对非连续进样质谱仪调控离子阱内存储的离子数量的方式进行进一步的改进。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

为此,本发明的一个目的在于提出一种调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法,该方法能够提升灵敏度、分辨率、质量准确性等性能,增强处理复杂样品的能力。

本发明的另一个目的在于提出一种调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的系统。

为达到上述目的,本发明一方面实施例提出了调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法,包括以下步骤:预设非连续进样接口的开启时长,将待测样品离子引入离子阱;对所述待测样品离子进行初始质谱分析,保存并分析各项初始参数,输出初始质谱图信息;分析进入离子阱内并被存储的离子数量,并改变所述各项初始参数调控所述离子数量;通过预实验确定所述各项初始参数与所述离子数量的关系模型,并基于所述关系模型对调控后得到的谱峰强度进行增益补偿,确定各项最优初始参数;根据所述各项最优初始参数进行质谱分析,输出谱峰强度与样品浓度相对应的质谱图。

本发明实施例的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法,基于质谱分析过程中对离子进行操作时的基本原理,通过控制施加在离子阱上的射频电压的开启时间,以及通过控制施加在门电极上的直流电压等参数的方式控制离子量,随后通过对峰强进行一定的增益补偿,从而能够使得非连续进样质谱仪都能在最佳条件下对每种待分析样品进行检测,且得到的谱峰强度与样品浓度相对应。

另外,根据本发明上述实施例的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法还可以具有以下附加的技术特征:

进一步地,在本发明的一个实施例中,所述离子阱为采用非连续进样接口的离子阱质谱仪中的质量分析器,进样时采取固定非连续进样口开启时间的方式,控制每次进样的变化。

进一步地,在本发明的一个实施例中,所述对所述待测样品离子进行初始质谱分析,保存并分析各项初始参数,输出初始质谱图信息,进一步包括:获取质谱仪的各项参数特征;根据所述各项参数特征预设相应的初始值,根据所述初始值对所述待测样品离子进行初始质谱分析;记录初始质谱分析的所述各项初始参数和所述初始质谱图信息,并分析所述各项初始参数的调节方向。

进一步地,在本发明的一个实施例中,所述改变所述各项初始参数调控所述离子数量包括两种调节方式,其中,基于所述离子数量,通过改变离子阱上的射频电压的开启时间,完成对所述离子数量的调控;基于所述离子数量,通过改变门电极上的直流电压的幅值,完成对所述离子数量的调控。

进一步地,在本发明的一个实施例中,独立或结合使用所述两种调节方式,且执行次数至少一次。

进一步地,在本发明的一个实施例中,在进行增益补偿前,需使用多个标准溶液建立并验证所述关系模型的有效性,若有效,则执行增益补偿处理,若无效,则重新设计预实验确定新的关系模型,其中,所述标准溶液为多个浓度梯度的溶液。

为达到上述目的,本发明另一方面实施例提出了调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的系统,包括:引入模块,用于预设非连续进样接口的开启时长,将待测样品离子引入离子阱;初始质谱分析模块,用于对所述待测样品离子进行初始质谱分析,保存并分析各项初始参数,输出初始质谱图信息;调控模块,用于分析进入离子阱内并被存储的离子数量,并改变所述各项初始参数调控所述离子数量;增益补偿模块,用于通过预实验确定所述各项初始参数与所述离子数量的关系模型,并基于所述关系模型对调控后得到的谱峰强度进行增益补偿,确定各项最优初始参数;输出模块,用于根据所述各项最优初始参数进行质谱分析,输出谱峰强度与样品浓度相对应的质谱图。

本发明实施例的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的系统,基于质谱分析过程中对离子进行操作时的基本原理,通过控制施加在离子阱上的射频电压的开启时间,以及通过控制施加在门电极上的直流电压等参数的方式控制离子阱中存储的离子量,随后通过对峰强进行一定的增益补偿,从而能够使得非连续进样质谱仪都能在最佳条件下对每种待分析样品进行检测,且得到的谱峰强度与样品浓度相对应。

另外,根据本发明上述实施例的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的系统还可以具有以下附加的技术特征:

进一步地,在本发明的一个实施例中,所述初始质谱分析模块包括:获取单元,用于获取质谱仪的各项参数特征;初始质谱分析单元,用于根据所述各项参数特征预设相应的初始值,根据所述初始值对所述待测样品离子进行初始质谱分析;记录分析单元,用于记录初始质谱分析的所述各项初始参数和所述初始质谱图信息,并分析所述各项初始参数的调节方向。

