专利摘要

本实用新型公开了一种光强测试装置，具体包括激光准直部分和激光测试部分；激光准直部分，是固定激光器和准直透镜发生位移的传动装置，能够保证准直装置的位移精确，使实验误差减小，末端连接上步进电机，使准直结构发生位移，可以更好的测量激光器的光强；激光测试部分让测试探头在准直之后的垂直截面光斑上沿光斑的长轴和短轴移动，达到测试光强分布的目的；设备简单，而且测试系统在测试时间快、测试误差小且测试精度高。

权利要求

1.一种光强测试装置，其特征在于，具体包括激光准直部分和激光测试部分；

所述激光准直部分包括框架，框架内设置丝杠(8)，丝杠(8)的一端连接有步进电机，丝杠(8)上套接有平台(1)，平台(1)内设置有与丝杠(8)配合的螺纹通孔，还包括两个导杆(2)，两个导杆(2)穿过平台(1)位于丝杠(8)的两侧，且导杆(2)与平台(1)活动连接，导杆(2)与丝杠(8)平行且固定于框架两端，所述平台(1)上位于丝杠(8)的轴向依次设置有激光器(3)与准直透镜(4)，激光器(3)的光源和准直透镜(4)的中心在同一水平线上，激光器(3)位于准直透镜(4)的焦距处；

所述激光测试部分包括底板(5)，底板(5)一端与框架固定连接，且底板(5)位于丝杠(8)端部，底板(5)两侧对称设置有方块(13)，方块(13)之间连接有丝杠A(9)，丝杠A(9)一端连接有电机，丝杠A(9)与丝杠(8)垂直，丝杠A(9)上套接有与丝杠A(9)配合的滑块(6)，滑块(6)紧贴底板(5)，滑块(6)远离框架的一侧的上表面设置有导杆结构，导杆结构包括与滑块(6)垂直的丝杠B(7)，丝杠B(7)端部连接有电机，以及位于丝杠B(7)两侧的平行导杆A(10)，还包括套接在丝杠B(7)与导杆A(10)上的测试探头(12)，测试探头(12)内设置有与丝杠B(7)配合的螺纹。

2.根据权利要求1所述的一种光强测试装置，其特征在于，所述平台(1)上设置有凸台，凸台一侧设置有凹槽，激光器(3)固定于凹槽内，与凸台凹槽相对的一侧设置有圆环，准直透镜(4)嵌入圆环内。

3.根据权利要求1所述的一种光强测试装置，其特征在于，所述滑块(6)为工字型滑块，滑块(6)腹板与丝杠A(9)垂直，且滑块(6)两侧的凹槽在滑块(6)位移时与方块(13)嵌合。

4.根据权利要求1所述的一种光强测试装置，其特征在于，所述滑块(6)一侧表面开设有三个圆孔，三个圆孔位于同一条直线上，且与丝杠A(9)平行，导杆结构固定于三个圆孔内，丝杠B(7)位于中间圆孔，导杆A(10)分别伸入两侧圆孔，且丝杠B(7)直径大于导杆A(10)。

5.根据权利要求1所述的一种光强测试装置，其特征在于，所述测试探头(12)通过测试探头固定装置与导杆结构相连，测试探头固定装置包括滑块A(11)，滑块A(11)穿过丝杠B(7)与导杆A(10)，且滑块A(11)上还设置有与丝杠B(7)配合的螺纹通孔，滑块A(11)与激光器(3)相对的一侧设置有测试探头框，测试探头(12)位于测试探头框内。

6.根据权利要求1所述的一种光强测试装置，其特征在于，所述准直透镜(4)位于激光器(3)与测试探头(12)之间。

说明书

技术领域

本实用新型属于机械设计技术领域，涉及一种光强测试装置。

背景技术

现有激光器光强测试方法有分布式光度计：点式亮度计或者光谱辐射度计放在光源的远场采集远场光强数据。光源在水平和竖直两轴方向上转动，所以它周围整个空间内的数据都能收集到，最后生成光强分布配光曲线数据。成像亮度计：将待测灯打在远场的屏幕上，用成像亮度计抓取待测灯打在屏幕的光照度分布，并通过软件计算得到在此距离下待测灯的光强分布配光曲线。以上测试方式缺少自动化控制部分的设计，会影响测试精度，使误差偏大。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种光强测试装置，解决了现有的激光器光强测试系统普遍存在测试时间缓慢、测试误差较大且测试精度不高的问题。

