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一种基于双线结构消减SNSPD暗计数的设计

一种基于双线结构消减SNSPD暗计数的设计

IPC分类号 : G01J11/00

申请号
CN202010557380.4
可选规格
  • 专利类型: 发明专利
  • 法律状态: 有权
  • 申请日: 2020-06-18
  • 公开号: 111721429B
  • 公开日: 2020-09-29
  • 主分类号: G01J11/00
  • 专利权人: 南京大学

专利摘要

本发明公开了一种基于双线结构消减SNSPD暗计数的设计,将2根氮化铌纳米线不交叉的相互缠绕,构成双线结构的超导纳米线单光子探测器SNSPD,用一根纳米线调控另一根纳米线的行为,调节偏置电流接近超导临界电流;采用光纤将光信号引入探测器光敏区,通过2根纳米线分别输出2路信号,使两根纳米线之间的暗计数相互激发,经电压比较器和异或门,消减暗计数信号,保留光子响应信号;通过使用双线结构SNSPD独特性能,能有效抑制探测器暗计数的产生,后期通过工艺提升,进一步提高SNSPD暗计数的耦合效率,有望实现完全抑制SNSPD系统的暗计数,极大提升探测器的信噪比。

权利要求

1.一种基于双线结构消减SNSPD暗计数的设计,其特征在于,包括:将2根氮化铌(NbN)纳米线不交叉的相互缠绕,构成双线结构的超导纳米线单光子探测器SNSPD,用一根纳米线调控另一根纳米线的行为,调节偏置电流接近超导临界电流;采用光纤将光信号引入探测器光敏区,通过2根纳米线分别输出2路信号,保持2根纳米线之间的光响应不耦合,使一根纳米线将自身的暗计数耦合到另一根纳米线,在时序上同时输出,以使两根纳米线之间的暗计数相互激发,经电压比较器和异或门,消减暗计数信号,保留光子响应信号。

2.根据权利要求1所述的基于双线结构消减SNSPD暗计数的设计,其特征在于,所述将2根氮化铌(NbN)纳米线不交叉的相互缠绕,包括:将2根纳米线并排排列,从左到右的长度为10至20μm,宽度为50~80nm,厚度设计为5~8nm,2根纳米线的最小间距为50~120nm,最大间距为300~400nm,缠绕周期为9~20次。

3.根据权利要求1或2所述的基于双线结构消减SNSPD暗计数的设计,其特征在于,所述双线结构,包括:纳米线转角处的外部纳米线包围内部纳米线,转角内部半径为

200~250nm,外部半径为300~400nm.单根线条宽度80nm,2根纳米线使用4根电极分别引出,缠绕周期为9次。

4.根据权利要求1所述的基于双线结构消减SNSPD暗计数的设计,其特征在于,所述超导纳米线单光子探测器SNSPD,包括:纳米线芯片边长5mm,中心区域为纳米线结构,周围分布11根由宽到窄的渐变电极,最宽处0.7mm,连接外部电路,最窄处0.01mm,连接纳米线。

5.根据权利要求1所述的基于双线结构消减SNSPD暗计数的设计,其特征在于,所述超导纳米线单光子探测器SNSPD,包括:采用磁控溅射沉积NbN薄膜、电子束曝光制备纳米线条、反应离子刻蚀转移纳米线条、紫外光刻制备金电极、等离子增强化学气象沉积制备上层反射腔、磁控溅射生长上层金反射层的工艺制备纳米线,使用扫描电子显微镜观察纳米线表面形貌,若纳米线边缘清晰、线条粗糙度小,则符合设计要求。

6.根据权利要求1所述的基于双线结构消减SNSPD暗计数的设计,其特征在于,所述调节偏置电流接近超导临界电流,包括:断开一根纳米线不工作,测量另一根纳米线的伏安特性,在200mK温度下,使两根纳米线的超导临界电流为11.7uA,回滞电流为2.0uA。