进一步地,在本发明的一个实施例中,所述调控模块中改变所述各项初始参数调控所述离子数量包括两种调节方式,其中,基于所述离子数量,通过改变离子阱上的射频电压的开启时间,完成对所述离子数量的调控;基于所述离子数量,通过改变门电极上的直流电压的幅值,完成对所述离子数量的调控。

进一步地,在本发明的一个实施例中,独立或结合使用所述两种调节方式,且执行次数至少一次。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:

图1为根据本发明一个实施例的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法流程图;

图2为根据本发明一个实施例的非连续进样的离子阱质谱仪的结构示意图;

图3为根据本发明一个实施例的一种调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法示意图;

图4为根据本发明一个实施例的另一种调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法示意图;

图5为根据本发明一个实施例的改变图3中各项初始参数与进入离子阱中并被存储的离子数量的关系曲线图;

图6为根据本发明一个实施例的改变图4中各项初始参数与进入离子阱中并被存储的离子数量的关系曲线图;

图7为根据本发明一个实施例的使用一系列浓度的标准溶液验证得到的图5所述离子量随参数变化的关系图;

图8为根据本发明一个实施例的使用一系列浓度的标准溶液验证得到的图6所述离子量随参数变化的关系图;

图9为根据本发明一个实施例的采用调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法的其中两种调节方式后得到的质谱图与不使用该方法得到的质谱图的对比图;

图10为根据本发明一个实施例的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的系统结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。

下面参照附图描述根据本发明实施例提出的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法及系统,首先将参照附图描述根据本发明实施例提出的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法。

图1是本发明一个实施例的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法流程图。

如图1所示,该调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法包括以下步骤:

在步骤S101中,预设非连续进样接口的开启时长,将待测样品离子引入离子阱。

进一步地,在本发明的一个实施例中,采用的离子阱为非连续进样接口的离子阱质谱仪中的质量分析器,进样时采取固定非连续进样口开启时间的方式,控制每次进样的变化。

可以理解为,开启非连续进样接口20ms,将待测样品离子引入非连续进样的便携式质谱仪。

需要说明的是,本发明实施例不受的离子化方式的影响,非连续进样质谱仪采用的离子化方式包括解吸附电喷雾电离、实时直接分析等原位电离方式以及电喷雾电离、基质辅助激光解吸附电离等其他电离方式。

在步骤S102中,对待测样品离子进行初始质谱分析,保存并分析各项初始参数,输出初始质谱图信息。

也就是说,初始状态下对样品进行一次质谱分析,保存并分析所使用的各项参数以及输出谱图的信息。

进一步地,在本发明的一个实施例中,对待测样品离子进行初始质谱分析,保存并分析各项初始参数,输出初始质谱图信息,进一步包括:获取质谱仪的各项参数特征;根据各项参数特征预设相应的初始值,根据初始值对待测样品离子进行初始质谱分析;记录初始质谱分析的各项初始参数和初始质谱图信息,并分析各项初始参数的调节方向。

具体而言,如图2所示,本发明实施例采用的质谱仪10包括非连续进样接口DAPI-101、门电极Gate1-102、四极杆Trap-103、门电极Gate2-104及检测器-105。

其中,非连续进样接口-101用于在质谱分析过程中传输多种离子化方式产生的离子,同时能够隔离真空腔与外界环境,减小仪器对泵的依赖性。门电极Gate1-102、四极杆Trap-103、门电极Gate2-104共同构成该非连续进样质谱仪中的质量分析器,即线性离子阱,同时通过分别改变添加在所述三个部件的直流电压值,能够改变离子轴向的运动方向,通过改变添加在四极杆上的射频电压,能够控制离子的径向运动方式等。检测器-105用于检测从质量分析器中传输过来的离子,从而能够将进入质量分析器中的不同质荷比离子的信息传递出去。

非连续进样质谱仪的便携性使其能够实现真正应用于现场原位分析待测样品,但因为其应用场景多为测试环境较为复杂的条件,待测样品的种类及含量具有很强的未知性,且与非连续进样质谱仪结合的电离方式种类繁多,上述因素会使得进入离子阱质量分析器中的离子量具有很强的不确定性,给实际的分析过程带来较大困扰。进入离子阱质量分析器中的离子量过低会导致仪器的灵敏度下降,使得仪器无法检测到目标离子;进入离子阱质量分析器中的离子量过高会导致离子阱质量分析器中出现空间电荷效应,使得仪器的分辨率以及质量准确性受到很大的影响。所以需要一种能够维持离子阱质量分析器内离子量稳定的方式,来保证质谱分析的可靠性。同时,也需要对其进行相应的增益调控,使得最终呈现的质谱图中的谱峰强度与样品浓度相对应。