本实用新型所采用的技术方案是，一种光强测试装置，具体包括激光准直部分和激光测试部分；

激光准直部分包括框架，框架内设置丝杠，丝杠的一端连接有步进电机，丝杠上套接有平台，平台内设置有与丝杠配合的螺纹通孔，还包括两个导杆，两个导杆穿过平台位于丝杠的两侧，且导杆与平台活动连接，导杆与丝杠平行且固定于框架两端，平台上位于丝杠的轴向依次设置有激光器与准直透镜，激光器的光源和准直透镜的中心在同一水平线上，激光器位于准直透镜的焦距处；

激光测试部分包括底板，底板一端与框架固定连接，且底板位于丝杠端部，底板两侧对称设置有方块，方块之间连接有丝杠A，丝杠A一端连接有电机，丝杠A与丝杠垂直，丝杠A上套接有与丝杠A配合的滑块，滑块紧贴底板，滑块远离框架的一侧的上表面设置有导杆结构，导杆结构包括与滑块垂直的丝杠B，丝杠B端部连接有电机，以及位于丝杠B两侧的平行导杆A，还包括套接在丝杠B与导杆A上的测试探头，测试探头内设置有与丝杠B配合的螺纹。

本实用新型的特点还在于：

其中平台上设置有凸台，凸台一侧设置有凹槽，激光器固定于凹槽内，与凸台凹槽相对的一侧设置有圆环，准直透镜嵌入圆环内；

其中滑块为工字型滑块，滑块腹板与丝杠A垂直，且滑块两侧的凹槽在滑块位移时与方块嵌合；

其中滑块一侧表面开设有三个圆孔，三个圆孔位于同一条直线上，且与丝杠A平行，导杆结构固定于三个圆孔内，丝杠B位于中间圆孔，导杆A分别伸入两侧圆孔，且丝杠B直径大于导杆A；

其中测试探头通过测试探头固定装置与导杆结构相连，测试探头固定装置包括滑块A，滑块A穿过丝杠B与导杆A，且滑块A上还设置有与丝杠B配合的螺纹通孔，滑块A与激光器相对的一侧设置有测试探头框，测试探头位于测试探头框内；

其中准直透镜位于激光器与测试探头之间。

本实用新型的有益效果是：

本实用新型设计的激光器光强测试系统通过设计测试系统的激光准直部分和光强测试部分的机械结构，采用AT89C51单片机设计控制两个步进电机的正反转实现光强的自动化测试，该自动测试系统的反馈精度在12μm左右，整个系统机械结构简单，不仅提高了测试效率而且对上述问题得到了一定程度的改善。

附图说明

图1是本实用新型的一种光强测试装置中整体结构装配图示意图；

图2是本实用新型的一种光强测试装置中激光准直部分激光器准直结构示意图；

图3是本实用新型的一种光强测试装置中激光测试部分的滑块结构示意图；

图4是本实用新型的一种光强测试装置中激光测试部分的导轨座结构示意图；

图5是本实用新型的一种光强测试装置中激光测试部分的底座结构示意图；

图6是本实用新型的一种光强测试装置中激光测试部分的导杆结构示意图；

图7是本实用新型的一种光强测试装置中激光测试部分探头固定装置结构示意图。

图中，1.平台，2.导杆，3.激光器，4.准直透镜，5.底板，6.滑块，7.丝杠B，8.丝杠，9.丝杠A，10.导杆A，11.滑块A，12.测试探头，13.方块。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行详细说明。

本实用新型提供了一种光强测试装置，如图1所示，具体包括激光准直部分和激光测试部分；

如图4所示，激光准直部分包括框架，框架内设置丝杠8，丝杠8的一端连接有步进电机，丝杠8上套接有平台1，平台1内设置有与丝杠8配合的螺纹通孔，还包括两个导杆2，两个导杆2穿过平台1位于丝杠8的两侧，且导杆2与平台1活动连接，导杆2与丝杠8平行且固定于框架两端，平台1上位于丝杠8的轴向依次设置有激光器3与准直透镜4，如图2所示，平台1上设置有凸台，凸台一侧设置有凹槽，激光器3固定于凹槽内，与凸台凹槽相对的一侧设置有圆环，准直透镜4嵌入圆环内，激光器3的光源和准直透镜4的中心在同一水平线上，激光器3位于准直透镜4的焦距处；