7.根据权利要求1所述的基于双线结构消减SNSPD暗计数的设计,其特征在于,所述经电压比较器和异或门,包括:将2路包含光子响应信号和暗计数信号的脉冲信号输入电压比较器,整形成TTL信号输入异或门,将暗计数导致的两路高电平信号输出为低电平,将没有光子响应导致的两路低电平信号输出为低电平,将光子响应导致的一路高电平、一路低电平的信号输出为高电平。

说明书

技术领域

本发明属于超导单光子探测技术领域,具体涉及一种暗计数消减技术。

背景技术

超导纳米线单光子探测器(SNSPD)是一种高效、快速、准确的探测单光子的新型光探测器,感光部分为使用超导薄膜材料制成的纳米线蜿蜒结构。

探测器工作时,被偏置在稍低于其超导临界电流的位置,当纳米线吸收光子后,吸收区域的超导态被破坏,产生热岛,热岛区域在电流焦耳热的协助下,增长到一定范围,经纳米线自身和衬底的冷却,热岛消失,纳米线恢复到初始状态。

探测器吸收光子的过程,在电路上表现为快速上升、随后指数衰减的电脉冲,通过将此脉冲信号放大,探测器就可以鉴别单光子的到达。

暗计数(Dark Count Rate,DCR)是指,在没有光子入射时,SNSPD输出的响应脉冲,标志着SNSPD器件的本底噪声,一般将SNSPD的暗计数分为背景辐射暗计数和本征暗计数,背景辐射暗计数主要是光纤的背景热辐射和外界干扰造成的,本征暗计数的成因目前还没有得到明确的实验证实,理论物理学家们围绕这个问题,给出了不同的解释。

目前大家比较能接受的暗计数的形成,有基于磁通-反磁通破对和基于纳米线边界磁通穿越两种,背景辐射暗计数一般在低偏置电流时起作用,计数率相对较低,一般为几到几十Hz,本征暗计数在偏置电流接近超导临界电流时起作用,计数率相对较高,而且随着电流增加,本征暗计数剧烈增加。

暗计数会降低系统的信噪比,降低SNSPD输出信号的可靠性,当SNSPD应用于通信系统中,DCR会大大增加系统的误码率,因此,降低SNSPD暗计数一直是研究的热门方向。

对于背景辐射暗计数,目前常用的方法主要是,在低温下采用光纤滤波器的方式,消除背景辐射,而对于本征暗计数,目前为止还没有比较好的通用方法。

发明内容

本发明为了解决现有技术存在的问题,提出了一种双线结构SNSPD器件,制备2根相互缠绕而又不相交叉的纳米线,为了实现上述目的,通过器件的独特性能,结合外部电路的处理,能够有效的抑制SNSPD系统本征暗计数的影响,本发明采用了以下技术方案。

将2根氮化铌纳米线不交叉的相互缠绕,构成双线结构的超导纳米线单光子探测器SNSPD,用一根纳米线调控另一根纳米线的行为,调节偏置电流接近超导临界电流;采用光纤将光信号引入探测器光敏区,通过2根纳米线分别输出2路信号,使两根纳米线之间的暗计数相互激发,经电压比较器和异或门,消减暗计数信号,保留光子响应信号。

进一步的,将两根氮化铌纳米线不交叉的相互缠绕,包括:将2根纳米线并排排列,从左到右的长度为10至20μm,宽度为50~80nm,厚度设计为5~8nm,2根纳米线的最小间距为50~120nm,最大间距为300~400nm,缠绕周期为9~20次。

纳米线转角处的外部纳米线包围内部纳米线,转角内部半径为200~250nm,外部半径为300~400nm.单根线条宽度80nm,2根纳米线使用4根电极分别引出,缠绕周期为9次。

纳米线芯片边长5mm,中心区域为纳米线结构,周围分布11根由宽到窄的渐变电极,最宽处0.7mm,连接外部电路,最窄处0.01mm,连接纳米线。

进一步的,采用磁控溅射沉积NbN薄膜、电子束曝光制备纳米线条、反应离子刻蚀转移纳米线条、紫外光刻制备金电极、等离子增强化学气象沉积制备上层反射腔、磁控溅射生长上层金反射层的工艺制备纳米线,使用扫描电子显微镜观察纳米线表面形貌,若纳米线边缘清晰、线条粗糙度小,则符合设计要求。