因此,在能够完成基本的质谱分析基础上,为进一步提升仪器的分析性能,自动化分析程度以及便于操作性,需要对便携式质谱仪调控离子阱内离子数量的方式进行进一步的改进。

首先根据仪器各参数的特征,预设相应的初始值用于检测样品时的初次分析;再使用该初始值进行相应的质谱分析,记录初次分析的质谱图以及各项参数的信息;最后基于上述信息,分析想达到预设指标各参数的调节方向。

在步骤S103中,分析进入离子阱内并被存储的离子数量,并改变各项初始参数调控离子数量。

也就是说,根据初次采样的信息,分析进入离子阱质量分析器内的离子量并调控离子阱内并被存储的离子数量,进而避免空间电荷效应。

进一步地,在本发明的一个实施例中,改变各项初始参数调控离子数量包括但不限于以下两种调节方式,其中,

基于离子阱中存储的离子数量,通过改变离子阱上的射频电压的开启时间,完成对离子阱中存储的离子数量调控;

基于离子阱中存储的离子数量,通过改变门电极上的直流电压的幅值,完成对离子阱中存储的离子数量调控。

也就是说,基于此前一次离子阱中存储的离子数量大小,通过控制施加在离子阱上的射频电压的开启时间实现对离子阱中存储的离子数量的控制;基于此前一次离子阱中存储的离子数量大小,通过控制施加在门电极上的直流电压实现对离子阱中存储的离子数量的控制。

具体地,如图3所示,第一种方式为:待分析样品在非连续进样接口DAPI开启后进入真空腔内,此时离子的运动主要受进样时气流和直流电场的控制,在不添加束缚离子径向运动的射频电压时,大部分离子会径向飞出离子阱,最终不会到达检测器。通过改变所述射频电压的开启时间,能够使得在离子阱中的离子量得到控制,从而使得待分析的离子量较为合理,最终得到灵敏度、分辨率、质量准确性均较好的谱图。

具体地,如图4所示,第二种方式为:在其他条件相同时,通过改变添加在门电极Gate1上的电压值能够使得轴向的直流电场发生变化,从而控制进入真空腔内的离子的轴向运动情况,进而控制进入离子阱中并被存储的离子量,使得待分析的离子量较为合理,最终得到灵敏度、分辨率、质量准确性均较好的谱图。

需要说明的是,采用的调节方式包括但不限于的两种方式,可以独立或结合使用上述的两种调节方式,且根据实际检测的情况,可被执行一次或多次。

在步骤S104中,通过预实验确定各项初始参数与离子数量的关系模型,并基于关系模型对调控后得到的谱峰强度进行增益补偿,确定各项最优初始参数。

进一步地,在本发明的一个实施例中,在进行增益补偿前,需使用多个标准溶液建立并验证关系模型的有效性,若有效,则执行增益补偿处理,若无效,则重新设计预实验确定新的关系模型,其中,标准溶液为多个浓度梯度的溶液。

具体而言,预实验的步骤包括:采用浓度适宜的标准溶液建立变化相应参数与离子阱中存储的离子数量多少的关系模型;使用一系列浓度梯度的标准溶液,验证该模型的有效性;基于关系模型,对经S103调控后的离子数量进行增益补偿,使得调节相应参数得到的质谱图中谱峰强度和样品浓度相对应。

需要说明的是,建立关系模型的原因及方式为:为了使得经过不同的射频电压的开启时间或不同的直流电压差值等参数调节后得到的谱图的峰强和样品浓度相对应,利用浓度较为合适的标准溶液建立该参数与离子量的关系模型。

具体地,如图5所示,随着所述射频电压地开启时间的延长,检测器检测到的离子强度随之逐渐下降,最终低至检测器无法检测到有效信号。图6所示,随着添加在门电极Gate1上的直流电压电压增强,检测器检测到的离子强度随之逐渐下降,最终低至检测器无法检测到有效信号。

而为了验证使用所述方式控制离子阱中存储的离子数量的有效性,使用两种方式分别检测并一系列浓度的标准溶液,经由图5、图6的关系模型校正后,可得图7、图8所述峰强随浓度的变化曲线图。具体地,采用所述方式得到的变化曲线图的R2系数均大于0.9,表明本发明实施例能够有效调节并检测到进入离子阱质量分析器中的离子,且输出谱图中的强度与样品浓度相对应。

在步骤S105中,根据各项最优初始参数进行质谱分析,输出谱峰强度与样品浓度相对应的质谱图。

具体地,在前期调控非连续进样质谱仪离子阱中存储的离子数量及增益的基础上,能够使得所述非连续进样质谱仪中相应参数调节至最适用于当前待测样品的值,从而能够得到分辨率、质量准确性较好的质谱图。

