专利摘要

本实用新型公开一种用于温度检测的光谱测量装置,测温装置包括壳体，上固定有第一平凸柱面镜、矩形孔板、第二平凸柱面镜、第三平凸柱面镜、平凹柱面镜和三棱镜。本实用新型光谱法测温装置通过第二平凸柱面镜产生平行光，第三平凸柱面镜和平凹柱面镜形成倒置的扩束镜，从平凹柱面镜射出的矩形光射入三棱镜产生光谱，光谱被线阵CCD接收，通过数据处理模块形成光谱数据，将光谱数据导入MATLAB软件中，找出光谱的峰值，通过峰值找出波长，再用黑体辐射定律求对应的温度，采用线光源，采集信号强，得到连续光谱，方便检测温度，采用矩形光源，入射到三棱镜的是窄平行光，能量更集中，亮度更高，更适配线阵CCD接收光谱信号。

权利要求

1.一种用于温度检测的光谱测量装置,测量装置包括壳体(1)，壳体(1)包括上壳体(11)和下壳体(12)，上壳体(11)和下壳体(12)通过螺钉紧固连接，其特征在于，所述壳体(1)的一端设有投射口(111)，上壳体(11)和下壳体(12)内均依次设有对称分布的第一卡块(13)、对称分布的第二卡块(14)、对称分布的第三卡块(15)、对称分布的第四卡块(16)、对称分布的第五卡块(17)和三个第六卡块(18)，三个第六卡块(18)之间阵列分布；

所述第一卡块(13)上固定有第一平凸柱面镜(2)，第一平凸柱面镜(2)靠近投射口(111)，第二卡块(14)上固定有矩形孔板(3)，矩形孔板(3)上设有矩形孔(31)；

所述第三卡块(15)上设有用于产生平行光的第二平凸柱面镜(4)，第四卡块(16)上设有第三平凸柱面镜(5)，第五卡块(17)上设有平凹柱面镜(6)，第六卡块(18)上设有三棱镜(7)；

所述壳体(1)内设有线阵CCD(8)和电路板(9)，电路板(9)上设有数据处理模块，三棱镜(7)产生的光谱被线阵CCD(8)接收，通过数据处理模块形成光谱数据，将光谱时序数据导入MATLAB软件中，通过峰值找出波长，根据维恩位移定律：Tλm＝b，获得温度值。

2.根据权利要求1所述的一种用于温度检测的光谱测量装置,其特征在于，所述上壳体(11)和下壳体(12)通过螺钉紧固连接。

3.根据权利要求1所述的一种用于温度检测的光谱测量装置,其特征在于，所述矩形孔(31)位于矩形孔板(3)的中心位置，矩形孔(31)的宽度小于等于2毫米。

4.根据权利要求1所述的一种用于温度检测的光谱测量装置,其特征在于，所述第一平凸柱面镜(2)、第二平凸柱面镜(4)、第三平凸柱面镜(5)和平凹柱面镜(6)均为柱面镜。

5.根据权利要求1所述的一种用于温度检测的光谱测量装置,其特征在于，所述第一平凸柱面镜(2)、矩形孔板(3)、第二平凸柱面镜(4)和第三平凸柱面镜(5)均平行分布。

6.根据权利要求1所述的一种用于温度检测的光谱测量装置,其特征在于，所述第一平凸柱面镜(2)的凸起面正对矩形孔板(3)。

7.根据权利要求1所述的一种用于温度检测的光谱测量装置,其特征在于，所述第二平凸柱面镜(4)的凸起面正对第三平凸柱面镜(5)。

8.根据权利要求1所述的一种用于温度检测的光谱测量装置,其特征在于，所述第三平凸柱面镜(5)的凸起面正对第二平凸柱面镜(4)，平凹柱面镜(6)的凹面正对三棱镜(7)。