进一步的,断开一根纳米线不工作,测量另一根纳米线的伏安特性,在200mK温度下,使两根纳米线的超导临界电流为11.7uA,回滞电流为2.0uA。

保持2根纳米线之间的光响应不耦合,使一根纳米线将自身的本征暗计数耦合到另一根纳米线,在时序上同时输出。

将2路包含光子响应信号和暗计数信号的脉冲信号输入电压比较器,整形成TTL信号输入异或门,将暗计数导致的两路高电平信号输出为低电平,将没有光子响应导致的两路低电平信号输出为低电平,将光子响应导致的一路高电平、一路低电平的信号输出为高电平。

本发明通过使用双线结构SNSPD独特性能,能有效抑制探测器暗计数的产生,后期通过工艺提升,进一步提高SNSPD暗计数的耦合效率,有望实现完全抑制SNSPD系统的暗计数,极大提升探测器的信噪比。

附图说明

图1是双线结构SNSPD和传统SNSPD在结构上的区别,图2是纳米线的转角设计,图3是双线结构纳米线芯片结构,图4是纳米线的偏置IV特性曲线,图5是双线结构消减暗计数的电路设计,图6是暗计数的增长曲线,图7是暗计数的耦合波形,图8是光响应的增长曲线,图9是纳米线的制备流程,图10是探测器输出脉冲,图11是两种暗计数在器件上的反映,图12是纳米线表面形貌。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的技术方案做具体的说明。

双线结构SNSPD是由两根相互缠绕而又不交叉的氮化铌(NbN)纳米线构成的器件,双线结构SNSPD与传统的纳米线结构不同之处在于,传统的纳米线为单根纳米线缠绕。

探测器工作时被偏置在稍低于其超导临界电流的位置,当纳米线吸收光子后,吸收区域的超导态被破坏,产生热岛,热岛区域在电流焦耳热的协助下增长到一定范围,随后经过纳米线自身和衬底的冷却,热岛区域消失,纳米线恢复到初始状态,探测器吸收光子的过程在电路上表现为快速上升,随后指数衰减的电脉冲,通过将此脉冲信号放大,探测器就可以鉴别单光子的到达,探测器输出脉冲如图10所示。

背景辐射暗计数一般在低偏置电流时起作用,计数率相对比较低,一般为几到几十Hz,本征暗计数在偏置电流接近超导临界电流的时候起作用,计数率相对较高,而且随着电流增加,本征暗计数剧烈增加,两种暗计数在器件上的具体反映如图11所示。

双线结构SNSPD和传统SNSPD的区别如图1所示,为了叙述方便,将两根纳米线的编号分别定义为1号和2号。

两根纳米线并排排列,从左到右的长度设计为10~20μm,纳米线的线宽设计为50~80nm,纳米线的最短间距设计为50~120nm,最长间距设计为300~400nm,厚度设计为5~8nm,缠绕周期设计为9~20次。

纳米线的转角处设计如图2所示,外部的纳米线包围内部的纳米线,转角内部半径设计为200~250nm,外部半径设计为300~400nm.单根线条宽度80nm,两根纳米线使用4根电极分别引出,缠绕周期设计为9次,避免超导电流的拥挤效应。

双线结构纳米线芯片结构如图3所示,芯片边长5mm,中心区域为纳米线结构,周围为11根金电极,实际使用的只有1、3、9、11四根电极,其他电极备用,电极由宽到窄,设计为渐变结构,最宽处0.7mm,连接外部电路,最窄处0.01mm,连接纳米线。

纳米线制备流程如图9所示,磁控溅射沉积NbN薄膜、电子束曝光制备纳米线条、反应离子刻蚀转移纳米线条、紫外光刻制备金电极、等离子增强化学气象沉积(PECVD)制备上层反射腔、磁控溅射生长上层金反射层,纳米线制备完成后,使用扫描电子显微镜观察纳米线表面形貌,如图12所示,若纳米线边缘清晰、线条粗糙度小,则符合设计要求。