如图9所示,第一列是未经离子阱中存储的离子数量及增益调控所得的质谱图,第二列是经由控制施加在离子阱上的射频电压的开启时间调节离子阱中存储的离子数量及相应增益调控后所得的质谱图,第三列是经由控制施加在门电极上的直流电压调节离子阱中存储的离子数量及相应增益调控后所得的质谱图。由三列数据对比可知,通过所述方法非连续进样质谱仪能够检测的物质浓度范围能够覆盖5个量级,且能够维持较高的分辨率及质量准确性。

根据本发明实施例提出的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法,基于质谱分析过程中对离子进行操作时的基本原理,通过控制施加在离子阱上的射频电压的开启时间,以及通过控制施加在门电极上的直流电压等参数的方式控制离子阱中存储的离子量,随后通过对峰强进行一定的增益补偿,解决了便携式质谱仪现场测试未知浓度样品和基质样品时因非连续进样方式引起离子阱空间电荷效应的问题,使离子阱中离子的存储数量保持在合适范围,从而能够使得非连续进样质谱仪都能在最佳条件下对每种待分析样品进行检测,且得到的谱峰强度与样品浓度相对应。

其次参照附图描述根据本发明实施例提出的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的系统。

图10是本发明一个实施例的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的系统。

如图10所示,该调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的系统20包括:引入模块201、初始质谱分析模块201、调控模块203、增益补偿模块204和输出模块205。

其中,引入模块100用于预设非连续进样接口的开启时长,将待测样品离子引入离子阱。初始质谱分析模块200用于对待测样品离子进行初始质谱分析,保存并分析各项初始参数,输出初始质谱图信息。调控模块300用于分析进入离子阱内并被存储的离子数量,并改变各项初始参数调控离子阱中存储的离子数量。增益补偿模块400用于通过预实验确定离子阱中存储的离子数量与改变后的各项参数的关系模型,并基于关系模型对调控后得到的谱峰强度进行增益补偿,确定各项优化参数。输出模块500用于根据各项最优初始参数进行质谱分析,输出谱峰强度与样品浓度相对应的质谱图。

进一步地,在本发明的一个实施例中,初始质谱分析模块包括:获取单元,用于获取质谱仪的各项参数特征;初始质谱分析单元,用于根据各项参数特征预设相应的初始值,根据初始值对待测样品离子进行初始质谱分析;记录分析单元,用于记录初始质谱分析的各项初始参数和初始质谱图信息,并分析各项初始参数的调节方向。

进一步地,在本发明的一个实施例中,调控模块中改变各项初始参数调控离子阱中存储的离子数量包括两种调节方式,其中,基于离子阱中存储的离子数量,通过改变离子阱上的射频电压的开启时间,实现对离子阱中存储的离子数量调控;基于离子阱中存储的离子数量,通过改变门电极上的直流电压的幅值,实现对离子阱中存储的离子数量调控。

进一步地,在本发明的一个实施例中,独立或结合使用两种调节方式,且执行次数至少一次。

根据本发明实施例提出的调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的系统,基于质谱分析过程中对离子进行操作时的基本原理,通过控制施加在离子阱上的射频电压的开启时间,以及通过控制施加在门电极上的直流电压等参数的方式控制离子阱中存储的离子量,随后通过对峰强进行一定的增益补偿,从而能够使得非连续进样质谱仪都能在最佳条件下对每种待分析样品进行检测,且得到的谱峰强度与样品浓度相对应。

此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。

在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本发明的限制,本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

调控质谱仪离子阱质量分析器中离子数量的方法及系统专利购买费用说明

专利买卖交易资料

Q:办理专利转让的流程及所需资料

A:专利权人变更需要办理著录项目变更手续,有代理机构的,变更手续应当由代理机构办理。

1:专利变更应当使用专利局统一制作的“著录项目变更申报书”提出。

2:按规定缴纳著录项目变更手续费。

3:同时提交相关证明文件原件。

4:专利权转移的,变更后的专利权人委托新专利代理机构的,应当提交变更后的全体专利申请人签字或者盖章的委托书。

Q:专利著录项目变更费用如何缴交

A:(1)直接到国家知识产权局受理大厅收费窗口缴纳,(2)通过代办处缴纳,(3)通过邮局或者银行汇款,更多缴纳方式

Q:专利转让变更,多久能出结果

A:著录项目变更请求书递交后,一般1-2个月左右就会收到通知,国家知识产权局会下达《转让手续合格通知书》。

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