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申请号
专利名称
CN201911156548.4
一种多功能数显卡尺
CN201910878720.0
一种大型轴承外形尺寸测量装置及测试方法
CN201910836612.7
一种轴承外圈弧形槽最大径检测装置及检测方法
CN201910698107.0
一种中大型立式轴承座孔垂直度和平行度精度的检具
CN201910733199.1
一种锥孔锥度和大径的检测工具
CN201910354851.9
一种轴承内圈径向和轴向圆跳动检测装置及检测方法
CN201910285380.0
一种检测平板平面度和平行度的量具
CN201810780351.7
一种垂直相交孔的孔心距测量装置
CN201810643232.7
一种环形槽直径测量工具
CN201810613126.4
一种定向旋转排列检测装置及检测方法
CN201810776484.7
一种用于确定小口油箱深度液位计
CN201810666161.2
一种孔距检测装置
CN201810057094.4
一种检测弯管空间角度的量具
CN201710849766.0
一种深孔直径及深度检测工具
CN201710849753.3
一种锥度圆度圆柱度圆直径检测工具
CN201710723436.7
一种卷板机卷板内外曲率半径在线智能测量装置
CN201610865041.6
一种可弯折的摩擦块厚度专用量具
CN201510523433.X
一种火炮身管内膛直线度检测设备
CN201510525125.0
大齿轮检测设备
CN201510523872.0
基于加工中心的坐标测量装置
CN201610059316.7
一种测量碳纤维复合材料车身的装置
CN201510903020.4
电脑风扇叶片平整度检测装置及其平整度检测方法
CN201510903374.9
电脑风扇缝隙检测与自动记录装置及缝隙测量方法
CN201510257357.2
全塑型电梯平衡链同步计长测量装置
CN201510837545.2
测量碳纤维复合材料车身构件的装置
CN201510837611.6
测量碳纤维复合材料车身的装置
CN201810384809.7
气缸套外径及圆度综合测量装置及使用方法
CN202010862721.9
一种测量用的位移检测系统
CN201910221002.6
车辆碰撞变形深度测量装置
CN201610967669.7
斜向几何公差测量仪
CN201910241682.8
便携式痕迹角度和长度采集装置
CN201710229283.0
一种全自动农作物株高测量方法及装置
CN201910721811.3
一种带有防滑旋转圆盘的多角度可复位3D扫描装置
CN202010814301.3
一种家具板材表面平整度测量工装
CN201410405069.2
自适应在线快速测量仪
CN201811253886.5
基于涡流检测的多规格产品定位系统和方法
CN202010192990.9
一种建筑面积测量装置
CN201910522389.9
一种基于计算机视觉的叶片面积测量装置和方法
CN201910924319.6
一种金属板材无损检测装置及方法
CN202010016539.1
一种光电式微位移测量装置
CN201810868921.8
多镜面透镜组镜面间距的低相干光干涉测量方法和装置
CN201710616580.0
基于低相干光干涉法的透镜中心厚度的非接触测量方法
CN201610936317.5
一种薄膜厚度测量方法及系统
CN201811215191.8
一种基于移动最小二乘法的三维面形测量方法
CN201511026465.5
一种基于图像的植物叶片面积测量方法
CN201711282528.2
用于对冻土深度进行检测的自适应冻土深度测量装置及测量系统
CN201610907996.3
非对称式光学干涉测量方法及装置
CN201810667638.9
气紧式连接套水平度检测装置及连接套检测方法
CN201810687301.4
无油轴承润滑材料的表面粗糙度精密检测装置
CN202010927629.6
一种具有锯齿沟槽结构的柔性应变传感器及其制备方法
CN201810668205.5
圆管端面水平度两端同测搓动式检测装置及检测方法
CN201611048375.0
一种旋转角度传感器
CN201610220369.2
凸度滚子精密检测装置及凸度滚子精密检测方法
CN201911403022.1
一种用于高精度工件加工用检测装置
CN201810668843.7
机械手隔离环检测机构及检测方法
CN201611106503.2
一种用于测定线圈可动磁芯移动的位移传感器
CN202010696362.4
一种超薄透明型碳纳米纤维膜柔性应变传感器及其制备方法
CN201811082777.1
一种快照式全场白光干涉显微测量方法及其装置
CN201811013435.4
一种基于光谱调制度深度编码的微结构形貌测量方法及其装置
CN202010107472.2
一种双视场光相干断层扫描成像系统及材料厚度检测法
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