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测量装置，具体是一种用于温度检测的光谱测量装置。

背景技术

有棱镜色散光谱仪，有光栅光谱仪，主要是用来测光谱，不是用来测温度。传统的是使用圆形球面透镜，本方案把它扁平化，用柱面镜替代。火焰经圆形球面透镜成一个点，能量不集中，亮度不高，现有技术中火焰的温度、炼钢炉的温度等检测难度较大。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于温度检测的光谱测量装置，通过投射口正对检测点，第一平凸柱面镜聚焦在矩形孔板上，透过矩形孔，通过第二平凸柱面镜产生平行光，第三平凸柱面镜和平凹柱面镜形成倒置的扩束镜，从平凹柱面镜射出的矩形光射入三棱镜产生光谱，光谱被线阵CCD接收，通过数据处理模块形成光谱数据，将光谱数据导入MATLAB软件中，找出光谱的峰值，通过峰值找出波长，再用黑体辐射定律求对应的温度，采用线光源，采集信号强，得到连续光谱，方便检测温度，采用矩形光源，入射到三棱镜的是窄平行光，能量更集中，亮度更高，更适配线阵CCD接收光谱信号。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现：

一种用于温度检测的光谱测量装置,测量装置包括壳体，壳体包括上壳体和下壳体，上壳体和下壳体通过螺钉紧固连接，所述壳体的一端设有投射口，上壳体和下壳体内均依次设有对称分布的第一卡块、对称分布的第二卡块、对称分布的第三卡块、对称分布的第四卡块、对称分布的第五卡块和三个第六卡块，三个第六卡块之间阵列分布。

所述第一卡块上固定有第一平凸柱面镜，第一平凸柱面镜靠近投射口，第二卡块上固定有矩形孔板，矩形孔板上设有矩形孔。

所述第三卡块上设有用于产生平行光的第二平凸柱面镜，第四卡块上设有第三平凸柱面镜，第五卡块上设有平凹柱面镜，第六卡块上设有三棱镜。

所述壳体内设有线阵CCD和电路板，电路板上设有数据处理模块，三棱镜产生的光谱被线阵CCD接收，通过数据处理模块形成光谱数据，将光谱数据导入MATLAB软件中形成坐标系，通过峰值找出波长，根据维恩位移定律：Tλm＝b，获得温度值。

进一步的，所述上壳体和下壳体通过螺钉紧固连接。

进一步的，所述矩形孔位于矩形孔板的中心位置，矩形孔的边长小于等于2 毫米。

进一步的，所述第一平凸柱面镜、第二平凸柱面镜、第三平凸柱面镜和平凹柱面镜均为柱面镜。

进一步的，所述第一平凸柱面镜、矩形孔板、第二平凸柱面镜和第三平凸柱面镜均平行分布。

进一步的，所述第一平凸柱面镜的凸起面正对矩形孔板。

进一步的，所述第二平凸柱面镜的凸起面正对第三平凸柱面镜。

进一步的，所述第三平凸柱面镜的凸起面正对第二平凸柱面镜，平凹柱面镜的凹面正对三棱镜。

本实用新型的有益效果：

1、本实用新型光谱法测量装置通过投射口正对检测点，第一平凸柱面镜聚焦在矩形孔板上，透过矩形孔，通过第二平凸柱面镜产生平行光，第三平凸柱面镜和平凹柱面镜形成倒置的扩束镜，从平凹柱面镜射出的矩形光射入三棱镜产生光谱，光谱被线阵CCD接收，通过数据处理模块形成光谱数据，将光谱数据导入MATLAB软件中，找出光谱的峰值，通过峰值找出波长，再用黑体辐射定律求对应的温度，采用线光源，采集信号强，得到连续光谱，方便检测温度；