器件制备完毕,表征纳米线的IV特性曲线,如图4所示,一根纳米线不工作,测量另一根纳米线的伏安特性,在200mK温度下,两根纳米线的超导临界电流为11.7uA,回滞电流为2.0uA。

使用双线结构SNSPD中的一根纳米线来调控另一根纳米线的行为,如暗计数、IV特性、光响应等特征,调节偏置电流接近超导临界电流,保持光响应不耦合,使1号纳米线将自身的本征暗计数耦合到2号纳米线。

如图6所示,在50mK温度时,当1号纳米线的偏置电流从11.5uA变化到12uA时,产生的基本都是本征暗计数,纳米线2的暗计数增加量分别以不同的增长速率以S型曲线增长。

在纳米线2的偏置电流接近临界电流时,DCR增量接近饱和,将1号纳米线的暗计数一定时,2号纳米线暗计数增加量与1号纳米线暗计数的比值,定义暗计数耦合效率η12。

暗计数耦合效率约为0.5,也就是说,约有一半的1号纳米线的本征暗计数能激发2号纳米线产生相应的DCR。

如图7所示,示波器捕捉到暗计数相互耦合的波形,两根纳米线之间的暗计数同时出现在示波器中,在时域上,两根纳米线的暗计数几乎同时出现,时间差在1ns以下。

与暗计数能相互耦合的情况所不同的是,1号纳米线的光响应基本不能增加2号纳米的光响应计数率,如图8所示,2号纳米线随着1号纳米线偏置电流变化的光响应变化,所用光强为13pW,光波长为1064nm,器件所处温度为2.5K,2号光响应随着1号光响应的增加没有明显的增长趋势,两根纳米线之间的光响应基本没有耦合现象。

利用双线结构SNSPD中,纳米线之间的暗计数存在耦合,耦合效率为50%,而光响应不存在耦合的现象,设计电路如图5所示,采用光纤将光信号引入探测器光敏区,使探测器工作在2.5K的温度环境。

通过2根纳米线分别输出2路信号,用1号和2号脉冲分别表示,信号中包含光子响应信号和暗计数信号;将2路信号输入电压比较器,整形成TTL信号,用4号和5号脉冲表示SNSPD输出的暗计数信号,3号和6号脉冲表示光子响应信号,将2路信号输入异或门。

由于两根纳米线之间的暗计数相互激发,在时序上同时输出,而光子响应不会相互影响,在时序上随机输出,利用异或门的逻辑运算,两路信号同时为高电平的时候,异或门输出为低电平,对应暗计数的情况;两路信号只有一路为高电平的时候,异或门输出为高电平,对应光子响应的情况;两路信号都为低电平的时候,异或门输出为低电平,对应没有光子响应,也没有暗计数的情况。

通过这样的方式,在异或门输出端,有效抑制SNSPD的暗计数输出,最终输出只有3号和6号脉冲,也就是光子响应信号。

上述作为本发明的实施例,并不限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均包含在本发明的保护范围之内。

一种基于双线结构消减SNSPD暗计数的设计专利购买费用说明

专利买卖交易资料

Q:办理专利转让的流程及所需资料

A:专利权人变更需要办理著录项目变更手续,有代理机构的,变更手续应当由代理机构办理。

1:专利变更应当使用专利局统一制作的“著录项目变更申报书”提出。

2:按规定缴纳著录项目变更手续费。

3:同时提交相关证明文件原件。

4:专利权转移的,变更后的专利权人委托新专利代理机构的,应当提交变更后的全体专利申请人签字或者盖章的委托书。

Q:专利著录项目变更费用如何缴交

A:(1)直接到国家知识产权局受理大厅收费窗口缴纳,(2)通过代办处缴纳,(3)通过邮局或者银行汇款,更多缴纳方式

Q:专利转让变更,多久能出结果

A:著录项目变更请求书递交后,一般1-2个月左右就会收到通知,国家知识产权局会下达《转让手续合格通知书》。

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