丝杠8是固定激光器3和固定准直透镜4发生位移的传动装置，它能够保证准直装置的位移精确，使实验误差减小，末端连接上步进电机，使准直结构发生位移；

激光器3准直后能够控制它整体的前后移动，其中准直装置和丝杠8使用螺旋配合，当丝杠8转动时，准直装置就会沿着图4导轨座发生位移，这个装置的作用是可以更好的测量激光器3的光强。

激光测试部分包括底板5，底板5一端与框架固定连接，且底板5位于丝杠8端部，如图5所示，底板5两侧对称设置有方块13，负责装配丝杠A9，丝杠A9一端连接有电机，丝杠A9与丝杠8垂直，丝杠A9上套接有与丝杠A9配合的滑块6，电机带动丝杠A9转动，当丝杠A9旋转时，该滑块6发生位移，带动上半部分，滑块6紧贴底板5，如图3所示，滑块6为工字型滑块，滑块6腹板与丝杠A9垂直，且滑块6两侧的凹槽在滑块6位移时与方块13嵌合；

如图6所示，滑块6远离框架的一侧的上表面设置有导杆结构，导杆结构包括与滑块6垂直的丝杠B7，丝杠B7端部连接有电机，以及位于丝杠B7两侧的平行导杆A10，滑块6一侧表面开设有三个圆孔，三个圆孔位于同一条直线上，且与丝杠A9平行，导杆结构固定于三个圆孔内，丝杠B7位于中间圆孔，导杆A10分别伸入两侧圆孔，且丝杠B7直径大于导杆A10，还包括套接在丝杠B7与导杆A10上的测试探头12，如图7所示，测试探头12通过测试探头固定装置与导杆结构相连，测试探头固定装置包括滑块A11，滑块A11穿过丝杠B7与导杆A10，且滑块A11上还设置有与丝杠B7配合的螺纹通孔，丝杠B7在转动过程中会带动滑块A11进行位移，导杆A10辅助定位，滑块A11与激光器相对的一侧设置有测试探头框，测试探头12位于测试探头框内，准直透镜位于激光器与测试探头12之间。

激光测试部分在两个步进电机和丝杠B7和丝杠A9的作用下可以使探头在水平和竖直方向发生平面位移，从而达到测试所需结果的目的。

本实用新型设计的激光器光强测试系统是让测试探头12在准直之后的垂直截面光斑上沿光斑的长轴和短轴移动，达到测试光强分布的目的。通过转动测试结构上半部分的丝杠B7，使测试探头12向下移动，当移动到光斑外时，使丝杠B7旋转方向相反，此时探头向上移动，当达到椭圆光斑长轴的中间时，停止旋转；同时，旋转测试结构底部的丝杠A9，使探头沿着椭圆光斑截面的短轴正向移动，当移动到光斑之外时，反转丝杠A9，使探头沿着光斑椭圆的短轴反向移动，当再次移动到光斑之外时，停止旋转，这样就完成了一轮测试，刚好测试了光斑长轴和短轴的光强分布，同时可以绘制曲线图。

一种光强测试装置专利购买费用说明

Q：办理专利转让的流程及所需资料

A：专利权人变更需要办理著录项目变更手续，有代理机构的，变更手续应当由代理机构办理。

1：专利变更应当使用专利局统一制作的“著录项目变更申报书”提出。

2：按规定缴纳著录项目变更手续费。

3：同时提交相关证明文件原件。

4：专利权转移的，变更后的专利权人委托新专利代理机构的，应当提交变更后的全体专利申请人签字或者盖章的委托书。

Q:专利著录项目变更费用如何缴交

A：（1）直接到国家知识产权局受理大厅收费窗口缴纳,（2）通过代办处缴纳，（3）通过邮局或者银行汇款,更多缴纳方式

Q：专利转让变更，多久能出结果

A：著录项目变更请求书递交后，一般1-2个月左右就会收到通知，国家知识产权局会下达《转让手续合格通知书》。