2、本实用新型光谱法测量装置采用矩形光源，入射到三棱镜的是窄平行光，能量更集中，亮度更高，更适配线阵CCD接收光谱信号；

3、本实用新型光谱法测量装置结构简单，使用方便，适于实用。

附图说明

下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。

图1是本实用新型测量装置结构示意图；

图2是本实用新型测量装置剖视图；

图3是本实用新型测量装置部分结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

一种用于温度检测的光谱测量装置,测量装置包括壳体1，如图1、图2、图 3所示，壳体1包括上壳体11和下壳体12，上壳体11和下壳体12通过螺钉紧固连接，壳体1的一端设有投射口111，上壳体11和下壳体12内均依次设有对称分布的第一卡块13、对称分布的第二卡块14、对称分布的第三卡块15、对称分布的第四卡块16、对称分布的第五卡块17和三个第六卡块18，三个第六卡块18之间阵列分布。

第一卡块13上固定有第一平凸柱面镜2，第一平凸柱面镜2靠近投射口111，第二卡块14上固定有矩形孔板3，矩形孔板3上设有矩形孔31，矩形孔31位于矩形孔板3的中心位置，矩形孔31的边长小于等于2毫米。

第三卡块15上设有用于产生平行光的第二平凸柱面镜4，第四卡块16上设有第三平凸柱面镜5，第五卡块17上设有平凹柱面镜6，第六卡块18上设有三棱镜7。

第一平凸柱面镜2、第二平凸柱面镜4、第三平凸柱面镜5和平凹柱面镜6 均为柱面镜，第一平凸柱面镜2、矩形孔板3、第二平凸柱面镜4和第三平凸柱面镜5均平行分布，第一平凸柱面镜2的凸起面正对矩形孔板3，第二平凸柱面镜4的凸起面正对第三平凸柱面镜5，第三平凸柱面镜5的凸起面正对第二平凸柱面镜4，平凹柱面镜6的凹面正对三棱镜7。

光源经过第一平凸柱面镜2成成线状光束，穿过矩形孔31构成矩形面光源，第二平凸柱面镜4产生平行光，第三平凸柱面镜5和平凹柱面镜6形成倒置的扩束镜，从平凹柱面镜6射出的矩形光射入三棱镜7产生光谱。

壳体1内设有线阵CCD8和电路板9，电路板9上设有数据处理模块，三棱镜7产生的光谱被线阵CCD8接收，通过数据处理模块形成光谱数据，将光谱数据导入MATLAB软件中，找出光谱的峰值，通过峰值找出波长，根据黑体辐射规律，当黑体的温度升高时，单色辐出度的最大值向短波方向移动，根据维恩位移定律：

Tλm＝b；b＝2.8978b＝2.8978×10-3m·k

λmT＝2897.8μm·K

其中：T温度；K开尔文；λm为最大峰值对应的波长。

从而获得光源处的温度。

使用时，通过投射口111正对检测点，第一平凸柱面镜2聚焦在矩形孔板3 上，透过矩形孔31，通过第二平凸柱面镜4产生平行光，第三平凸柱面镜5和平凹柱面镜6形成倒置的扩束镜，从平凹柱面镜6射出的矩形光射入三棱镜7 产生光谱，光谱被线阵CCD8接收，通过数据处理模块形成光谱数据，将光谱数据导入MATLAB软件中，找出光谱的峰值，通过峰值找出波长，再用黑体辐射定律求对应的温度。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。

一种用于温度检测的光谱测量装置专利购买费用说明

Q：办理专利转让的流程及所需资料

A：专利权人变更需要办理著录项目变更手续，有代理机构的，变更手续应当由代理机构办理。

1：专利变更应当使用专利局统一制作的“著录项目变更申报书”提出。

2：按规定缴纳著录项目变更手续费。

3：同时提交相关证明文件原件。

4：专利权转移的，变更后的专利权人委托新专利代理机构的，应当提交变更后的全体专利申请人签字或者盖章的委托书。

Q:专利著录项目变更费用如何缴交

A：（1）直接到国家知识产权局受理大厅收费窗口缴纳,（2）通过代办处缴纳，（3）通过邮局或者银行汇款,更多缴纳方式

Q：专利转让变更，多久能出结果

A：著录项目变更请求书递交后，一般1-2个月左右就会收到通知，国家知识产权局会下达《转让手续合格通知书》。